本公開提供一種電路板瑕疵篩選方法及其裝置與計(jì)算機(jī)可讀取記錄介質(zhì)，該方法包括：接收瑕疵列表；獲取瑕疵列表的多個(gè)瑕疵記錄的多個(gè)瑕疵圖像；接收線路布局圖；依據(jù)線路布局圖，分析瑕疵圖像之中的第一瑕疵圖像的瑕疵位置；依據(jù)第一瑕疵圖像的瑕疵位置，對第一瑕疵圖像進(jìn)行裁切，以獲得第一裁切瑕疵圖像；將第一裁切瑕疵圖像輸入至瑕疵分類模型；以及依據(jù)瑕疵分類模型的輸出結(jié)果，判斷第一瑕疵圖像為良品圖像或非良品圖像。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測技術(shù)，且特別涉及一種電路板瑕疵篩選方法及其裝置與計(jì)算機(jī)可讀取記錄介質(zhì)。

背景技術(shù)

在工業(yè)工藝中，電路板成品會進(jìn)一步經(jīng)過自動(dòng)光學(xué)檢測(Automated OpticalInspection，AOI)的程序，進(jìn)而篩選出可能存在瑕疵的電路板。

為了確保印刷電路板的良率，瑕疵檢測所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)很嚴(yán)格。如此一來，雖然自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)臺可以有效的檢測出瑕疵電路板，卻也導(dǎo)致瑕疵誤判的機(jī)率很高。因此，在制作過程中需導(dǎo)入作業(yè)人員，以進(jìn)一步對于自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)臺所判定的瑕疵電路板進(jìn)行復(fù)檢。而在此過程中，如何能夠維持印刷電路板的良率，同時(shí)縮減瑕疵列表中的誤判案例，以降低人工復(fù)檢的負(fù)荷，此為本領(lǐng)域技術(shù)人員所需解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本公開提供一種電路板瑕疵篩選方法及其裝置與計(jì)算機(jī)可讀取記錄介質(zhì)，以縮減瑕疵列表中的誤判案例，降低人工復(fù)檢的負(fù)荷。

本公開提供的電路板瑕疵篩選方法包括：接收瑕疵列表；獲取瑕疵列表的多個(gè)瑕疵記錄的多個(gè)瑕疵圖像；接收線路布局圖；依據(jù)線路布局圖，分析瑕疵圖像之中的第一瑕疵圖像的瑕疵位置；依據(jù)第一瑕疵圖像的瑕疵位置，對第一瑕疵圖像進(jìn)行裁切，以獲得第一裁切瑕疵圖像；將第一裁切瑕疵圖像輸入至一瑕疵分類模型；以及依據(jù)瑕疵分類模型的輸出結(jié)果，判斷第一瑕疵圖像為良品圖像或非良品圖像。

本公開提供的電路板瑕疵篩選裝置包括輸入單元、存儲單元以及處理單元。輸入單元接收瑕疵列表以及線路布局圖。瑕疵列表具有多個(gè)瑕疵記錄。輸入單元還獲取瑕疵記錄的多個(gè)瑕疵圖像。存儲單元存儲多個(gè)模塊。處理單元連接于輸入單元及存儲單元。處理單元執(zhí)行線路比對模塊以及瑕疵分類模塊。線路比對模塊依據(jù)線路布局圖，分析瑕疵圖像之中的第一瑕疵圖像的瑕疵位置，并依據(jù)第一瑕疵圖像的瑕疵位置，對第一瑕疵圖像進(jìn)行裁切，以獲得第一裁切瑕疵圖像。瑕疵分類模塊，將第一裁切瑕疵圖像輸入至瑕疵分類模型，依據(jù)瑕疵分類模型的輸出結(jié)果，判斷第一瑕疵圖像為良品圖像或非良品圖像。

本公開提供的計(jì)算機(jī)可讀取記錄介質(zhì)存儲至少一程序代碼，當(dāng)電子裝置載入并執(zhí)行此程序代碼后，可完成上述電路板瑕疵篩選方法。

基于上述，本公開提供的電路板瑕疵篩選裝置與電路板瑕疵篩選方法能夠通過線路布局圖及瑕疵列表的相互比對判斷瑕疵圖像所屬的瑕疵類別，進(jìn)而判斷瑕疵圖像屬于良品圖像或非良品圖像。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1是根據(jù)本公開一范例實(shí)施例所繪示的電路板瑕疵篩選裝置的示意圖。

圖2是根據(jù)本公開一范例實(shí)施例所繪示的電路板瑕疵篩選裝置的示意圖。

圖3是根據(jù)本公開一范例實(shí)施例所繪示的電路板瑕疵篩選方法的流程圖。

【符號說明】

5：電路板

10：自動(dòng)光學(xué)檢查裝置

20：驗(yàn)證修復(fù)機(jī)臺

100：電路板瑕疵篩選裝置

110：輸入單元

120：存儲單元

122：線路比對模塊

124：瑕疵分類模塊