[發明專利]EAS硬標簽質量參數檢測裝置有效
| 申請號： | 201610878253.8 | 申請日： | 2016-10-08 |
| 公開（公告）號： | CN106443826B | 公開（公告）日： | 2018-04-17 |
| 發明（設計）人： | 盛慶元;蔡曉霞;汪鎵威;李晨輝;徐少華 | 申請（專利權）人： | 紹興職業技術學院 |
| 主分類號： | G01V13/00 | 分類號： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司11246 | 代理人： | 連平,譚建文 |
| 地址： | 312000 *** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | eas 標簽 質量 參數 檢測 裝置 | ||
1.EAS硬標簽質量參數檢測裝置，包括一對發射線圈(Lf1、Lf2)一對接收線圈(Lz、Lf)和信號處理模塊，其特征在于：
一對發射線圈包括左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)，左發射線圈、右發射線圈的結構完全相同，左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)這兩個線圈中心在同一軸線上；左發射線圈(Lf1)與右發射線圈(Lf2)的間距等于左發射線圈(Lf1)的半徑；
左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)用導線串聯，當左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)施加交流激勵信號時，電流應以同向流轉方向經過左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)；
一對接收線圈包括左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)，左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)結構完全相同，左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)的中心在同一軸線上；
左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)之間間距應小于左發射線圈(Lf1)和右發射線圈(Lf2)間距的一半；
左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)用導線串聯，當左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)施加交流激勵信號時，電流應以反向流轉方向經過左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)；
信號處理模塊包括差分電路和兩級積分電路，差分電路的兩信號輸入端分別與左接收線圈(Lz)和右接收線圈(Lf)未串聯兩端電連接。
2.根據權利要求1所述的EAS硬標簽質量參數檢測裝置；其特征在于：左接收線圈(Lz)的直徑為左發射線圈(Lf1)直徑的四分之一；左接收線圈(Lz)的直徑應小于1.5倍硬標簽中核心元件磁棒線圈的直徑。
3.根據權利要求1所述的EAS硬標簽質量參數檢測裝置；其特征在于：左接收線圈(Lz)或右接收線圈(Lf)用來插入被檢測硬標簽核心元件磁棒線圈。
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