本發明提供一種面板標記偵測方法及面板標記區域的Mura補償方法。本發明的面板標記偵測方法，首先根據標記組在LCD顯示面板上的位置對偵測機臺設置一個固定偵測區，使所述偵測機臺在固定偵測區對LCD顯示面板上的標記單元進行偵測，若所述偵測機臺偵測到標記組中的部分標記單元，則根據偵測到的部分標記單元重新設置一應變偵測區，所述偵測機臺在該應變偵測區對LCD顯示面板再次進行偵測，以偵測到全部標記單元，從而利用該偵測方法在對標記組的位置區域進行Mura補償時，能夠確保LCD顯示面板經Mura補償后標記組所遮擋的區域不會形成異常白斑。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種面板標記偵測方法及面板標記區域的Mura補償方法。

背景技術

隨著液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)向著更輕、更薄、更大的方向發展，因實際制程上的一些不可控因素，使LCD顯示面板各處的物理特性存在差異，導致在大于一個像素點的范圍內，顯示純灰度圖像時亮度不均勻的現象，即業界所稱的Mura現象。

Mura現象已經成為制約LCD發展的瓶頸。通過提高工藝水平或者提高原材料純度等方法可降低Mura現象的發生概率。對于已經制作完成的LCD顯示面板，其物理特性已經定型，為了彌補LCD制程上的瑕疵而產生的Mura現象，此時可以通過灰度補償的方式來校正像素點的亮度，進而改善Mura現象。

灰度補償是通過改變像素的灰度值來實現亮度均勻性的改善：即通過相機拍攝出灰度畫面的Mura狀況，然后確定灰度圖像中的正常區域和Mura區域，最后根據正常區域的灰度值反向補償Mura區域的灰度值，在顯示純灰度圖像時，對于顯示亮度比較高的像素施加較低的灰度值，對于顯示亮度比較低的像素，施加較高的灰度值，使得灰度補償后各像素的亮度接近一致，實現Mura現象的改善。

請參閱圖1并結合圖2，為了保證LCD顯示面板100在生產過程中不要出現刮痕，LCD顯示面板100表面的偏光片上貼有透明的保護膜，但是保護膜上會有區別偏光片供應商的字母噴印標示(Mark)，該Mark一般由2～3個單獨的字母組成(例如圖1中的字母“ABC”)，由于是在一定間隔距離處噴印到保護膜表面的，字母之間存在一定的大小差異，整體Mark的大小和位置變化差異較大，因此，如圖1所示，在偵測過程中，不能保證所有的字母都會出現在設定的固定偵測區101內，例如圖1中字母“C”就處于固定偵測區101外，從而無法通過固定偵測區101來對Mark進行處理，若Mark超出偵測區，則會將其判斷為Mura進行亮度補償，當客戶撕掉保護膜后，如圖2所示，Mark超出偵測區的位置(字母“C”的位置)就會有亮斑形成，造成LCD顯示面板100品質不良。

發明內容

本發明的目的在于提供一種面板標記偵測方法，能夠準確確定完整的標記組的位置區域，避免標記單元的遺漏。

本發明的目的還在于提供一種面板標記區域的Mura補償方法，能夠準確確定完整的標記組的位置區域，確保經Mura補償后LCD顯示面板上標記組所遮擋的區域不會形成異常白斑。

為實現上述目的，本發明提供一種Mura現象補償過程中偵測面板標記的方法，包括以下步驟：

步驟1、提供一偵測機臺及待偵測的LCD顯示面板，對所述偵測機臺進行設置，以使其在一固定偵測區對LCD顯示面板進行偵測；

所述LCD顯示面板上具有標記組，所述標記組包括數個相對分離的標記單元；

步驟2、將LCD顯示面板放置于機臺上，所述機臺在固定偵測區對LCD顯示面板上的標記單元進行偵測；

步驟3、根據步驟2中的偵測結果確定下一步操作；

若所述偵測機臺偵測到標記組中的部分標記單元，則標記該部分標記單元的位置，然后進行步驟4；

若所述偵測機臺偵測到標記組中的全部標記單元，則直接跳至步驟5；