[發明專利]一種判定合金表面偏析狀態的方法以及制造合金的方法有效
| 申請號： | 201810926332.0 | 申請日： | 2018-08-15 |
| 公開（公告）號： | CN109273055B | 公開（公告）日： | 2021-12-03 |
| 發明（設計）人： | 張少明;賀會軍;劉希學;朱捷;徐蕾;王志剛;趙朝輝;張江松;安寧;溫余苗;林剛;張富文;師靜琳 | 申請（專利權）人： | 北京康普錫威科技有限公司 |
| 主分類號： | G16C20/10 | 分類號： | G16C20/10;G16C20/60;C22C1/02 |
| 代理公司： | 北京辰權知識產權代理有限公司 11619 | 代理人： | 佟林松 |
| 地址： | 101407 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 判定 合金 表面 偏析 狀態 方法 以及 制造 | ||
1.一種判定二組分合金表面偏析狀態的方法，其特征在于，該方法包括：
s1，設定二組分合金為AB合金，A和B為合金的兩種合金金屬元素；通過公式W＝E(A-B)-1/2[E(A-A)+E(B-B)]計算W的值，其中E(A-B)為形成A-B鍵所需的鍵能，E(A-A)為形成A-A鍵所需的鍵能，E(B-B)為形成B-B鍵所需的鍵能，在A-A、B-B或A-B鍵不存在鍵能時，鍵能取值為0；
s2，根據W的值判定合金材料的表面偏析狀態，當W≥0，二組分合金不發生表面偏析，當W＜0，二組分合金發生表面偏析。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述方法還包括，當W＜0，二組分合金發生表面偏析時，進一步判定二組分合金中偏析組元為A組分還是B組分；比較組分A和B的表面張力值FA和FB；當FA＞FB時，組分A為偏析組分；當FA＜FB時，組分B為偏析組分。
3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述方法還包括，對合金組分進行調控以滿足設計需求；在W≥0，合金不發生表面偏析時，當主組分的氧化膜的性能滿足致密性或穩定性的要求時，合金滿足設計需求，不需調控；當主組分的氧化膜的性能不滿足致密性或穩定性的要求時，對合金組分進行調控，設計需求為實現合金組分的表面偏析；在W＜0，合金組分發生表面偏析時，當偏析組分的氧化膜的性能不滿足致密性或穩定性的要求時，對合金組分進行調控，設計需求為抑制合金組分的表面偏析；當偏析組分的氧化膜的性能滿足致密性或穩定性的要求時，合金滿足設計需求，不需調控。
4.一種根據使用權利要求1-3任一項所述的方法判定的合金的表面偏析狀態而制造合金材料的方法，該方法包括：
s1，使用權利要求1-3任一項所述的方法判定合金的表面偏析狀態，并根據合金的表面偏析狀態選定合金的元素組成；
當W≥0，AB合金不發生表面偏析；當主組分的氧化膜的性能滿足致密性或穩定性的要求時，AB合金滿足設計需求，進行下個步驟；當主組分的氧化膜的性能不滿足致密性或穩定性的要求時，設計需求為實現合金組分的表面偏析，添加第三合金組分C，使得C滿足E(X-C)＜1/2[E(C-C)+E(X-X)]，其中X為主組分元素，X為A或B中的一種，E(X-C)為形成X-C鍵所需鍵能，E(X-X)為形成X-X鍵所需鍵能，E(C-C)為形成C-C鍵所需鍵能，當C-C、X-X或X-C鍵不存在鍵能時，鍵能取值為0，然后進行下個步驟；
當W＜0，AB合金發生表面偏析；當偏析組分的氧化膜的性能不滿足致密性或穩定性的要求時，設計需求為抑制合金組分的表面偏析，添加第三合金組分C，使得C滿足E(X-C)＞1/2[E(C-C)+E(X-X)]，其中X為偏析元素，X為A或B中的一種，E(X-C)為形成X-C鍵所需鍵能，E(X-X)為形成X-X鍵所需鍵能，E(C-C)為形成C-C鍵所需鍵能，當C-C、X-X或X-C不存在鍵能時，鍵能取值為0，然后進行下個步驟；當偏析組分的氧化膜的性能滿足致密性或穩定性的要求時，AB合金滿足設計需求，進行下個步驟；
s2，根據選定的合金的元素選擇原材料并進行熔煉。
5.一種判定三組分合金表面偏析狀態的方法，其特征在于，該方法包括：
s1，設定三組分合金為ABC合金，A為高質量比例合金金屬元素，B和C為低質量比例的合金金屬元素；通過公式W1＝E(A-B)-1/2[E(A-A)+E(B-B)]，W2＝E(A-C)-1/2[E(A-A)+E(C-C)]，W3＝E(B-C)-1/2[E(C-C)+E(B-B)]計算W1、W2和W3的值，其中E(A-A)為形成A-A鍵所需的鍵能，E(B-B)為形成B-B鍵所需的鍵能，E(C-C)為形成C-C鍵所需的鍵能，E(A-B)為形成A-B鍵所需的鍵能，E(A-C)為形成A-C鍵所需的鍵能，E(B-C)為形成B-C鍵所需的鍵能，在A-A、B-B、C-C、A-B、A-C或B-C鍵不存在鍵能時，鍵能取值為0；
s2，根據W1和W2的值判定合金材料的表面偏析狀態，當W1和W2≥0，ABC合金不發生表面偏析；當W1和W2中至少一個小于0，ABC合金發生表面偏析。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京康普錫威科技有限公司，未經北京康普錫威科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.17sss.com.cn/pat/books/201810926332.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
