[發(fā)明專利]一種低壓三相相序表有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610107184.0 | 申請日: | 2016-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN105548731B | 公開(公告)日: | 2018-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊嘉駿;周翔;陳崗;支玉清;屈志堅;劉燁;黃昊坤;陸示赟;解蕾;劉晨怡;周圣棟;朱炯;邊瓊;陸文杰;馮文俊;胡海敏;俞瑾華;王若華;周偉;俞凌楓;邵崢達(dá) | 申請(專利權(quán))人: | 國網(wǎng)上海市電力公司 |
| 主分類號: | G01R29/18 | 分類號: | G01R29/18 |
| 代理公司: | 上海兆豐知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 屠軼凡 |
| 地址: | 200122 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測端 三相相序 相序表 倉位 出線 磁性導(dǎo)電體 單人完成 電網(wǎng)檢測 技術(shù)效果 人力成本 相序檢測 導(dǎo)通 吸附 | ||
本發(fā)明公開了電網(wǎng)檢測領(lǐng)域的一種低壓三相相序表,包括相序表本體,所述相序表本體上設(shè)有A相檢測端、B相檢測端和C相檢測端;所述A相檢測端、所述B相檢測端和所述C相檢測端上均設(shè)有一塊可吸附在對應(yīng)倉位出線上,并可使所述對應(yīng)倉位出線與所述相序表本體導(dǎo)通的磁性導(dǎo)電體。其技術(shù)效果是:其使得低壓三相相序表的操作大大簡化,使單人完成相序檢測工作成為了可能,節(jié)省了人力成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電網(wǎng)檢測領(lǐng)域的一種低壓三相相序表。
背景技術(shù)
相序檢測是智能電網(wǎng)供用電運行中的經(jīng)常性項目,也是避免一些特殊機電設(shè)備因為電源相序出錯或缺相而導(dǎo)致事故發(fā)生或設(shè)備損壞的可靠保證。目前相序檢測主要都是采用鑒相器電路來完成,其性能較差。同時傳統(tǒng)的相序檢測需將三相電線的接線柱撥開,將相序表的三個裸露鱷魚夾或測試針連接到裸露的3條火線上,因而現(xiàn)場測試起來十分不便,更為重要的是測試人員有接觸高壓的危險,因此,研制一種安全性高、操作方便、穩(wěn)定可靠的相序表十分必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種低壓三相相序表,其使得低壓三相相序表的操作大大簡化,使單人完成相序檢測工作成為了可能,節(jié)省了人力成本。
實現(xiàn)上述目的的一種技術(shù)方案是:一種低壓三相相序表,包括相序表本體,所述相序表本體上設(shè)有A相檢測端、B相檢測端和C相檢測端;
所述A相檢測端、所述B相檢測端和所述C相檢測端上均設(shè)有一塊可吸附在對應(yīng)倉位出線上,并可使所述對應(yīng)倉位出線與所述相序表本體導(dǎo)通的磁性導(dǎo)電體。
進(jìn)一步的,所述磁性導(dǎo)電體為釹磁鐵。
進(jìn)一步的,所述相序表本體包括:
在所述A相檢測端與所述C相檢測端之間依次串聯(lián)的第一二極管D1、第一電阻R1和第一檢測電路,所述第一二極管D1的正極連接所述A相檢測端,負(fù)極連接所述第一電阻R1的第一端部,所述第一電阻R1的第二端部連接所述第一檢測電路;
所述第一檢測電路包括相互并聯(lián)的第一支路和第二支路,所述第一支路包括依次串聯(lián)的第一發(fā)光二極管和第一NMOS開關(guān)管,所述第一發(fā)光二極管的正極連接使所述第一電阻的第二端部,負(fù)極連接所述第一NMOS開關(guān)管的漏極,所述第一NMOS開關(guān)管的源極連接所述C相檢測端;
所述第二支路包括依次串聯(lián)的第一檢測二極管和第一檢測電阻,所述第一檢測二極管的負(fù)極連接所述第一電阻R1的第二端部,正極連接所述第一檢測電阻的第一端部,所述第一檢測電阻的第二端部連接所述C相檢測端;
在所述B相檢測端與所述C相檢測端之間依次串聯(lián)的第二二極管D2、第二電阻R2和第二檢測電路,所述第二二極管D2的正極連接所述B相檢測端,負(fù)極連接所述第二電阻R2的第一端部,所述第二電阻R2的第二端部連接所述第二檢測電路;
所述第二檢測電路包括相互并聯(lián)的第三支路和第四支路,所述第三支路包括依次串聯(lián)的第二發(fā)光二極管和第二NMOS開關(guān)管,所述第二發(fā)光二極管的正極連接所述第二電阻R2的第二端部,負(fù)極連接所述第二NMOS開關(guān)管的漏極,所述第二NMOS開關(guān)管的源極連接所述C相檢測端;
所述第四支路包括依次串聯(lián)的第二檢測二極管和第二檢測電阻;所述第二檢測二極管的負(fù)極連接所述第二電阻R2的第二端部,正極連接所述第二檢測電阻的第一端部,所述第二檢測電阻的第二端部連接所述C相檢測端;
所述第一NMOS開關(guān)管的基極連接所述第二檢測二極管的正極,所述第二NMOS開關(guān)管的基極連接所述第一檢測二極管的正極。
再進(jìn)一步的,所述第一發(fā)光二極管和所述第二發(fā)光二極管的發(fā)光顏色是不同的。
更進(jìn)一步的,所述第一發(fā)光二極管發(fā)綠光,所述第二發(fā)光二極管發(fā)紅光。
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