[發明專利]微粒數檢測器在審
| 申請號: | 201880057263.2 | 申請日: | 2018-08-02 |
| 公開(公告)號: | CN111065911A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發明(設計)人: | 菅野京一;水野和幸;奧村英正 | 申請(專利權)人: | 日本礙子株式會社 |
| 主分類號: | G01N15/06 | 分類號: | G01N15/06;G01N27/68 |
| 代理公司: | 北京旭知行專利代理事務所(普通合伙) 11432 | 代理人: | 王軼;陳東升 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微粒 檢測器 | ||
微粒數檢測器具備:電荷產生部,該電荷產生部對導入至通氣路內的氣體中的微粒附加通過放電而產生的電荷,由此使該微粒形成為帶電微粒;捕集電極,該捕集電極對帶電微粒進行捕集;以及個數檢測部,該個數檢測部基于根據捕集電極捕集到的帶電微粒的數量而變化的物理量對微粒的數量進行求解。個數檢測部利用微粒的粒徑與概率密度之間的關系、以及微粒的粒徑與帶電數之間的關系而求出微粒的平均帶電數,并利用物理量和微粒的平均帶電數而求出微粒的數量。
技術領域
本發明涉及一種微粒數檢測器。
背景技術
作為微粒數檢測器,已知如下微粒數檢測器,即,利用通過電暈放電而產生的離子使被測定氣體中的微粒帶電,生成與被測定氣體中的微粒相關的測定信號,并基于該測定信號而確定被測定氣體中的微粒數(例如參照專利文獻1)。該微粒數檢測器對被測定氣體中的微粒的粒徑進行推定,并利用與推定出的粒徑和設為基準的粒徑的比率相關的系數對微粒數進行校正。作為粒徑,能夠舉例示出粒徑峰值(在以規定的運轉條件使內燃機運轉時的廢氣中含有的微粒的粒徑分布中,粒子數最多的粒徑的值)。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2016-75674號公報
發明內容
但是,當存在粒徑峰值相同而微粒的粒徑分布不同的2種被測定氣體時,原本2種被測定氣體的微粒數為各不相同的值,不過,專利文獻1中存在如下問題:如果粒徑峰值相同,則校正系數變為相同值,因此,校正后的微粒數也會變為相同值。因此,不能說微粒數的測定精度較高。
本發明是為了解決上述課題而完成的,其主要目的在于,提高微粒數的測定精度。
本發明的微粒數檢測器具備:
殼體,該殼體具有通氣路;
電荷產生部,該電荷產生部對導入至所述通氣路內的氣體中的微粒附加通過放電而產生的電荷,由此使該微粒形成為帶電微粒;
捕集電極,該捕集電極設置為比所述電荷產生部靠所述氣體的氣流的下游側,并對所述帶電微粒進行捕集;以及
個數檢測部,該個數檢測部基于根據所述捕集電極捕集到的所述帶電微粒的數量而變化的物理量對所述微粒的數量進行求解,
所述個數檢測部利用所述微粒的粒徑與概率密度之間的關系、以及所述微粒的粒徑與帶電數之間的關系而求出所述微粒的平均帶電數,并利用所述物理量和所述微粒的平均帶電數而求出所述微粒的數量。
對于該微粒數檢測器而言,當求解氣體中的微粒的數量時,利用微粒的粒徑與概率密度之間的關系、以及微粒的粒徑與帶電數之間的關系而求出微粒的平均帶電數,并利用根據捕集電極捕集到的帶電微粒的數量而變化的物理量和微粒的平均帶電數對微粒的數量進行求解。因此,例如當存在粒徑峰值相同而微粒的粒徑分布不同的2種氣體時,如果微粒的粒徑分布不同,則微粒的粒徑與概率密度之間的關系不同,因此,得到的微粒的數量為根據各氣體而不同的值。因此,與以往相比,微粒數的測定精度得到提高。
應予說明,本說明書中,除了正電荷、負電荷以外,“電荷”還包括離子?!拔锢砹俊敝灰腔趲щ娢⒘5臄盗?電荷量)而變化的參數即可,例如可以舉出電流等。
本發明的微粒數檢測器可以構成為,所述氣體為發動機的廢氣,所述個數檢測部基于所述發動機的運轉條件而求解所述微粒的粒徑與概率密度之間的關系。由于微粒的粒徑分布根據發動機的運轉條件而變化,因此,微粒的粒徑與概率密度之間的關系也發生變化。此處,基于發動機的運轉條件而求解微粒的粒徑與概率密度之間的關系,因此,微粒數的測定精度進一步提高。作為發動機的運轉條件,例如可以舉出發動機的轉速、扭矩等。
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