本發(fā)明提供一種發(fā)光器件控制電路及其驅(qū)動(dòng)方法、陣列基板以及顯示裝置，電路包括：發(fā)光器件；驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路包括驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元，驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的第一端與發(fā)光器件的陽(yáng)極連接，驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元被配置為在導(dǎo)通時(shí)驅(qū)動(dòng)發(fā)光器件發(fā)光；檢測(cè)電路，檢測(cè)電路的一端與驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的控制端連接，檢測(cè)電路的另一端與發(fā)光器件的陽(yáng)極連接，檢測(cè)電路被配置為在發(fā)光器件控制電路的檢測(cè)階段，檢測(cè)發(fā)光器件是否短路；若發(fā)光器件短路，在發(fā)光器件控制電路的發(fā)光階段，控制驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元斷開；若發(fā)光器件未短路，在發(fā)光器件控制電路的發(fā)光階段，控制驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元導(dǎo)通。本發(fā)明能避免發(fā)光器件短路導(dǎo)致的燒壞背板現(xiàn)象，從而可以極大提高應(yīng)用發(fā)光器件的顯示裝置的顯示良率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種發(fā)光器件控制電路、一種陣列基板、一種顯示裝置以及一種發(fā)光器件控制電路的驅(qū)動(dòng)方法。

背景技術(shù)

由于Micro LED(Micro Light Emitting Diode，微型發(fā)光二極管)器件具有效率高和抗水氧能力強(qiáng)的特性，有望成為下一代主流顯示技術(shù)。

目前，在應(yīng)用Micro LED器件的顯示裝置中，Micro LED器件生長(zhǎng)的基板與顯示裝置中的基板并非同一個(gè)基板，Micro LED器件需要從生長(zhǎng)的基板轉(zhuǎn)印到顯示裝置中的基板上，之后Micro LED器件與顯示裝置的背板進(jìn)行電性連接。對(duì)于倒裝型Micro LED器件，現(xiàn)有技術(shù)采用陰陽(yáng)極點(diǎn)銀膠工藝來使Micro LED器件與背板電性連接，該陰陽(yáng)極點(diǎn)銀膠工藝過程中易發(fā)生陰極和陽(yáng)極銀膠短路即Micro LED器件短路。在垂直型Micro LED器件中，轉(zhuǎn)印工藝之后，Micro LED器件的陽(yáng)極或陰極與背板進(jìn)行電性連接，并需要在背板上制做整面的陰極或整面的陽(yáng)極，如果出現(xiàn)Micro LED器件轉(zhuǎn)印丟失的情況，很容易發(fā)生Micro LED器件的陰極和陽(yáng)極短路問題。Micro LED器件的短路會(huì)使背板產(chǎn)生大電流，進(jìn)而燒壞背板，導(dǎo)致應(yīng)用Micro LED器件的顯示裝置顯示良率很低。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述問題，本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種發(fā)光器件控制電路、一種陣列基板、一種顯示裝置以及一種發(fā)光器件控制電路的驅(qū)動(dòng)方法，以解決現(xiàn)有顯示裝置中MicroLED器件短路燒壞背板，導(dǎo)致應(yīng)用Micro LED器件的顯示裝置顯示良率低的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明實(shí)施例公開了一種發(fā)光器件控制電路，包括：

發(fā)光器件；

驅(qū)動(dòng)電路，所述驅(qū)動(dòng)電路包括驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元，所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的第一端與所述發(fā)光器件的陽(yáng)極連接，所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元被配置為在導(dǎo)通時(shí)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光器件發(fā)光；

檢測(cè)電路，所述檢測(cè)電路的一端與所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的控制端連接，所述檢測(cè)電路的另一端與所述發(fā)光器件的陽(yáng)極連接，所述檢測(cè)電路被配置為在所述發(fā)光器件控制電路的檢測(cè)階段，檢測(cè)所述發(fā)光器件是否短路；若所述發(fā)光器件短路，在所述發(fā)光器件控制電路的發(fā)光階段，控制所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元斷開；若所述發(fā)光器件未短路，在所述發(fā)光器件控制電路的發(fā)光階段，控制所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元導(dǎo)通。

可選地，所述檢測(cè)電路包括：

第一開關(guān)器件，所述第一開關(guān)器件的第一端與所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的控制端連接，所述第一開關(guān)器件的第二端與測(cè)試電壓提供端連接；所述測(cè)試電壓提供端提供的測(cè)試電壓與所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的第二端電壓之差大于所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元的導(dǎo)通電壓；所述第一開關(guān)器件，被配置為若所述發(fā)光器件短路，在所述檢測(cè)階段時(shí)導(dǎo)通；若所述發(fā)光器件未短路，在所述檢測(cè)階段時(shí)斷開；

第二開關(guān)器件，所述第二開關(guān)器件的第一端與所述第一開關(guān)器件的控制端連接，所述第二開關(guān)器件的控制端接收檢測(cè)控制信號(hào)，所述第二開關(guān)器件的第二端與所述發(fā)光器件的陽(yáng)極連接；所述第二開關(guān)器件被配置為在所述檢測(cè)階段，響應(yīng)所述檢測(cè)控制信號(hào)導(dǎo)通；在所述發(fā)光階段，響應(yīng)所述檢測(cè)控制信號(hào)斷開。

可選地，所述第一開關(guān)器件為P型TFT晶體管，所述第二開關(guān)器件為N型TFT晶體管。