技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于膜分類的系統(tǒng)和方法，更具體地，涉及一種用于檢驗(yàn)偏光膜中是否出現(xiàn)故障的系統(tǒng)和方法。

背景技術(shù)

光學(xué)膜可能具有引起在制造工藝中或在管理制造工藝期間發(fā)生的故障的問(wèn)題。當(dāng)在涂覆工藝中將配向?qū)油扛惨夯蛞壕扛惨和扛驳侥ど蠒r(shí)，在成膜工藝中在膜上出現(xiàn)的細(xì)微缺陷(例如，裂縫、或不均勻的缺陷)可能導(dǎo)致涂覆故障。此外，由膜的細(xì)微缺陷引起的涂覆故障可能使作為最終產(chǎn)品的光學(xué)膜的光學(xué)特性變差。

與光學(xué)膜有關(guān)的故障是LCD面板或PDP模塊上的缺陷或損壞的主要原因。為了防止包括該故障元件的光學(xué)膜的泄漏，膜制造商趨向于引入光學(xué)膜的自動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備并且應(yīng)用到檢驗(yàn)工藝中。

通常，有兩種對(duì)光學(xué)膜的檢驗(yàn)方法，其中，方法之一是在切割由連續(xù)過(guò)程制造的光學(xué)膜之前，檢驗(yàn)處于原始膜狀態(tài)下該光學(xué)膜的方法，另一種方法是在將光學(xué)膜切割成合適的尺寸之后，檢驗(yàn)處于片型(sheet)狀態(tài)下的光學(xué)膜的片型方法。

在常規(guī)的檢驗(yàn)過(guò)程中，當(dāng)在片型狀態(tài)下檢驗(yàn)時(shí)，最多可檢驗(yàn)僅僅達(dá)兩列光學(xué)膜。而且，在三列或更多列的片型狀態(tài)下，不可能執(zhí)行對(duì)光學(xué)膜的檢驗(yàn)，或如果可能，故障的誤判斷率很高。因此，存在這樣的問(wèn)題：光學(xué)膜檢驗(yàn)和分類方法的效率降低。韓國(guó)專利公開(kāi)No.10-2010-0135788(在2010年12月27日公布)公開(kāi)了一種用于對(duì)偏光膜分類的系統(tǒng)和方法，然而，其未建議解決上述問(wèn)題的可替選的理念。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于膜分類的系統(tǒng)和方法，所述系統(tǒng)和方法有效地將偏光膜分類成良好產(chǎn)品或缺陷產(chǎn)品。

此外，本發(fā)明的另一目的是提供一種用于膜分類的系統(tǒng)和方法，所述系統(tǒng)和方法能夠甚至在三列或更多列的狀態(tài)下而自動(dòng)地對(duì)膜分類。

而且，本發(fā)明的另一目的是提供一種用于膜分類的系統(tǒng)和方法，所述系統(tǒng)和方法能夠縮短被配置成順序式(in-line)系統(tǒng)的檢驗(yàn)設(shè)備、切割設(shè)備和分類設(shè)備的檢驗(yàn)時(shí)間。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種膜分類系統(tǒng)，包括：切割設(shè)備，所述切割設(shè)備被配置成將原始膜切割成多個(gè)預(yù)定列以準(zhǔn)備片型膜；分類設(shè)備，所述分類設(shè)備被配置成在所述片型膜移動(dòng)期間，將所述片型膜分成良好產(chǎn)品或缺陷產(chǎn)品；以及控制器，所述控制器被配置成基于各個(gè)所述片型膜的移動(dòng)情況信息而控制所述分類設(shè)備。

在本文中，所述切割設(shè)備可以將所述原始膜切割成至少三列。

而且，所述分類設(shè)備可以包括空氣噴射設(shè)備，并且所述空氣噴射設(shè)備可以包括多個(gè)噴氣嘴，從而操作與缺陷片型膜的列相對(duì)應(yīng)的噴氣嘴。

而且，所述控制器可以接收來(lái)自檢驗(yàn)設(shè)備和編碼器的信息，從而控制所述分類設(shè)備，所述檢驗(yàn)設(shè)備被配置成檢測(cè)所述原始膜上的缺陷標(biāo)記或雜質(zhì)，并且編碼器被配置成測(cè)量器械的移動(dòng)速度，所述原始膜在所述器械上移動(dòng)。

而且，所述分類設(shè)備可以接收由所述控制器計(jì)算的分類時(shí)間和對(duì)應(yīng)于缺陷膜列的信息，從而通過(guò)所述噴氣嘴供應(yīng)空氣。

而且，多個(gè)所述噴氣嘴可被布置用于與所述多個(gè)片型膜中的每一者相對(duì)應(yīng)的每一列。

而且，所述分類設(shè)備可以包括：第一傳送器，所述第一傳送器被配置成將切割成多列的所述片型膜傳送到所述空氣噴射設(shè)備；第二傳送器，所述第二傳送器被配置成傳送良好片型膜；以及第三傳送器，所述第三傳送器被配置成傳送缺陷片型膜。

而且，所述分類設(shè)備可以包括第一軋輥，所述第一軋輥被配置成，當(dāng)至少三個(gè)或更多個(gè)所述片型膜通過(guò)所述空氣噴射設(shè)備時(shí)，防止所述膜由于其彎曲而干擾所述噴氣嘴。

而且，所述分類設(shè)備可以包括彎曲導(dǎo)向件，所述彎曲導(dǎo)向件被配置成幫助所述片型膜，從而穩(wěn)定地進(jìn)入到所述第一軋輥中。

而且，所述分類設(shè)備可以包括第二軋輥，所述第二軋輥被配置成防止先前給分類到所述第三傳送器的所述缺陷膜干擾從所述噴氣嘴連續(xù)噴射出的空氣。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種膜分類方法，包括：通過(guò)切割設(shè)備，將原始膜切割成多個(gè)預(yù)定列以制備片型膜；通過(guò)分類設(shè)備，在所述片型膜移動(dòng)期間，將所述片型膜分成良好產(chǎn)品或缺陷產(chǎn)品；以及通過(guò)控制器，基于各個(gè)所述片型膜的移動(dòng)情況信息而控制所述分類設(shè)備。

而且，通過(guò)所述切割設(shè)備，可將所述原始膜切割成至少三列的片型膜狀態(tài)。

而且，所述控制器可以基于與由檢驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)到的所述原始膜上的缺陷標(biāo)記或雜質(zhì)相關(guān)的檢測(cè)信號(hào)、以及從編碼器發(fā)送的器械的移動(dòng)速度，控制所述分類設(shè)備，其中，所述原始膜在所述器械上移動(dòng)。