[發明專利]射頻標簽讀寫設備、定位方法及系統有效
| 申請號: | 201711024678.3 | 申請日: | 2017-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN107818278B | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發明(設計)人: | 黃明輝;張斌 | 申請(專利權)人: | 北京騰文科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/10 | 分類號: | G06K7/10 |
| 代理公司: | 北京信遠達知識產權代理有限公司 11304 | 代理人: | 魏曉波 |
| 地址: | 100085 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射頻 標簽 讀寫 設備 定位 方法 系統 | ||
1.一種射頻標簽讀寫設備的定位方法,其特征在于,應用于射頻標簽讀寫設備,所述射頻標簽讀寫設備包括多個天線,所述射頻標簽讀寫設備的定位方法包括:
接收至少一個天線采集的射頻識別標簽的數據信息,所述射頻識別標簽在所述至少一個天線的覆蓋區域內,所述數據信息包括所述射頻識別標簽與采集所述射頻識別標簽的天線的距離信息;
確定所述至少一個天線在預設采樣周期內采集所述射頻識別標簽的數據信息的實際采集次數;
依據所述至少一個天線相應的實際采集次數,從所述至少一個天線中確定出目標天線,所述目標天線的覆蓋區域為所述射頻識別標簽所在區域;
所述依據所述至少一個天線相應的實際采集次數,從所述至少一個天線中確定出目標天線包括:
依據預先設置的采樣時間與所述預設采樣周期,確定在所述預設采樣周期內的理論采集次數;
將所述至少一個天線中,實際采集次數大于等于所述理論采集次數與第一預設系數乘積的天線,確定為所述目標天線;
當所述至少一個天線相應的實際采集次數均小于所述理論采集次數與所述第一預設系數乘積時,確定所述至少一個天線相應的實際采集次數中包括,至少兩個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與第二預設系數乘積,所述第一預設系數大于所述第二預設系數;
分別將所述至少兩個天線在所述預設采樣周期內采集的各距離信息進行預設計算,獲得所述至少兩個天線相應的目標距離;
將所述至少兩個天線相應的目標距離中最小的目標距離對應的天線,確定為所述目標天線,所述目標天線的覆蓋區域為所述射頻識別標簽所在區域。
2.根據權利要求1所述射頻標簽讀寫設備的定位方法,其特征在于,所述第二預設系數包括第一子系數、第二子系數和第三子系數,所述第一子系數大于所述第二子系數,所述第二子系數大于所述第三子系數,所述確定所述至少一個天線相應的實際采集次數中包括,至少兩個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與第二預設系數乘積包括:
確定所述至少一個天線中包括至少兩個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與所述第一子系數的乘積;
當所述至少一個天線中不包括至少兩個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與所述第一子系數的乘積時,確定所述至少一個天線中包括至少三個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與所述第二子系數的乘積;
當所述至少一個天線中不包括至少三個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與所述第二子系數的乘積時,確定所述至少一個天線中包括至少四個天線相應的實際采集次數大于等于所述理論采集次數與所述第三子系數的乘積。
3.根據權利要求1所述射頻標簽讀寫設備的定位方法,其特征在于,所述依據所述至少一個天線相應的實際采集次數與所述理論采集次數,從所述至少一個天線中確定出目標天線還包括:
將所述至少一個天線中實際采集次數小于等于預設次數的天線,確定為干擾天線。
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