1.一種電阻率測量裝置，其特征在于，包括加熱爐(1)、夾緊裝置(2)、電阻測量單元(3)和處理單元(4)；

所述夾緊裝置(2)用于從待測樣品(5)的兩側夾緊所述待測樣品(5)，以使所述待測樣品(5)固定于所述加熱爐(1)內；

所述電阻測量單元(3)包括雙單電橋測量電路(31)、雙臂電橋測量電路(32)和開關(33)，其中，所述待測樣品(5)分別接入所述雙單電橋測量電路(31)和所述雙臂電橋測量電路(32)；所述開關(33)具有第一工作位和第二工作位，當所述開關(33)位于所述第一工作位時，所述雙單電橋測量電路(31)處于工作狀態，以利用所述雙單電橋測量電路(31)獲取所述待測樣品(5)的阻值，當所述開關(33)位于所述第二工作位時，所述雙臂電橋測量電路(32)處于工作狀態，以利用所述雙臂電橋測量電路(32)獲取所述待測樣品(5)的阻值；

所述處理單元(4)用于根據所述待測樣品(5)的阻值以及所述待測樣品(5)與所述夾緊裝置(2)之間的接觸面積、所述待測樣品(5)的長度來確定所述待測樣品(5)的電阻率。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述處理單元(4)還用于根據所述待測樣品(5)的阻值，控制所述開關(33)的工作位的切換操作。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述處理單元(4)用于根據所述待測樣品(5)的阻值，控制所述開關(33)的工作位的切換操作，包括：

所述處理單元(4)用于在利用所述雙單電橋測量電路(31)獲取到的所述待測樣品(5)的阻值滿足第一預設條件時，切換所述開關(33)到所述第二工作位，以切換為利用所述雙臂電橋測量電路(32)獲取所述待測樣品(5)的阻值，其中，所述第一預設條件包括：所述阻值大于或等于目標阻值；或者，所述阻值小于所述目標阻值且與所述目標阻值之差小于第一預設差值；

用于在利用所述雙臂電橋測量電路(32)獲取到的所述待測樣品(5)的阻值滿足第二預設條件時，切換所述開關(33)到所述第一工作位，以切換為利用所述雙單電橋測量電路(31)獲取所述待測樣品(5)的阻值，其中，所述第二預設條件包括：所述阻值小于或等于所述目標阻值；或者，所述阻值大于所述目標阻值且與所述目標阻值之差小于第二預設差值。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述夾緊裝置(2)包括第一頂絲(21)、第二頂絲(22)、第一固定樁(23)、第二固定樁(24)、第一頂桿(25)、第二頂桿(26)、第一彈簧(27)和第二彈簧(28)，其中，所述第一頂絲(21)、所述第一固定樁(23)、所述第一頂桿(25)和所述第一彈簧(27)位于所述加熱爐(1)的一側，所述第二頂絲(22)、所述第二固定樁(24)、所述第二頂桿(26)和所述第二彈簧(28)位于所述加熱爐(1)的另一側，所述第一頂絲(21)和所述第一頂桿(25)的一端之間通過所述第一彈簧(27)連接，所述第二頂絲(22)和所述第二頂桿(26)的一端之間通過所述第二彈簧(28)連接，其中，所述第一固定樁(23)上設置有第一插孔，所述第一頂絲(21)插入到所述第一固定樁(23)的所述第一插孔內，以通過所述第一固定樁(23)固定所述第一頂絲(21)，所述第二固定樁(24)上設置有第二插孔，所述第二頂絲(22)插入到所述第二固定樁(24)的所述第二插孔內，以通過所述第二固定樁(24)固定所述第二頂絲(22)，所述第一頂桿(25)的另一端和所述第二頂桿(26)的另一端貼附有導電片(29)，所述待測樣品(5)夾設于兩個導電片(29)之間，并通過所述導電片(29)分別接入所述雙單電橋測量電路(31)和所述雙臂電橋測量電路(32)。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述導電片(29)為鉑金片。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

防氧化裝置(6)，放置于所述加熱爐(1)內，所述防氧化裝置(6)內充有保護氣體，用于防止所述待測樣品(5)被氧化。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述保護氣體為氬氣。

8.根據權利要求1-5中任一項所述的裝置，其特征在于，所述待測樣品(5)為二氧化錫電極磚。