本申請公開了一種對AMOLED進行檢測分類的方法及裝置，用以實現AMOLED的自動檢測分類，提高工作效率，以及提高AMOLED分類的準確性，避免人工檢測誤差以及對人眼的傷害。本申請提供的一種對AMOLED進行檢測分類的方法，包括：將對AMOLED采集得到的待匹配圖像與預設的模板圖像庫進行匹配；根據匹配結果，對所述AMOLED進行分類。

技術領域

本申請涉及自動控制技術領域，尤其涉及一種對AMOLED進行檢測分類的方法及裝置。

背景技術

有源矩陣有機發光二極體面板(AMOLED)被稱為下一代顯示技術，具有反應速度較快、對比度更高、視角較廣等特點。電學檢測作為AMOLED生產的后端工藝步驟，對保證出廠產品質量，分析前端工藝不良起著重要的作用。

目前所采用的點燈檢測方法，主要依賴人工，在AMOLED點亮后通過人工進行觀察，量產環境下人力需求量大，檢測結果容易受到檢測人員主觀影響，另外，高強度的用眼也對視力造成損害，使得檢測分類速度慢，準確率低。

發明內容

本申請實施例提供了一種對AMOLED進行檢測分類的方法及裝置，用以實現AMOLED的自動檢測分類，提高工作效率，以及提高AMOLED分類的準確性，避免人工檢測誤差以及對人眼的傷害。

本申請實施例提供的一種對有源矩陣有機發光二極體面板AMOLED進行檢測分類的方法，包括：

將對AMOLED采集得到的待匹配圖像與預設的模板圖像庫進行匹配；

根據匹配結果，對所述AMOLED進行分類。

現有技術中是采用人工檢測分類，而本申請實施例，通過對AMOLED采集待匹配圖像；將所述待匹配圖像與預設的模板圖像庫進行匹配，根據匹配結果，對AMOLED進行分類，實現了AMOLED的自動檢測分類，提高了工作效率，以及分類的準確性，避免人工檢測誤差以及對人眼的傷害。

較佳地，所述對AMOLED采集得到的待匹配圖像包括：將對AMOLED分別采集得到的紅、綠、藍、第一灰、第二灰、第三灰、黑七個待匹配圖像；

所述預設的模板圖像庫包括優良模板圖像庫，該優良模板圖像庫包括紅、綠、藍、第一灰、第二灰、第三灰、黑七個優良模板圖像子庫；

所述將對AMOLED采集得到的待匹配圖像與預設的模板圖像庫進行匹配，具體包括：分別將對AMOLED采集到的任一所述待匹配圖像與相應顏色的優良模板圖像子庫進行匹配；

所述根據匹配結果，對AMOLED進行分類，具體包括：當所述七個待匹配圖像，與相應顏色的所述七個優良模板圖像子庫分別全部匹配時，為該AMOLED設置用于表示該AMOLED為優良產品的標記。

較佳地，所述預設的模板圖像庫，還包括不良模板圖像庫，該不良模板圖像庫中包括n個不良子庫，其中n為大于或等于1的正整數；

所述將對AMOLED采集得到的待匹配圖像與預設的模板圖像庫進行匹配，還包括：當對AMOLED分別采集到的任一所述待匹配圖像與相應顏色的優良模板圖像子庫不匹配時，將該待匹配圖像與不良模板圖像庫中的不良子庫進行匹配；

所述根據匹配結果，對AMOLED進行分類，還包括：當對AMOLED分別采集到的待匹配圖像與一不良子庫i匹配時，為該AMOLED設置標記i，其中i大于或等于1，且小于或等于n。

較佳地，所述根據匹配結果，對AMOLED進行分類，還包括：

當對AMOLED分別采集到的待匹配圖像與任一不良子庫均不匹配時，將該待匹配圖像存入不良模板圖像庫，并確定該待匹配圖像所屬的不良子庫；

該方法還包括：重新對該AMOLED進行檢測分類。