[發明專利]一種多光子復合計數器有效
| 申請號： | 201911006136.2 | 申請日： | 2019-10-22 |
| 公開（公告）號： | CN110806263B | 公開（公告）日： | 2021-07-27 |
| 發明（設計）人： | 胡小龍;鄒鍇;孟赟 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01J1/44 | 分類號： | G01J1/44;B82Y15/00;B82Y30/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光子 復合 計數器 | ||
【權利要求書】：
1.一種多光子復合計數器，其特征在于，所述多光子復合計數器包括：
由若干根幾何尺寸相同的窄光敏超導納米線、一根寬超導納米線作為電流庫組成的并聯結構，所述光敏超導納米線用于分別探測若干個光子、所述電流庫超導納米線用于存儲光敏超導納米線觸發后轉移的超導電流；所述并聯結構外部串聯了一個超導納米線限流電感；
通過改變光敏超導納米線和電流庫超導納米線的長度與寬度，調整光敏超導納米線單元與電流庫超導納米線的電感比，從而配置光敏超導納米線與電流庫超導納米線的初始偏置電流分配；
串聯的限流電感用于減小光敏超導納米線觸發后流入到負載阻抗上的漏電流。
2.根據權利要求1所述的一種多光子復合計數器，其特征在于，所述多光子復合計數器還包括：
利用熱電仿真模型進行仿真，得到多光子復合計數器的工作電流區間。
3.根據權利要求1所述的一種多光子復合計數器，其特征在于，所述多光子復合計數器還包括：
通過等效的SPICE模型對若干階光子計數進行仿真。
4.根據權利要求1所述的一種多光子復合計數器，其特征在于，
所述多光子復合計數器的電路部分為單端偏置、單端讀出。
5.根據權利要求1所述的一種多光子復合計數器，其特征在于，通過調整光敏超導納米線的個數和尺寸、電流庫超導納米線和限流電感的幾何尺寸，實現任意數量光子的復合計數。
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