[發明專利]電子元器件傳送裝置及電子元器件檢查裝置在審
| 申請號: | 201910066703.7 | 申請日: | 2019-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN110077811A | 公開(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發明(設計)人: | 石田大輔;溝口安志;若林修一 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | B65G43/08 | 分類號: | B65G43/08;G01V8/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 玉昌峰;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子元器件 傳送裝置 光照射部 載置部 檢查裝置 傳送 引導件 鉛直 照射 方向移動機構 方向引導 照射光 載置 支承 申請 | ||
本申請提供可以準確地向電子元器件載置部照射從光照射部照射的光的電子元器件傳送裝置及電子元器件檢查裝置。一種電子元器件傳送裝置,向載置電子元器件的電子元器件載置部傳送電子元器件,該電子元器件傳送裝置具備:傳送電子元器件的傳送部;向電子元器件載置部照射光的光照射部;以及具有引導件的鉛直方向移動機構部,該引導件支承光照射部并沿鉛直方向引導光照射部。
技術領域
本發明涉及電子元器件傳送裝置及電子元器件檢查裝置。
背景技術
在現有技術中,例如已知有進行諸如IC器件等電子元器件的電氣檢查的檢查裝置(例如,參照專利文獻1)。在該專利文獻1記載的檢查裝置中,構成為在對IC器件進行檢查時,將IC器件傳送至檢查用插座,并載置于檢查用插座來進行其檢查。此外,在專利文獻1記載的檢查裝置中,在進行對于IC器件的檢查之前,判斷在檢查用插座上是否殘留有IC器件,即判斷有無IC器件。作為該判斷的必要性,是因為例如假設在檢查用插座上殘留有IC器件時,存在之后要檢查的IC器件與該殘留器件重疊,無法獲得準確的檢查結果的擔憂。此外,在專利文獻1記載的檢查裝置中,在對檢查用插座照射狹縫光的狀態下,獲得拍攝定時不同(IC器件傳送前后)的兩張圖像,檢測這兩張圖像的不同(圖像差),基于該檢測結果來判斷有無IC器件。
專利文獻1:日本專利特開2014-196908號公報
但是,在專利文獻1記載的檢查裝置中,需要調整照射狹縫光的激光光源的位置(特別是鉛直方向的位置)、朝向,但在上述檢查裝置中,不能調整激光光源的位置等。
發明內容
本發明是為了解決上述技術問題而做出的,可作為以下方面來實現。
本發明的電子元器件傳送裝置其特征在于,具備:傳送部,傳送電子元器件;能夠配置載置所述電子元器件的電子元器件載置部的區域;光照射部,能夠向所述電子元器件載置部照射光;以及鉛直方向移動機構部,將所述光照射部支承為能夠移動,使得所述光照射部在鉛直方向上的位置發生變化。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述鉛直方向移動機構部具有沿鉛直方向引導所述光照射部的導軌。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述鉛直方向移動機構部具有使所述光照射部的移動速度減速的減速器。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述鉛直方向移動機構部具有移動調整部,該移動調整部在所述光照射部停止了移動時,調整所述光照射部在移動目的地的位置。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述光照射部具有照射激光的多個激光光源。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述光照射部為所述多個激光光源單元化而成的光源單元。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述鉛直方向移動機構部構成為以使所述各激光光源能夠獨立移動的方式支承所述各激光光源。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述鉛直方向移動機構部構成為以使所述各激光光源能夠一起向同方向移動的方式支承所述各激光光源。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述各激光光源沿鉛直方向配置,以越是位于上側的所述激光光源、所述激光光源相對于鉛直方向的角度越小的方式來使用所述各激光光源。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,具備以使所述光照射部能夠轉動的方式支承所述光照射部的轉動機構部。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述轉動機構部具有使所述光照射部的角速度減速的減速器。
優選地,在本發明的電子元器件傳送裝置中,所述轉動機構部具有轉動調整部,該轉動調整部在所述光照射部停止了轉動時,調整所述光照射部在轉動目的地的位置。
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