[發明專利]用于監測激光材料加工的工作空間的裝置和方法有效
| 申請號： | 201611095345.5 | 申請日： | 2016-12-02 |
| 公開（公告）號： | CN106825913B | 公開（公告）日： | 2019-06-07 |
| 發明（設計）人： | E·萊斯穆勒;C·特魯克恩布羅德 | 申請（專利權）人： | 萊斯穆勒激光技術股份有限公司 |
| 主分類號： | B23K26/03 | 分類號： | B23K26/03;B23K26/046;G01S17/08;G01S17/88 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇;張會華 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量光束 監測裝置 加工系統 光束光學裝置 判定單元 反射 加工 反射測量光束 材料加工 高能加工 工作空間 環境區域 記錄單元 加工工件 加工區域 監測激光 空間受限 耦合 推導 判定 指向 檢測 | ||
1.一種用于加工系統的監測裝置(10)，所述加工系統用于借助高能加工光束(38)加工工件(W)，
其中，所述監測裝置(10)包括用于提供測量光束(18)的測量光束源(16)和用于檢測由環境反射的測量光束分量(24)的記錄單元(22)，
其中，所述監測裝置(10)設置為，將所述測量光束(18)耦合進所述加工系統的加工光束光學裝置(34)中，從而使所述測量光束(18)和所述加工光束(38)能夠指向環境中的共同位置，
其中，所述監測裝置(10)還設置為，依據測得的所述測量光束(18)的所述由環境反射的測量光束分量(24)得出至少一個距離值(d)，由所述距離值能夠推導出所述加工光束光學裝置(34)與反射所述測量光束(18)的撞擊點(X)的距離，
并且其中，所述監測裝置(10)還包括判定單元，所述判定單元用于判定測得的所述距離值(d)是否位于容許距離值范圍(Z)內，
所述距離值(d)的測定基于所述測量光束(18)的傳播時間的測量進行。
2.根據權利要求1所述的監測裝置(10)，其中，所述加工系統用于在空間受限的加工區域內借助高能加工光束(38)加工工件(W)。
3.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述傳播時間的測量通過飛行時間測量單元(14)進行，所述飛行時間測量單元包括所述測量光束源(16)和所述記錄單元(22)。
4.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述測量光束源(16)包括激光二極管和/或LED。
5.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述記錄單元(22)包括光電二極管。
6.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，依照由所述判定單元得出的判定結果影響所述加工系統的運行。
7.根據權利要求6所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，輸出警告信號和/或引發所述加工系統輸出警告信號。
8.根據權利要求6所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，限制或抑制所述加工系統的運行。
9.根據權利要求8所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，中斷所述加工系統的電源(28)。
10.根據權利要求6所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，產生用于調節所述加工光束(38)的控制信號。
11.根據權利要求10所述的監測裝置(10)，其中，所述監測裝置(10)設置為，產生用于調節所述加工光束(38)的聚焦位置的控制信號。
12.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，依據當前的加工狀況定義所述容許距離值范圍(Z)，和/或依據當前的加工狀況，通過所述監測裝置(10)測得所述容許距離值范圍。
13.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述加工光束光學裝置(34)包括至少一個共同的偏轉裝置(44)，所述測量光束(18)和所述加工光束(38)能夠通過所述偏轉裝置指向共同的撞擊點(X)。
14.根據權利要求13所述的監測裝置(10)，其中，由所述監測裝置(10)測得的所述距離值(d)表示所述共同的偏轉裝置(44)和環境的所述撞擊點(X)之間的距離。
15.根據權利要求1或2所述的監測裝置(10)，其中，所述判定單元設置為，檢測低于和/或超過所述容許距離值范圍(Z)的情況。
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