[發(fā)明專利]數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010045973.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111507054A | 公開(公告)日: | 2020-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松山覺;松村哲;中牟田和周;松村俊樹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社村田制作所 |
| 主分類號(hào): | G06F30/36 | 分類號(hào): | G06F30/36;G06F30/32 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 趙琳琳 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)字 輸出 監(jiān)視 電路 以及 高頻 前端 | ||
本發(fā)明提供一種數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路,能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結(jié)構(gòu)中容易地進(jìn)行模擬電路的測(cè)試。數(shù)字輸出監(jiān)視電路具備:第一數(shù)字電路(110a),進(jìn)行串行數(shù)據(jù)與并行數(shù)據(jù)的相互變換;第二數(shù)字電路(120),對(duì)從第一數(shù)字電路(110a)輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼,生成模擬電路(200)用的控制信號(hào);以及第三數(shù)字電路(130),至少將模擬電路(200)用的控制信號(hào)變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。第一數(shù)字電路(110a)將從第三數(shù)字電路(130)輸出的數(shù)據(jù)變換為串行數(shù)據(jù),作為輸出數(shù)據(jù)信號(hào)輸出。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。
背景技術(shù)
在下述的專利文獻(xiàn)1記載了如下的半導(dǎo)體集成電路,即,通過切換并輸出系統(tǒng)LSI內(nèi)的內(nèi)部信號(hào),從而能夠效率良好地進(jìn)行調(diào)試(debug)。
在先技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開2002-24201號(hào)公報(bào)
例如,對(duì)射頻的高頻信號(hào)進(jìn)行放大的高頻前端電路一般來說是如下的結(jié)構(gòu),即,在模塊內(nèi)混合搭載了包含處理器等的數(shù)字電路和包含放大電路等的模擬電路。像這樣,在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的模塊中,在進(jìn)行模擬電路用的控制信號(hào)的測(cè)試的情況下,需要在處理器、模塊內(nèi)設(shè)置測(cè)試用的端子,或者在由于處理器的IC芯片的安裝面積、電路面積等的限制而不能設(shè)置測(cè)試用的端子的情況下,需要根據(jù)模擬電路的動(dòng)作間接地進(jìn)行測(cè)試。模擬電路的動(dòng)作測(cè)試以模擬電路中的全部的動(dòng)作條件進(jìn)行,但測(cè)試時(shí)間將變長(zhǎng),此外,在保證質(zhì)量的觀點(diǎn)上,也難以進(jìn)行充分的測(cè)試。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題
本發(fā)明正是鑒于上述情形而完成的,其目的在于,實(shí)現(xiàn)一種能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結(jié)構(gòu)中容易地進(jìn)行模擬電路的測(cè)試的數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。
用于解決課題的技術(shù)方案
本發(fā)明的一個(gè)方面的數(shù)字輸出監(jiān)視電路具備:第一數(shù)字電路,進(jìn)行串行數(shù)據(jù)與并行數(shù)據(jù)的相互變換;第二數(shù)字電路,對(duì)從所述第一數(shù)字電路輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼,生成模擬電路用的控制信號(hào);以及第三數(shù)字電路,至少將所述模擬電路用的控制信號(hào)變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),所述第一數(shù)字電路將從所述第三數(shù)字電路輸出的數(shù)據(jù)變換為串行數(shù)據(jù),作為輸出數(shù)據(jù)信號(hào)輸出。
本發(fā)明的一個(gè)方面的高頻前端電路包含上述數(shù)字輸出監(jiān)視電路,作為所述模擬電路而包含對(duì)高頻信號(hào)進(jìn)行放大的放大電路。
發(fā)明效果
根據(jù)本發(fā)明,能夠提供一種能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結(jié)構(gòu)中容易地進(jìn)行模擬電路的測(cè)試的數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。
附圖說明
圖1是示出比較例的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是示出比較例的第一數(shù)字電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖3是示出第二數(shù)字電路的具體的結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖4是示出模擬電路的具體的結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖5是示出實(shí)施方式1的輔電路的結(jié)構(gòu)的圖。
圖6是示出實(shí)施方式1的第一數(shù)字電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖7是示出實(shí)施方式1的第三數(shù)字電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖8是示出實(shí)施方式2的輔電路的結(jié)構(gòu)的圖。
圖9是示出設(shè)置在模擬電路的監(jiān)視電路的結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖10是示出實(shí)施方式3的第三數(shù)字電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的圖。
圖11是示出實(shí)施方式3的測(cè)試處理的一個(gè)例子的流程圖。
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