[發明專利]指紋底庫錄入方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202010033151.2 | 申請日: | 2020-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN111241314A | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發明(設計)人: | 任彥斌 | 申請(專利權)人: | 北京邁格威科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F16/51 | 分類號: | G06F16/51;G06F16/583;G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京鉦霖知識產權代理有限公司 11722 | 代理人: | 李英艷;馮志云 |
| 地址: | 100080 北京市海淀區科*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 指紋 錄入 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
本公開涉及一種指紋底庫錄入方法、裝置、電子設備及存儲介質,其中,所述方法包括,獲取錄入指紋圖片;抽取錄入指紋圖片的待錄入指紋特征;判斷待錄入指紋特征是否與錄入底庫中任一指紋特征相似;若待錄入指紋特征與錄入底庫中指紋特征均不相似,則將待錄入指紋特征儲存于錄入底庫,并更新錄入計數n;若待錄入指紋特征與錄入底庫中的任一指紋特征相似,則根據查重區間更新錄入計數n;判斷當前錄入計數n是否等于錄入閾值;若當前錄入計數n等于錄入閾值,則結束錄入底庫的錄入;若當前錄入計數n小于錄入閾值,則返回獲取錄入指紋圖片的步驟。通過本公開,提高了錄入指紋底庫中指紋特征與待檢測指紋特征的比對成功率。
技術領域
本公開涉及底庫錄入的技術領域,具體是涉及一種指紋底庫錄入方法、裝置、電子設備及存儲介質。
背景技術
指紋底庫中涵蓋有各種錄入狀態的指紋特征是提高錄入指紋底庫中的指紋特征與待檢測指紋特征比對成功率的重要因素。由于指紋底庫中的可存儲的指紋特征的個數存在上限,因此,減少指紋底庫中可能存在的重復指紋特征是增加指紋底庫中涵蓋有各種錄入狀態的指紋特征的關鍵。
但是,在指紋錄入底庫過程中,為了令用戶體驗的用戶界面(user interface UI)看起來比較流暢,只限定在指紋錄入過程的前幾張不允許查重,或指紋錄入的后幾張不允許查重。這種限定會對成功錄入指紋底庫中的指紋質量和有效指紋數量帶來很大挑戰,影響錄入指紋底庫中的指紋特征與待檢測指紋特征的比對成功率。
發明內容
為了克服現有技術中存在的問題,本公開提供一種指紋底庫錄入方法、裝置、電子設備及存儲介質。
第一方面,本公開實施例提供一種指紋底庫錄入方法,其中,指紋底庫包括錄入底庫,指紋底庫錄入方法包括:獲取錄入指紋圖片;抽取錄入指紋圖片的待錄入指紋特征;判斷待錄入指紋特征是否與錄入底庫中任一指紋特征相似;若待錄入指紋特征與錄入底庫中任一指紋特征均不相似,則將待錄入指紋特征儲存于錄入底庫,并更新錄入計數n,其中,錄入計數n初始值為0;若待錄入指紋特征與錄入底庫中的任一指紋特征相似,則根據查重區間更新錄入計數n;判斷當前錄入計數n是否等于錄入閾值;若當前錄入計數n等于錄入閾值,則結束錄入底庫的錄入;若當前錄入計數n小于錄入閾值,則返回獲取錄入指紋圖片的步驟。
在一種實施方式中,若待錄入指紋特征與錄入底庫中的任一指紋特征相似,則根據查重區間更新錄入計數n,包括:若待錄入指紋特征與錄入底庫中的任一指紋特征相似,則判斷當前錄入計數n是否位于查重區間;若當前錄入計數n位于查重區間,則返回獲取錄入指紋圖片的步驟;若當前錄入計數n不位于查重區間,則更新錄入計數n=n+1。
在另一種實施方式中,在抽取錄入指紋圖片的待錄入指紋特征之前,指紋底庫錄入方法還包括:判斷錄入指紋圖片的圖片質量,若圖片質量達到第一合格條件,則基于錄入指紋圖片,執行抽取錄入指紋圖片的待錄入指紋特征的步驟;若圖片質量未達到第一合格條件,則返回獲取錄入指紋圖片的步驟。
在又一種實施方式中,指紋底庫還包括學習底庫;在結束錄入底庫的錄入之后,指紋底庫錄入方法還包括:獲取比對指紋圖片;根據比對指紋圖片,獲取當前學習指紋特征,并根據當前學習指紋特征更新學習底庫。
在又一種實施方式中,獲取當前學習指紋特征,并根據當前學習指紋特征更新學習底庫,包括:根據當前學習指紋特征與指紋底庫中已錄入的每個指紋特征的差異度,獲取當前學習指紋特征的最小差異度,其中,指紋特征包括錄入指紋特征和學習指紋特征;判斷最小差異度是否位于學習區間;若最小差異度位于學習區間,則根據當前學習指紋特征更新學習底庫,并將當前學習指紋特征的最小差異度儲存至學習底庫。
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