本發明提供元素分析裝置和元素分析方法，通過使用具有本發明的單流路的試樣導入裝置的分析裝置，能夠簡單地進行預處理，通過降低基于共存成分的影響的干涉，能夠迅速地進行高精度的分析。該分析裝置將填充了能夠選擇性地捕捉測定對象的目標成分的樹脂的柱搭載于單流路系統的試樣導入裝置，在試樣溶液中的目標成分的濃度較高的情況下，能夠減少試樣溶液的導入量，在濃度較低的情況下，能夠通過增加試樣溶液的導入量來控制靈敏度，從而不需要與目標成分的濃度對應的試樣從試樣導入口導入之前的稀釋或濃縮處理。該單流路系統的試樣導入裝置能夠利用分析裝置自身所具有的抽吸力將試樣溶液導入到分析裝置中。

技術領域

本發明是涉及在試樣導入時能夠在單流路系統中使用螯合樹脂等固體提取填充劑等來進行與稀釋、濃縮以及干涉物質去除相當的預處理的元素分析裝置的技術，尤其涉及試樣導入裝置和試樣導入方法的發明。

背景技術

以往，在利用原子吸收光度計(atomic absorption photometer)或ICP發光分光分析裝置等元素分析裝置測定目標成分(元素)的情況下，需要根據所使用的分析裝置的靈敏度來調整測定的試樣溶液中的目標成分的信號強度。具體而言，在信號強度相對于分析裝置的靈敏度較高的情況下，事先進行測定試樣溶液的稀釋，在信號強度較低的情況下，同樣地進行測定試樣溶液的濃縮。另外，在因試樣溶液所含有的共存成分而引起的化學干涉、或源自試樣溶液的粘性或表面張力的差異而引起物理干涉的情況下，以不發生這些影響的方式對試樣溶液進行稀釋、或通過預處理將共存成分從目標成分分離從而抑制干涉。

作為預處理方法而公開了如下技術：在包含泵和閥的系統中使用螯合樹脂等來在線(online)進行預處理。在一個例子中，使用多臺恒流泵，并且設置對多臺泵進行序列控制的控制系統，形成雙流路系統以上的試樣導入部(專利文獻1或2)。在另一個例子中，將流動注射系統編入到試樣導入系統中，使用泵來交替通入通過切換六通閥來洗脫試樣溶液和目標成分的溶液，溶出捕獲劑所捕捉的目標成分(專利文獻3)。并且，也公開了專用于重金屬分析的方法(專利文獻4)。另外，也公開了捕捉劑自身的技術，為將利用分批法進行了預處理的試樣溶液導入到分析裝置中而離線進行測定的方法(專利文獻5、6)。

專利文獻1：日本實愿昭60-117890

專利文獻2：日本特開昭62-266460

專利文獻3：日本特開2004-85517

專利文獻4：日本特開2013-64603

專利文獻5：日本特開2006-53001

專利文獻6：日本特許第4357387號

在利用原子吸收光度計或ICP發光分析裝置等元素分析裝置測定目標成分的情況下，需要在能夠利用所使用的分析裝置來進行測定的靈敏度的范圍內確定標準曲線(standard curve)濃度，需要在大幅高于分析裝置的靈敏度的情況下，對試樣溶液進行稀釋，在靈敏度不足的情況下對試樣溶液進行濃縮。

并且，由于在存在源自所包含的雜質成分等的化學干涉或源自粘性等的物理干涉的試樣溶液中出現與標準液的靈敏度差，因此需要進行標準添加法等繁雜的溶液制備。另外，在將雜質成分多的試樣溶液或目標成分為高濃度的試樣溶液導入到裝置中的情況下，也存在如下課題：為了在使用多個泵等的分支較多的導入系統中去除累積在分支點的污染，需要延長清洗時間等而使分析時間長時間化。并且，若導入系統伸長，則所使用的試樣溶液、清洗液以及標準溶液等的溶液量的容量也增加，從而有時難于對應微量試樣。

如上所述，存在如下課題：適于所使用的元素分析裝置的靈敏度的目標成分的濃度調整不僅僅是稀釋和濃縮處理，需要考慮試樣溶液的表征(characterization)等，因而并不簡單。

發明內容