[發(fā)明專利]代碼缺陷的預(yù)測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611030122.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-11-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106708729B | 公開(公告)日: | 2019-10-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝新強(qiáng);唐亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東軟集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京鼎佳達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 劉喆;劉鐵生 |
| 地址: | 110179 遼*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 代碼缺陷信息 目標(biāo)代碼 屬性信息 缺陷庫(kù) 預(yù)測(cè) 存儲(chǔ)屬性信息 代碼缺陷檢測(cè) 人員工作量 獲取目標(biāo) 缺陷測(cè)試 預(yù)測(cè)目標(biāo) 消耗 輸出 | ||
本發(fā)明公開了一種代碼缺陷的預(yù)測(cè)方法及裝置,涉及代碼缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,本發(fā)明減少了代碼缺陷測(cè)試所消耗的人員工作量。本發(fā)明的技術(shù)方案為:獲取目標(biāo)代碼的屬性信息;根據(jù)代碼缺陷庫(kù)中的屬性信息和目標(biāo)代碼的屬性信息確定所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息,所述代碼缺陷庫(kù)中存儲(chǔ)屬性信息與代碼缺陷信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系;輸出與所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息,所述代碼缺陷信息用于預(yù)測(cè)所述目標(biāo)代碼存在的缺陷。本發(fā)明主要用于預(yù)測(cè)目標(biāo)代碼中存在的缺陷。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及代碼缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種代碼缺陷的預(yù)測(cè)方法及裝置。
背景技術(shù)
在軟件業(yè)蓬勃興起的大背景下,我們需要不斷提高軟件交付的質(zhì)量以滿足用戶日益提高的標(biāo)準(zhǔn)。軟件交付的質(zhì)量不僅取決于質(zhì)量體系的完善度,也建立在編程人員的技術(shù)水平基礎(chǔ)之上。當(dāng)一個(gè)龐大系統(tǒng)的開發(fā)人員頻繁變動(dòng),新老編程人員技術(shù)水平參差不齊時(shí),測(cè)試人員將會(huì)面臨巨大的代碼測(cè)試挑戰(zhàn)。
目前,在軟件交付時(shí)間壓力和支出成本的考量下,測(cè)試人員往往默認(rèn)此問(wèn)題存在,由其自行承擔(dān)代碼錯(cuò)誤解決的成本,或采用后期加大測(cè)試力度或提供額外培訓(xùn)的方法來(lái)減少代碼錯(cuò)誤。
但是,后期的測(cè)試在消耗了額外的時(shí)間及人力成本的同時(shí),代碼缺陷預(yù)測(cè)效果并不明顯;另外,雖然缺陷庫(kù)中已經(jīng)積累了大量的缺陷數(shù)據(jù),但由于時(shí)間及精力所限,常常無(wú)法深入分析其中蘊(yùn)含的信息,忽略了數(shù)據(jù)中隱藏的價(jià)值。因此,現(xiàn)有代碼缺陷測(cè)試會(huì)消耗大量的人員工作量。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種代碼缺陷的預(yù)測(cè)方法及裝置,主要目的在于減少代碼缺陷測(cè)試所消耗的人員工作量。
依據(jù)本發(fā)明一個(gè)方面,提供了一種代碼缺陷的預(yù)測(cè)方法,包括:
獲取目標(biāo)代碼的屬性信息;
根據(jù)代碼缺陷庫(kù)中的屬性信息和目標(biāo)代碼的屬性信息確定所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息,所述代碼缺陷庫(kù)中存儲(chǔ)屬性信息與代碼缺陷信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系;
輸出與所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息,所述代碼缺陷信息用于預(yù)測(cè)所述目標(biāo)代碼存在的缺陷。
具體的,所述目標(biāo)代碼的屬性信息包括用戶屬性信息和缺陷屬性信息,所述根據(jù)代碼缺陷庫(kù)中的屬性信息和目標(biāo)代碼的屬性信息確定所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息包括:
從用戶管理庫(kù)中獲取與所述用戶屬性信息相似度超過(guò)第一預(yù)置閾值的用戶標(biāo)識(shí)信息,所述用戶管理系統(tǒng)中存儲(chǔ)有用戶屬性信息與用戶標(biāo)識(shí)信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系;
從所述代碼缺陷庫(kù)中獲取與用戶標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的缺陷屬性信息,所述代碼缺陷庫(kù)中的屬性信息為用戶標(biāo)識(shí)信息與缺陷屬性信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系;
根據(jù)所述獲取的缺陷屬性信息和目標(biāo)代碼的缺陷屬性信息確定所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息。
具體的,所述根據(jù)所述獲取的缺陷屬性信息和目標(biāo)代碼的缺陷屬性信息確定所述目標(biāo)代碼對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息包括:
分別計(jì)算所述目標(biāo)代碼的缺陷屬性信息與所述獲取的缺陷屬性信息的相似度;
從所述代碼缺陷庫(kù)中獲取相似度超過(guò)第二預(yù)置閾值的缺陷屬性信息;
將所述代碼缺陷庫(kù)中與所述獲取的缺陷屬性信息對(duì)應(yīng)的代碼缺陷信息確定為所述目標(biāo)代碼的代碼缺陷信息。
具體的,所述分別計(jì)算所述目標(biāo)代碼的缺陷屬性信息與所述獲取的缺陷屬性信息的相似度包括:
通過(guò)余弦相似度算法分別計(jì)算所述目標(biāo)代碼的缺陷屬性信息與所述獲取的缺陷屬性信息的相似度。
具體的,所述缺陷屬性信息包括:缺陷等級(jí)信息、缺陷模塊分布信息、缺陷回歸次數(shù)信息、和/或缺陷類型信息;所述用戶屬性信息包括:用戶開發(fā)年限信息、用戶開發(fā)語(yǔ)言信息、用戶所屬部門信息、和/或用戶開發(fā)項(xiàng)目信息。
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G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
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