[發(fā)明專利]光譜分析設(shè)備、光譜分析方法以及光譜圖顯示的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710684328.3 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107462327B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 新田尚 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
| 主分類號(hào): | G01J3/02 | 分類號(hào): | G01J3/02;G01J3/28;G01N15/14 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜分析 設(shè)備 方法 以及 光譜 顯示 | ||
1.一種光譜分析設(shè)備,包括:
處理單元,被配置為以光譜圖生成分析數(shù)據(jù),在所述光譜圖中,一個(gè)軸表示具有不同檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)光接收元件的檢測(cè)通道號(hào),且另一軸表示分析函數(shù)的輸出值,在所述分析函數(shù)中,包括作為函數(shù)元素的線性函數(shù)和對(duì)數(shù)函數(shù)且強(qiáng)度值被設(shè)置為來(lái)自測(cè)量數(shù)據(jù)的變量,所述測(cè)量數(shù)據(jù)包括通過(guò)檢測(cè)來(lái)自測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒的光而獲取的光的強(qiáng)度值,
其中,至少具有長(zhǎng)波長(zhǎng)的檢測(cè)通道的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬比具有短波長(zhǎng)的檢測(cè)通道的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬寬,
其中,所述處理單元被配置為通過(guò)應(yīng)用對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值小于預(yù)定值的數(shù)據(jù)線性函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)以及對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值大于預(yù)定值的數(shù)據(jù)對(duì)數(shù)函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)的函數(shù)作為分析函數(shù)來(lái)生成所述分析數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜分析設(shè)備,包括:
測(cè)量單元,被配置為檢測(cè)從所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒發(fā)射的熒光,并將所檢測(cè)的熒光的強(qiáng)度轉(zhuǎn)換成電信號(hào),以作為所述測(cè)量數(shù)據(jù)輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光譜分析設(shè)備,其中,所述測(cè)量單元包括照射系統(tǒng),所述照射系統(tǒng)將來(lái)自光源的光會(huì)聚/照射到所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光譜分析設(shè)備,其中,所述測(cè)量單元包括檢測(cè)系統(tǒng),所述檢測(cè)系統(tǒng)包括:光譜分離元件,所述光譜分離元件光譜分離從所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒發(fā)射的熒光;和光接收元件陣列,檢測(cè)光譜分離的所述熒光。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光譜分析設(shè)備,
其中,所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒以一行被布置在形成在流動(dòng)池中或微芯片上的流路內(nèi)部并通過(guò)所述流路。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光譜分析設(shè)備,
其中,所述光接收元件陣列包括具有不同檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)獨(dú)立檢測(cè)通道的陣列。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜分析設(shè)備,其中,關(guān)于所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒的數(shù)量的信息由色彩的灰度、色調(diào)表示。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜分析設(shè)備,
其中,通過(guò)從包括通過(guò)使用具有不同檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)光接收元件檢測(cè)來(lái)自測(cè)量樣本的光所獲得的強(qiáng)度值的測(cè)量數(shù)據(jù)中減去包括通過(guò)使用具有不同檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)光接收元件檢測(cè)來(lái)自對(duì)照樣本的光所獲得的強(qiáng)度值的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)校正背景值。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光譜分析設(shè)備,其中,所述測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒被單染色、無(wú)染色或多染色。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光譜分析設(shè)備,其中,所述光源的波長(zhǎng)周圍的所檢測(cè)的熒光被限制以防止所述光源泄露。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜分析設(shè)備,其中,所述處理單元根據(jù)每個(gè)光接收元件的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬校正所述強(qiáng)度值并生成所述分析數(shù)據(jù)。
12.一種細(xì)顆粒測(cè)量設(shè)備,包括:
根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜分析設(shè)備。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的細(xì)顆粒測(cè)量設(shè)備,其中,所述細(xì)顆粒測(cè)量設(shè)備是光譜流式細(xì)胞儀。
14.一種利用流式細(xì)胞儀進(jìn)行光譜分析的方法,包括:
以光譜圖生成分析數(shù)據(jù),在所述光譜圖中,一個(gè)軸表示具有不同檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)光接收元件的檢測(cè)通道號(hào),且另一軸表示分析函數(shù)的輸出值,在所述分析函數(shù)中,包括作為函數(shù)元素的線性函數(shù)和對(duì)數(shù)函數(shù)且強(qiáng)度值被設(shè)置為來(lái)自測(cè)量數(shù)據(jù)的變量,所述測(cè)量數(shù)據(jù)包括通過(guò)檢測(cè)來(lái)自測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒的光而獲取的光的強(qiáng)度值,
其中,至少具有長(zhǎng)波長(zhǎng)的檢測(cè)通道的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬比具有短波長(zhǎng)的檢測(cè)通道的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬寬,
其中,通過(guò)應(yīng)用對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值小于預(yù)定值的數(shù)據(jù)線性函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)以及對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值大于預(yù)定值的數(shù)據(jù)對(duì)數(shù)函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)的函數(shù)作為分析函數(shù)來(lái)生成所述分析數(shù)據(jù)。
15.一種光譜分析設(shè)備,包括:
處理單元,被配置為使用分析函數(shù)來(lái)生成分析數(shù)據(jù),在所述分析函數(shù)中,包括作為函數(shù)元素的線性函數(shù)和對(duì)數(shù)函數(shù)且強(qiáng)度值被設(shè)置為來(lái)自測(cè)量數(shù)據(jù)的變量,所述測(cè)量數(shù)據(jù)包括通過(guò)使用具有不同的檢測(cè)波長(zhǎng)帶的多個(gè)光接收元件檢測(cè)來(lái)自測(cè)量目標(biāo)細(xì)顆粒的光而獲取的光的強(qiáng)度值,
其中,所述處理單元被配置為根據(jù)所述多個(gè)光接收元件的檢測(cè)波長(zhǎng)帶寬度和相對(duì)靈敏度來(lái)校正所述強(qiáng)度值,
其中,所述處理單元被配置為通過(guò)應(yīng)用對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值小于預(yù)定值的數(shù)據(jù)線性函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)以及對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)中強(qiáng)度值大于預(yù)定值的數(shù)據(jù)對(duì)數(shù)函數(shù)被設(shè)為主函數(shù)的函數(shù)作為分析函數(shù)來(lái)生成分析數(shù)據(jù)。
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