本發明提供了一種用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，所述裝置可對多個二合一晶閘管電子板進行測試，包括：閥控制設備和至少一個包括兩只正反向并聯晶閘管的晶閘管閥層；所述晶閘管閥層的數量為被測晶閘管電子板的數量減1；被測晶閘管電子板接收閥控制設備發送的觸發信號，觸發所述被測晶閘管電子板連接的晶閘管。本發明提供的用于晶閘管電子板老化試驗裝置的設計方案，在一定的環境溫度下對晶閘管電子板進行批量測試，篩選出故障晶閘管電子板；保證達到設計要求，經過測試的晶閘管電子板在工程現場中可以安全可靠的運行。

技術領域

本發明涉及電工電子技術領域和電路板老化系統領域，具體涉及一種用于晶閘管電子板老化試驗的裝置。

背景技術

隨著電力電子技術的發展，電力電子裝置在電力系統中的應用日益廣泛，就高壓閥觸發與監測系統而言，對裝置的要求越來越高。晶閘管電子板(TE，ThyirstorElectronics)是高壓晶閘管閥光電觸發與在線監測系統的重要組成部分，它位于裝置的高壓側，是實現晶閘管閥觸發和狀態監測的核心部件之一，確保TE板無故障、可靠運行顯得非常重要。

TE板需經過制板、焊接等一整套復雜的生產、制造工藝流程之后才能被應用到實際工程中，但是有時候TE板在使用一段時間之后往往會出現各種問題，這些問題一般發生在幾十個小時之內，一旦出現故障將無法保證晶閘管被可靠觸發。鑒于以往工程現場情況，TE板出廠前不進行老化，在工程現場出現故障的幾率較大，會造成了較大的運營維護成本支出以及非常差的用戶體驗，一般的TE板老化作業裝置只對TE板帶電老化，不具備觸發晶閘管等功能，常規測試仍然需要對待檢晶閘管觸發電路板逐個測試，大量的電路板測試存在工作量大、人工成本高、生產效率低等一系列缺點。

因此，為降低TE板在現場投運時的故障率，確保TE板上各元器件在板卡應用到工程前都已處于穩定狀態，減少后期維護成本，提高TE板的測試效率，降低人工成本有必要對TE板出廠前老化作業裝置加以設計。

發明內容

為了在一定的環境溫度下對TE板進行批量測試，篩選出故障TE板，降低現場工程項目故障率，減少后期維護成本，提高測試效率，降低人工成本，本發明提供一種用于晶閘管電子板老化試驗裝置的設計方案，保證裝置安全可靠運行，達到設計要求，經過測試的TE板用到工程現場中可以安全可靠的運行。

本發明提供的技術方案是：

一種用于晶閘管電子板老化試驗的裝置，其特征在于，可對多個二合一晶閘管電子板進行測試，所述裝置包括：閥控制設備和至少一個包括兩只正反向并聯晶閘管的晶閘管閥層；所述晶閘管閥層的數量為被測晶閘管電子板的數量減1；

每個所述晶閘管閥層的兩只晶閘管分別與相鄰的兩個被測晶閘管電子板并聯；

所述閥控制設備通過光纖與每個被測晶閘管電子板連接，并向所述每個被測晶閘管電子板發送觸發信號；所述每個被測晶閘管電子板基于所述觸發信號觸發與所述每個被測晶閘管電子板連接的兩個晶閘管；

基于所述晶閘管的導通情況確定所述每個被測晶閘管電子板是否存在故障。

優選的，所述裝置還包括直流均壓電阻；所述直流均壓電阻與被測晶閘管電子板串聯。

優選的，多個晶閘管閥層串聯組成晶閘管閥組；多個晶閘管閥組并聯組成晶閘管閥串。

進一步的，每個所述晶閘管閥組中，包括：首端晶閘管閥層、中間晶閘管閥層和尾端晶閘管閥層；所述中間晶閘管閥層包括從第二至倒數第二的晶閘管閥層；

所述首端晶閘管閥層的正向/反向晶閘管連接第一被測晶閘管電子板，所述首端晶閘管閥層的反向/正向晶閘管連接第二被測晶閘管電子板；

所述中間晶閘管閥層的兩個晶閘管分別連接從第二被測晶閘管電子板開始的兩個相鄰被測晶閘管電子板；