[發明專利]帶寬壓縮中自適應紋理漸變預測的方法有效
| 申請號： | 201811261718.0 | 申請日： | 2018-10-26 |
| 公開（公告）號： | CN109561309B | 公開（公告）日： | 2021-08-13 |
| 發明（設計）人： | 羅瑜;張瑩;冉文方 | 申請（專利權）人： | 西安科銳盛創新科技有限公司 |
| 主分類號： | H04N19/132 | 分類號： | H04N19/132;H04N19/50;H04N19/182;H04N19/176;H04N19/103 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 王海棟 |
| 地址： | 710065 陜西省西安市高新區高新路86號*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 帶寬 壓縮 自適應 紋理 漸變 預測 方法 | ||
1.一種帶寬壓縮中自適應紋理漸變預測的方法，其特征在于，包括：
選取采樣方式對當前MB進行采樣；包括：選取N種等距離采樣方式、選取N種非等距離采樣方式或選取像素值拐點采樣方式對當前MB進行采樣，其中N的取值為大于1的自然數；
根據所述采樣方式選取預測方式對所述當前MB進行預測確定所述當前MB的預測殘差；包括：若采樣方式為所述等距離采樣方式則選取點對點預測方式；若采樣方式為所述非等距離采樣方式或像素值拐點采樣方式則均選取M種角度預測方式，其中M的取值為大于1的自然數；根據選取的預測方式對所述當前MB的采樣點進行預測獲取第一預測殘差；根據預測公式對所述當前MB的非采樣點進行預測獲取第二預測殘差；其中，所述預測公式為：Resi＝(sample1-sample0)*(i+1)/(num+1)；sample0和sample1為連續的采樣點，i為非采樣點索引，num為非采樣點數量，Res為第二預測殘差；
處理所述預測殘差以獲取SAD；包括：處理所述預測殘差以獲取第一SAD和第二SAD；其中，所述第一SAD為將所述當前MB中的所述第一預測殘差以及所述第二預測殘差進行絕對值求和；所述第二SAD為將所述當前MB中的所述第一預測殘差進行絕對值求和；其中，處理所述預測殘差以獲取第一SAD和第二SAD包括：若采樣方式為所述等距離采樣方式且預測方式為所述點對點預測方式，則獲取N種所述等距離采樣方式的N個所述第一SAD；若采樣方式為所述非等距離采樣方式且預測方式為所述角度預測方式，則通過當前采樣方式下M種所述角度預測方式獲取M個所述第二SAD；選取M個所述第二SAD中最小值對應的所述角度預測方式；根據選取的所述角度預測方式獲取所述當前采樣方式下的所述第一SAD；通過N種所述非等距離采樣方式獲取N個所述第一SAD；若采樣方式為像素值拐點采樣方式且預測方式為所述角度預測方式，則獲取M種所述角度預測方式的M個所述第二SAD；
根據所述SAD確定所述當前MB的采樣方式和預測方式的組合。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述SAD確定所述當前MB的采樣方式和預測方式的組合，包括：
根據所述第一SAD的最小值對應的采樣方式和預測方式確定所述當前MB的采樣方式和預測方式的組合。
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