本發(fā)明涉及一種觸控面板和顯示裝置，觸控面板包括基板、第一接地層及第二接地層；第一接地層設(shè)置于基板的邊緣；第二接地層設(shè)置于第一接地層上；第一接地層或第二接地層包括金屬線，第一接地層及第二接地層均呈環(huán)形且接地電位。上述的觸控面板通過在基板邊緣設(shè)置第一接地層，在第一接地層上設(shè)置第二接地層，第一接地層及第二接地層接地電位，從而第一接地層及第二接地層能夠?qū)⒆饔糜谟|控面板的靜電導(dǎo)出至地，避免觸控面板受到靜電損壞，且第一接地層或第二接地層設(shè)置有金屬線，從而避免接地層在切割時出現(xiàn)龜裂，能夠確保接電層的防靜電作用。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸控技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種觸控面板和觸控裝置。

背景技術(shù)

隨著面板技術(shù)的提升及電子產(chǎn)品的普及化，將操作接口設(shè)置于面板上的觸控裝置的應(yīng)用越來越廣泛，如手機(jī)、媒體播放器、導(dǎo)航系統(tǒng)、數(shù)碼相機(jī)等電子產(chǎn)品的用戶接口。依感應(yīng)技術(shù)的不同，觸摸裝置分為電阻式、電容式、光學(xué)式和表面聲波式四種。

當(dāng)用戶使用觸摸裝置時，因操作模式常須以手指觸壓面板，使得人體手指上的靜電傳導(dǎo)至面板表面，進(jìn)而破壞觸控面板內(nèi)的電子組件，如造成屏幕缺陷、金屬線被溶解、組件電阻值的改變、氧化層被破壞或擊穿以及影響以微處理器為中心的電子電路或控制器發(fā)生錯誤動作。而隨著觸控面板向窄邊框化的趨勢發(fā)展，觸控面板上往往會省略防靜電的設(shè)計，從而導(dǎo)致觸摸裝置在使用過程中由于靜電受到損壞。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對觸控面板省略防靜電的設(shè)計，導(dǎo)致觸摸裝置在使用過程中由于靜電受到損壞的問題，提供一種觸控面板和觸控裝置。

一種觸控面板，包括：

基板；

第一接地層，設(shè)置于所述基板的邊緣；及

第二接地層，設(shè)置于所述第一接地層上；

所述第一接地層或所述第二接地層包括金屬線，所述第一接地層及所述第二接地層均呈環(huán)形且接地電位。

在其中一個實(shí)施例中，所述第一接地層包括金屬線，所述第二接地層包括金屬層。

在其中一個實(shí)施例中，所述第一接地層包括金屬層，所述第二接地層包括金屬線。

在其中一個實(shí)施例中，所述第一接地層包括金屬線，所述第二接地層包括金屬層及金屬線。

在其中一個實(shí)施例中，所述第一接地層包括金屬層及金屬線，所述第二接地層包括金屬線。

在其中一個實(shí)施例中，所述第一接地層及所述第二接地層的寬度大于或等于0.2毫米。

在其中一個實(shí)施例中，所述金屬線的直徑為2微米至30微米。

在其中一個實(shí)施例中，所述基板包括顯示區(qū)及圍繞所述顯示區(qū)的非顯示區(qū)；所述觸控面板還包括多條信號線，所述第一接地層、所述第二接地層及所述多條信號線均設(shè)置于所述非顯示區(qū)，與所述第一接地層或所述第二接地層的距離最小的信號線與所述第一接地層或所述第二接地層的間距大于0.1毫米。

在其中一個實(shí)施例中，還包括：

保護(hù)層，設(shè)置于所述第二接地層上。

一種觸控裝置，包括上述的觸控面板。

上述的觸控面板及顯示裝置，通過在基板邊緣設(shè)置第一接地層，在第一接地層上設(shè)置第二接地層，第一接地層及第二接地層均呈環(huán)形且接地電位，從而第一接地層及第二接地層能夠?qū)⒆饔糜谟|控面板的靜電導(dǎo)出至地，避免觸控面板受到靜電損壞，且第一接地層或第二接地層設(shè)置有金屬線，從而避免接地層在切割時出現(xiàn)龜裂，能夠確保接電層的防靜電作用。

附圖說明

圖1為一實(shí)施例中的觸控裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為一實(shí)施例中的觸控面板的俯視圖；