[發明專利]測距模塊、測距系統和控制測距模塊的方法在審
| 申請號: | 201680043451.0 | 申請日: | 2016-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN107850668A | 公開(公告)日: | 2018-03-27 |
| 發明(設計)人: | 大木光晴 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G01S17/08 | 分類號: | G01S17/08;G01S17/89 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司11290 | 代理人: | 曹正建,陳桂香 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測距 模塊 系統 控制 方法 | ||
1.一種測距模塊,其包括:
受光單元,其用于接收來自物體的反射光,并且每當經過預定檢測時段時檢測所述預定檢測時段內的所述反射光的受光量;
判定單元,其用于判定所述物體是否在每個所述預定檢測時段期間移動;以及
測距單元,其用于基于在判定出所述物體沒有移動時的所述預定檢測時段內的所述受光量來測量至所述物體的距離。
2.根據權利要求1所述的測距模塊,其中,
所述預定檢測時段包括彼此不同的第一檢測時段和第二檢測時段,
在所述第一檢測時段期間,在從彼此不同的第一受光開始時刻、第二受光開始時刻、第三受光開始時刻和第四受光開始時刻之中的所述第一受光開始時刻和所述第二受光開始時刻開始的各預定受光時段內,所述受光單元接收所述反射光并檢測第一受光量和第二受光量,并且在所述第二檢測時段期間,在從所述第三受光開始時刻和所述第四受光開始時刻開始的各所述預定受光時段內,所述受光單元接收所述反射光并檢測第三受光量和第四受光量,且
所述測距單元基于所述第一受光量和所述第二受光量之間的差值與所述第三受光量和所述第四受光量之間的差值的比值來測量所述距離。
3.根據權利要求2所述的測距模塊,其還包括:
第一延遲單元,其用于延遲所述第一受光量和所述第二受光量,并將延遲后的所述第一受光量和所述第二受光量作為第一當前受光量和第二當前受光量輸出;
第二延遲單元,其用于延遲所述第三受光量和所述第四受光量,并將延遲后的所述第三受光量和所述第四受光量作為第三當前受光量和第四當前受光量輸出;以及
第三延遲單元,其用于延遲所述第三當前受光量和所述第四當前受光量,并將延遲后的所述第三當前受光量和所述第四當前受光量作為第三之前受光量和第四之前受光量輸出,
其中,所述判定單元基于所述第一當前受光量和所述第二當前受光量的總和與所述第三當前受光量和所述第四當前受光量的總和之間的差值來判定所述物體是否在所述第一檢測時段和所述第二檢測時段中的任一者期間移動。
4.根據權利要求3所述的測距模塊,其中,
在判定出所述物體在所述第一檢測時段和所述第二檢測時段中的任一者期間移動的情況下,所述判定單元基于所述第三之前受光量和所述第四之前受光量的總和與所述第一當前受光量和所述第二當前受光量的總和之間的差值來判定所述物體是否在所述第一檢測時段期間移動,且
在所述物體被判定出在所述第一檢測時段期間移動的情況下,所述測距單元基于所述第三當前受光量和所述第四當前受光量之間的差值與所述第一當前受光量和所述第二當前受光量之后的所述第一受光量和所述第二受光量之間的差值的比值來測量所述距離。
5.根據權利要求3所述的測距模塊,其中,
在判定出所述物體在所述第一檢測時段和所述第二檢測時段中的任一者期間移動的情況下,所述判定單元基于所述第一當前受光量和所述第二當前受光量之后的所述第一受光量和所述第二受光量的總和與所述第三當前受光量和所述第四當前受光量的總和之間的差值來判定所述物體是否在所述第二檢測時段期間移動,且
在所述物體被判定出在所述第二檢測時段期間移動的情況下,所述測距單元基于所述第一之前受光量和所述第二之前受光量之間的差值與所述第一當前受光量和所述第二當前受光量之間的差值的比值來測量所述距離。
6.根據權利要求3所述的測距模塊,其還包括:
第四延遲單元,其用于延遲所述第一受光量和所述第二受光量,并將延遲后的所述第一受光量和所述第二受光量作為之后的第一受光量和之后的第二受光量輸出至所述第一延遲單元;以及
第五延遲單元,其用于延遲所述第一當前受光量和所述第二當前受光量,并將延遲后的所述第一當前受光量和所述第二當前受光量作為第一之前受光量和第二之前受光量輸出。
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