[發(fā)明專利]三維微納米觸發(fā)式探頭有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610128424.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105547157B | 公開(公告)日: | 2018-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李瑞君;程琳;周斌;程真英;陳晶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽電氣工程職業(yè)技術(shù)學(xué)院;國(guó)網(wǎng)安徽省電力公司培訓(xùn)中心;合肥工業(yè)大學(xué);國(guó)家電網(wǎng)公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安專利代理有限責(zé)任公司34101 | 代理人: | 何梅生 |
| 地址: | 230051 安*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三維 納米 觸發(fā) 探頭 | ||
1.一種三維微納米觸發(fā)式探頭,其特征是由測(cè)頭單元和測(cè)量單元構(gòu)成:
所述測(cè)頭單元是在圓環(huán)座(10a)上設(shè)置呈“十”字的簧片(10c),所述簧片(10c)的各懸臂的遠(yuǎn)端與圓環(huán)形簧片外圈形成整體,并以所述圓環(huán)形簧片外圈與圓環(huán)座(10a)固定連接;在所述簧片(10c)的上表面、處在簧片(10c)的中心固定設(shè)置呈“十”字的懸浮片(10b),形成懸浮片(10b)在圓環(huán)座(10a)上的懸浮結(jié)構(gòu);在所述懸浮片(10b)的上端面分別固定設(shè)置第一分光反射棱鏡(9a)、第二分光反射棱鏡(9b)和楔形棱鏡(9c),在所述懸浮片(10b)和簧片(10c)的中心貫通孔中固定安裝探針(10e),所述探針(10e)凸伸于懸浮片(10b)的下端面,探針(10e)的前端為測(cè)球(10d);所述第一分光反射棱鏡(9a)和第二分光反射棱鏡(9b)均為非偏振分光反射棱鏡;
所述測(cè)量單元的光路結(jié)構(gòu)為:激光器(3a)呈水平發(fā)射出的準(zhǔn)直光依次經(jīng)過第一平面反射鏡(4a)和第二平面反射鏡(5a)的反射后呈水平投射至第一分光反射棱鏡(9a),在所述第一分光反射棱鏡(9a)中形成的反射光作為第一光束投射至第三四象限探測(cè)器(8a);在所述第一分光反射棱鏡(9a)中形成的透射光投射至第二分光反射棱鏡(9b),在所述第二分光反射棱鏡(9b)中形成的透射光作為第二光束投射至第二四象限探測(cè)器(7a);在所述第二分光反射棱鏡(9b)中形成的反射光投射至楔形棱鏡(9c),在所述楔形棱鏡(9c)中形成透射光作為第三光束投射至第一四象限探測(cè)器(6a),利用所述第三四象限探測(cè)器(8a)、第二四象限探測(cè)器(7a)和第一四象限探測(cè)器(6a)獲得測(cè)球(10d)的位移信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維微納米觸發(fā)式探頭,其特征是:所述楔形棱鏡(9c)粘貼在所述第二分光反射棱鏡(9b)的側(cè)部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維微納米觸發(fā)式探頭,其特征是:設(shè)置所述探頭的殼體為圓筒體(1),在所述圓筒體(1)中以隔板分區(qū)為上腔(1b)和下腔(1c);
所述激光器(3a)設(shè)置在上腔(1b)中,并利用激光器支架(3b)固定在隔板上;
所述第一平面反射鏡(4a)利用第一平面反射鏡支架(4b)固定設(shè)置在上腔(1b)的側(cè)壁上;
所述第二平面反射鏡(5a)利用第二平面反射鏡支架(5b)固定設(shè)置在下腔(1c)的側(cè)壁上;
所述測(cè)頭單元以其圓環(huán)座(10a)固定設(shè)置在所述圓筒體(1a)的底部端口上;
第一四象限探測(cè)器(6a)、第二四象限探測(cè)器(7a)和第三四象限探測(cè)器(8a)一一對(duì)應(yīng)地利用第一探測(cè)器支架(6b)、第二探測(cè)器支架(7b)和第三探測(cè)器支架(8b)安裝在下腔(1c)的側(cè)壁上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的三維微納米觸發(fā)式探頭,其特征是:包括第一探測(cè)器支架(6b)、第二探測(cè)器支架(7b)和第三探測(cè)器支架(8b)的各個(gè)探測(cè)器支架的固定結(jié)構(gòu)為:所述探測(cè)器支架是由分處在探測(cè)器支架不同圓周位置上的第一緊定螺釘和第二緊定螺釘鎖定在下腔(1c)的側(cè)壁上;并且在所述探測(cè)器支架的一側(cè)與下腔(1c)的側(cè)壁之間設(shè)置分處在不同位置上的第一彈簧墊圈和第二彈簧墊圈,分別調(diào)整所述第一彈簧墊圈和第二彈簧墊圈的松緊程度實(shí)現(xiàn)探測(cè)器支架相應(yīng)的空間位置的調(diào)整。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的三維微納米觸發(fā)式探頭,其特征是:在所述探測(cè)器支架上設(shè)置有凸棱,在所述下腔(1c)的內(nèi)側(cè)壁上對(duì)應(yīng)位置處設(shè)置有凹槽,以所述凸棱和凹槽的配合實(shí)現(xiàn)探測(cè)器支架在下腔(1c)中一個(gè)方向上的限位。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于安徽電氣工程職業(yè)技術(shù)學(xué)院;國(guó)網(wǎng)安徽省電力公司培訓(xùn)中心;合肥工業(yè)大學(xué);國(guó)家電網(wǎng)公司,未經(jīng)安徽電氣工程職業(yè)技術(shù)學(xué)院;國(guó)網(wǎng)安徽省電力公司培訓(xùn)中心;合肥工業(yè)大學(xué);國(guó)家電網(wǎng)公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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