1.一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光譜的系統，包括：光纖 激光器(101)、光纖組件A(102)、光纖I(103)、真空密封接頭(104)、O 型圈(105)、螺母(106)、待測樣品(107)、光纖II(108)、磁輸運樣品室(109)、 光纖組件B(110)、光譜儀(111)和測試分析計算機(112)，其特征在于：

所述的光纖組件A(102)兩端通過光纖接頭分別與光纖激光器(101)和 光纖I(103)連接；所述的光纖I(103)左端通過光纖接頭與光纖組件A(102) 連接，右端穿過真空密封接頭(104)進入磁輸運樣品室(109)后對準待測樣 品(107)；所述的光纖II(108)左端通過光纖接頭與光纖組件B(110)連接， 右端穿過真空密封接頭(104)進入磁輸運樣品室(109)后對準待測樣品(107)； 真空密封接頭(104)為圓形，內有剝去外皮僅留中心石英部分的光纖I(103) 和光纖II(108)穿過，當中采用密封膠固定和密封；真空密封接頭(104)穿 過磁輸運樣品室(109)，一部分位于磁輸運樣品室(109)外并有溝槽，O型 圈(105)套進真空密封接頭(104)內并處于真空密封接頭(104)溝槽里，O 型圈(105)露出溝槽的部分貼于磁輸運樣品室(109)外壁，真空密封接頭(104) 處于磁輸運樣品室(109)之內的部分上有螺紋，螺絲(106)擰進螺紋并貼緊 磁輸運樣品室(109)外壁，起固定和真空密封作用；待測樣品(107)平放于 磁輸運樣品室(109)底端超導線圈內；調整待測樣品(107)位置以及光纖I (103)、光纖II(108)下端對準待測樣品(107)的角度，使得光纖I(103) 發出的激光入射到待測樣品(107)上，所激發的光致發光被光纖II(108)所 接收；光纖組件B(110)兩端通過光纖接頭分別與光譜儀(111)和光纖II(108) 連接；光譜儀(111)連接到測試分析計算機(112)，從而記錄、分析得到的 光譜信息。

2.根據權利要求1所述的一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光譜 的系統，其特征在于：所述的光纖激光器(101)所激發的激光波長短于待測 樣品(107)的被激發光的波長。

3.根據權利要求1所述的一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光譜 的系統，其特征在于：光纖組件A(102)、光纖I(103)、光纖II(108)和光 纖組件B(110)芯徑不小于1微米，傳輸光效率高于百分之五十。

4.根據權利要求1所述的一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光譜 的系統，其特征在于：所述的光纖I(103)下端為便于發射平行激光的平端面。

5.根據權利要求1所述的一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光譜 的系統，其特征在于：所述的光纖II(108)下端為便于收集光致發光信號的 半球面。

6.根據權利要求1所述的一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光光 譜的系統，其特征在于：光譜儀(111)所測光波長范圍滿足光致發光包括光 致發光信號波長范圍；光譜儀(111)之內放置有與光纖激光器(101)所激發 的激光波長相對應的濾波片。