[發明專利]測算待測區域污染物排放面濃度的測算方法有效

申請號：	201811327592.2	申請日：	2018-11-08
公開（公告）號：	CN111220549B	公開（公告）日：	2023-01-31
發明（設計）人：	李波;肖安山;朱亮;高少華;鄒兵	申請（專利權）人：	中國石油化工股份有限公司;中石化安全工程研究院有限公司
主分類號：	G01N21/17	分類號：	G01N21/17;G01N21/55;G06F30/20
代理公司：	北京潤平知識產權代理有限公司 11283	代理人：	肖冰濱;王曉曉
地址：	100728 北***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	測算區域污染物排放濃度方法
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【權利要求書】：

1.一種測算待測區域污染物排放面濃度的測算方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取所述污染物排放面最優化空間濃度分布模型的排放面，該最優化空間濃度分布模型基于預先構建的污染物空間濃度分布模型以及所述污染物排放面內的污染物濃度的實際分布而被建立；以及

對所述最優化空間濃度分布模型的排放面，應用所述最優化空間濃度分布模型進行積分計算，測算所述待測區域污染物排放面濃度；

其中，所述污染物排放面最優化空間濃度分布模型與多條采樣光路的位置有關，所述待測區域污染物排放面上多條采樣光路中的每一條采樣光路被設置為分布如下：

所述污染物排放面上多條采樣光路中的第一條采樣光路分布在利用光學遙測設備獲取排放面內污染物實測線積分濃度最大位置；

所述第一條采樣光路兩側采樣光路的數量與所述第一條采樣光路將排放面分成的兩部分面積的數值關系成正比；

所述排放面被所述第一條采樣光路分割而成的兩部分內的采樣光路在該部分內均勻分布。

2.根據權利要求1所述的測算待測區域污染物排放面濃度的測算方法，其特征在于，

所述最優化空間濃度分布模型通過以下步驟被構建：

利用光學遙測設備實際測量獲取設置在所述污染物排放面內的多條采樣光路中的每一條采樣光路的實測線積分濃度；

根據所述多條采樣光路中的每一條采樣光路的路徑，應用預先構建的污染物空間濃度分布模型，獲取所述待測區域污染物排放面上多條采樣光路中的每一條采樣光路的理論線積分濃度；以及

根據所述實際測量獲取的每一條采樣光路的實測線積分濃度、所述根據多條采樣光路中的每一條采樣光路的路徑應用預先構建的污染物空間濃度分布模型獲取的每一條采樣光路的理論線積分濃度、以及以所述實測線積分濃度和所述理論線積分濃度的平方差之和最小為原則，通過對所述預先構建的污染物空間濃度分布模型進行最優化處理獲得所述污染物排放面最優化空間濃度分布模型。

3.根據權利要求1所述的測算待測區域污染物排放面濃度的測算方法，其特征在于，

所述待測區域污染物排放面上多條采樣光路中的每一者的理論線積分濃度由以下步驟獲得：

獲取所述污染物排放面內該條采樣光路的路徑；以及

根據所獲取的該條采樣光路的路徑以及預先構建的污染物空間濃度分布模型，分別計算所述待測區域污染物排放面上多條采樣光路中的該條采樣光路的理論線積分濃度。

4.根據權利要求3所述的測算待測區域污染物排放面濃度的測算方法，其特征在于，

所述待測區域污染物排放面上多條采樣光路中的第i條采樣光路的理論線積分濃度e_i為：

e_i＝∫G(P₁,P₂,P₃…)dl_i，

其中，

G(P₁,P₂,P₃…)為所述預先構建的污染物空間濃度分布模型；

(P₁,P₂,P₃…)為待最優化的模型參數；

l_i為第i條采樣光路的路徑，i∈[1，N]，N為采樣光路條數。

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