本發(fā)明提供測(cè)距裝置以及測(cè)距模塊，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且能夠使發(fā)光元件與受光元件一體化。具有發(fā)光元件的發(fā)光基板經(jīng)由第一凸塊與電路基板連接，具有單體或二維狀配置的受光元件的受光基板經(jīng)由第二凸塊與電路基板連接。透鏡的光軸、發(fā)光元件的光軸以及受光元件的中心軸配置在大致同軸上。本技術(shù)能夠應(yīng)用于進(jìn)行測(cè)距的測(cè)距裝置等。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測(cè)距裝置以及測(cè)距模塊。

背景技術(shù)

例如在日本專利第5659903號(hào)中記載了將光源、受光部以及透鏡一體形成在同軸上的結(jié)構(gòu)的發(fā)光元件/受光元件組裝體。

專利文獻(xiàn)1：日本專利第5659903號(hào)

根據(jù)專利第5659903號(hào)所公開的技術(shù)，需要在受光部設(shè)置開口，難以制造受光元件。此外，并未記載對(duì)多個(gè)發(fā)光元件進(jìn)行模塊化的技術(shù)，無法向大范圍照射光來進(jìn)行測(cè)距。

發(fā)明內(nèi)容

因而，本發(fā)明的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且發(fā)光元件與受光元件一體化的測(cè)距裝置以及測(cè)距模塊。

本發(fā)明的測(cè)距裝置具備：透鏡；電路基板；發(fā)光基板，具有發(fā)光元件；以及受光基板，具有單體或者二維狀配置的受光元件，所述發(fā)光基板經(jīng)由第一凸塊與所述電路基板連接，所述受光基板經(jīng)由第二凸塊與所述電路基板連接，所述透鏡的光軸、所述發(fā)光元件的光軸以及所述受光元件的中心軸配置在大致同軸上。

本發(fā)明的測(cè)距模塊是具有本技術(shù)的測(cè)距裝置的測(cè)距模塊。

在本技術(shù)的測(cè)距裝置以及測(cè)距模塊中，具有發(fā)光元件的所述發(fā)光基板經(jīng)由第一凸塊與所述電路基板連接，具有單體或二維狀配置的受光元件的所述受光基板經(jīng)由第二凸塊與所述電路基板連接。并且，所述透鏡的光軸、所述發(fā)光元件的光軸以及所述受光元件的中心軸配置在大致同軸上。

根據(jù)本發(fā)明，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且能夠使發(fā)光元件與受光元件一體化。

另外，并不是一定限定于此處記載的效果，也可以是本發(fā)明中記載的任一效果。

附圖說明

圖1是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距裝置的結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖2是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距裝置的構(gòu)成部件的外觀圖。

圖3是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距模塊的結(jié)構(gòu)例的俯視圖。

圖4是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距模塊的組裝例的圖。

圖5是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距模塊的結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖6是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距裝置的結(jié)構(gòu)例中的、使用兩個(gè)透鏡的結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖7是表示應(yīng)用了本技術(shù)的測(cè)距模塊的應(yīng)用例的圖。

圖8是表示電路基板13的具體結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖9是表示發(fā)光基板11的第一具體結(jié)構(gòu)例的俯視圖。

圖10是表示發(fā)光基板11的第二具體結(jié)構(gòu)例的俯視圖。

圖11是表示在透明基板14的上方設(shè)置有透鏡的測(cè)距裝置10的結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖12是表示三個(gè)透鏡結(jié)構(gòu)的測(cè)距裝置10的結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖13是表示三個(gè)透鏡結(jié)構(gòu)的測(cè)距裝置10的另一結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

圖14是表示三個(gè)透鏡結(jié)構(gòu)的測(cè)距裝置10的又一結(jié)構(gòu)例的剖視圖。

附圖標(biāo)記說明：