技術領域

本實用新型涉及一種射頻測試頭，尤其涉及一種卡爪型射頻測試頭。

背景技術

目前在智能手機測試中，通常都是用射頻測試頭與手機主板上的射頻開關(或板端連接器)連接：射頻測試頭金屬內芯在彈簧的壓力下深入射頻開關(或板端連接器)內部與射頻開關內金屬簧片(或板端連接器金屬內芯)連接導通；射頻測試頭內凹型剛性金屬外導體在彈簧的壓力下與射頻開關(板端連接器)外圓金屬導體端面接觸導通。

而在實際測試中，因為治具精度原因，射頻測試頭經常在連接過程中產生小幅度的偏斜，使得射頻測試頭外導體與射頻開關(或板端連接器)外導體間并不是整個端面接觸，而僅僅是一點接觸，接觸可靠性差，從而導致誤測率高，嚴重影響測試效率和測試的準確性。

實用新型內容

本實用新型的目的是解決現有技術中的問題，提供一種卡爪型射頻測試頭。

本實用新型的技術方案是：一種卡爪型射頻測試頭，其特征在于，包括第一外導體、第二外導體、第三外導體、第四外導體和恢復彈簧；所述第一外導體安裝在安裝底座的內部；所述第二外導體位于所述第一外導體的頂端，恢復彈簧套設于所述第一外導體，位于第二外導體的底部；所述第三外導體內置于所述第二外導體內；所述第四外導體內置于所述第三外導體內，并套設于所述第二外導體的上半部；所述第四外導體的頂部設有至少兩片彈性卡爪；所述第二外導體的頂部伸入至該彈性卡爪的下方。

優選地，所述第四外導體的彈性卡爪為四片。

優選地，所述第三外導體與所述第四外導體之間具有活動縫隙。

優選地，所述測試頭分為連接端和測試端；所述連接端和測試端安裝在所述安裝底座的兩側；所述金屬內芯伸入至所述連接端和測試端內。

優選地，所述金屬內芯由第一外導體伸入至第三外導體。

本實用新型通過彈性卡爪外導體實現穩定多點接觸，增強了接觸的可靠性，有效的降低了誤測率，提高了測試的準確性。

附圖說明

圖1為本實用新型的立體圖；

圖2為本實用新型的側視圖；

圖3為圖2的A-A剖視圖；

圖4為本實用新型中第四外導體的立體圖。

具體實施方式

為了使本實用新型實現的技術手段、技術特征、實用新型目的與技術效果易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本實用新型。

如圖1至圖4所示，為本實用新型的一種卡爪型射頻測試頭，該測試頭分為連接端1和測試端2；所述連接端1和測試端2安裝在安裝底座3的兩側；金屬內芯4伸入至所述連接端1和測試端2內。

所述測試端1包括第一外導體11、第二外導體12、第三外導體13、第四外導體14和恢復彈簧15。

所述第一外導體11安裝在安裝底座3的內部；所述第二外導體12位于所述第一外導體11的頂端，恢復彈簧15套設于所述第一外導體11，位于第二外導體12的底部，以實現對第二外導體12的位置恢復。

所述第三外導體13內置于所述第二外導體12內；所述第四外導體14內置于所述第三外導體13內，并套設于所述第二外導體12的上半部；所述第四外導體14的頂部設有至少四片彈性卡爪140；所述第二外導體12的頂部伸入至該彈性卡爪140的下方。

本實用新型中第三外導體13與所述第四外導體14之間具有活動縫隙，以保證彈性卡爪140具有一定的活動空間，達到彈性卡爪140與射頻開關5(或板端連接器)外導體始終保持彈性多點接觸的目的。

當本實用新型與射頻開關5(或板端連接器)連接時，彈性卡爪140的前端導向沿射頻開關5(或板端連接器)外導體外圓滑動推進，因彈性卡爪140開槽處孔徑小于射頻開關(或板端連接器)外導體外圓所以推進過程中，彈性卡爪140被射頻開關5(或板端連接器)外導體擠入而漲開，彈性卡爪140在過程中一直保持夾緊射頻開關(或板端連接器)外導體外圓狀態，直至射頻開關5(或板端連接器)端面與卡爪內圓柱形金屬平臺壓緊，連接到位。

在上述整個連接過程中，無論本實用新型射頻測試頭是否小幅度偏斜，彈性卡爪140與射頻開關5(或板端連接器)外導體始終保持彈性多點接觸，接觸可靠性增強，從而有效降低誤測率，提高測試效率和測試準確性。

本實用新型通過彈性卡爪外導體實現穩定多點接觸，增強了接觸的可靠性，有效的降低了誤測率，提高了測試的準確性。

綜上所述僅為本實用新型較佳的實施例，并非用來限定本實用新型的實施范圍。即凡依本實用新型申請專利范圍的內容所作的等效變化及修飾，皆應屬于本實用新型的技術范疇。