[發明專利]數據檢測裝置有效
| 申請號： | 201710044766.3 | 申請日： | 2014-10-22 |
| 公開（公告）號： | CN106813688B | 公開（公告）日： | 2019-11-01 |
| 發明（設計）人： | 海老根徹;奧村宏克;小田切秀行;常田晴宏 | 申請（專利權）人： | 日本電產三協株式會社 |
| 主分類號： | G01D5/12 | 分類號： | G01D5/12 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 沈捷 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 數據 檢測 裝置 | ||
1.一種數據檢測裝置，其特征在于，具有：
第一檢測部；
第二檢測部；
數據獲取部，其在按照每一固定時間設定有多個時點的數據檢測期間內，在第奇數次與第偶數次中的一方的時點獲取來自所述第一檢測部的第一數據，并且在第奇數次與第偶數次中的另一方的時點獲取來自所述第二檢測部的第二數據；以及
檢測值決定部，其基于所述第一數據決定所述數據檢測期間內的第一檢測值，基于所述第二數據決定所述數據檢測期間內的第二檢測值，
在所述數據獲取部中，將在所述數據檢測期間內獲取所述第一數據的次數與獲取所述第二數據的次數之和設為三次以上的奇數次。
2.根據權利要求1所述的數據檢測裝置，其特征在于，
在所述數據獲取部中，將在所述數據檢測期間內獲取所述第一數據的次數與獲取所述第二數據的次數之和設為五次以上。
3.根據權利要求2所述的數據檢測裝置，其特征在于，
所述第一檢測部連續輸出第一模擬數據，并且所述第二檢測部連續輸出第二模擬數據，
設置將所述第一模擬數據與所述第二模擬數據交替地轉換為數字數據的A/D轉換器，
在所述數據獲取部中，通過所述A/D轉換器，以在所述一方的時點將所述第一模擬數據轉換為數字數據的結果作為所述第一數據，以在所述另一方的時點將所述第二模擬數據轉換為數字數據的結果作為所述第二數據。
4.根據權利要求1至3中的任一項所述的數據檢測裝置，其特征在于，
在所述檢測值決定部中，根據所述第一數據的算術平均數決定所述第一檢測值，根據所述第二數據的算數平均數決定所述第二檢測值。
5.根據權利要求1至3中的任一項所述的數據檢測裝置，其特征在于，
在所述檢測值決定部中，將所述第一數據相加從而算出所述第一檢測值，將所述第二數據相加從而算出所述第二檢測值，
在算出所述第一檢測值與算出所述第二檢測值的至少一方中，通過乘以相對于所述數據檢測期間的中間在前側與后側對稱的系數的加權和計算，使所述第一檢測值的位長與所述第二檢測值的位長一致。
6.根據權利要求5所述的數據檢測裝置，其特征在于，
將在靠近所述數據檢測期間的中間的時點獲取的數據乘以比在離所述數據檢測期間的中間較遠的時點獲取的數據大的系數進行加權和計算。
7.根據權利要求6所述的數據檢測裝置，其特征在于，
所述系數為2的冪。
8.根據權利要求3所述的數據檢測裝置，其特征在于，
所述第一檢測部為磁阻元件的第一磁阻膜，
所述第二檢測部為所述磁阻元件的第二磁阻膜，
所述第一磁阻膜基于來自與所述磁阻元件相對旋轉的磁鐵的磁場變化，輸出由正弦波構成的第一模擬數據，
所述第二磁阻膜基于來自所述磁鐵的磁場變化，輸出由余弦波構成的第二模擬數據，
基于與所述檢測值決定部決定的所述第一檢測值和所述第二檢測值對應的反正切算出所述磁鐵相對于所述磁阻元件的角度位置。
9.根據權利要求8所述的數據檢測裝置，其特征在于，
在所述檢測值決定部中，根據所述第一數據的算術平均數決定所述第一檢測值，根據所述第二數據的算數平均數決定所述第二檢測值。
10.根據權利要求9所述的數據檢測裝置，其特征在于，
設置有時點控制部，該時點控制部對在所述A/D轉換器中從所述第一模擬數據獲取所述第一數據并從所述第二模擬數據獲取所述第二數據的時點進行控制，
連續設定所述數據檢測期間，
在所述時點控制部中，對條件進行切換，以使所述多個時點中的第奇數次的數據獲取和偶數次的數據獲取交替，藉此，
若在所述數據檢測期間內，在第奇數次的時點獲取所述第一數據且在第偶數次獲取所述第二數據，
則在下一次所述數據檢測期間內，在第偶數次獲取所述第一數據且在第奇數次獲取所述第二數據。
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