本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測方法和檢測裝置。所述數(shù)據(jù)線短接不良的檢測方法用于檢測相鄰的數(shù)據(jù)線是否存在短接，以及確定短接發(fā)生的位置，所述檢測方法包括：僅向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號，將與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素點亮；檢測與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素是否被點亮；在與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素被點亮?xí)r，識別偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素中亮度最高的像素，并確定所述亮度最高的像素所連接的數(shù)據(jù)線，該數(shù)據(jù)線與相鄰的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線短接。上述檢測方法可以檢測數(shù)據(jù)線短接不良的位置，從而可以通過修復(fù)數(shù)據(jù)線不良，提供產(chǎn)品的良率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測方法和檢測裝置。

背景技術(shù)

顯示面板的制備需經(jīng)過陣列(Array)工藝、成盒(Cell)工藝和模組(Moduel)工藝。其中，Array工藝一般包括柵線和數(shù)據(jù)線的制備、薄膜晶體管的制備、像素電極的制備等。圖1為現(xiàn)有的顯示面板的示意圖。如圖1所示，顯示面板包括多行柵線和多列數(shù)據(jù)線，該多行柵線和多列數(shù)據(jù)線限定出多個像素。在Array工藝中，制備柵線時，在顯示面板的邊框(Fanout)區(qū)保留兩條“柵線”(該柵線不與柵極驅(qū)動電路連接)作為數(shù)據(jù)線和源極驅(qū)動電路之間的連接線，如圖1所示，奇數(shù)列數(shù)據(jù)線與其中一條連接線do連接，偶數(shù)列數(shù)據(jù)線與另一條連接線de連接，所述連接線do與源極驅(qū)動電路中用于向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號的DO端連接，所述連接線de與源極驅(qū)動電路中用于向偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號的DE端連接，從而，源極驅(qū)動電路可以單獨向奇數(shù)列和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)信號。

在Array工藝中，由于工藝缺陷、操作失誤及工藝精度等原因，相鄰的數(shù)據(jù)線可能會短接在一起(即DDS不良，其會造成顯示缺陷)，如圖1中的左起第三列和第四列數(shù)據(jù)線；因此，在Array工藝完成后，需要進行檢測(Array Test)，并在檢測存在上述DDS不良時，對數(shù)據(jù)線進行修復(fù)，以提高顯示面板的良品率。

現(xiàn)有檢測DDS不良的方法主要是：利用Array Test設(shè)備向所有的數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)信號，將所有的像素點亮(圖1中，圓形表示像素處于點亮狀態(tài))；根據(jù)各數(shù)據(jù)線中數(shù)據(jù)信號的變化確定是否存在DDS不良。其原理是：如果相鄰的數(shù)據(jù)線短接在一起，DO端和DE端的負載會變大，進而，各列數(shù)據(jù)線上的信號發(fā)生變化，這樣可以通過檢測數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)信號變化確定是否存在DDS不良。

上述檢測方法雖然可以確定是否存在DDS不良，但DO端和DE端的負載同時變大，相應(yīng)地，各數(shù)據(jù)線上的信號均會發(fā)生變化，從而使得無法確定發(fā)生DDS不良的具體位置，也不能通過維修將顯示面板修復(fù)，產(chǎn)品的良率并不能得到提高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一，提出了一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測方法和檢測裝置，其可以確定數(shù)據(jù)線短接不良的發(fā)生位置，從而通過將數(shù)據(jù)線發(fā)生不良的位置修復(fù)，可以提供產(chǎn)品的良率。

為實現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測方法，用于檢測相鄰的數(shù)據(jù)線是否存在短接，以及確定短接發(fā)生的位置，所述檢測方法包括：

僅向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號，將與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素點亮；

檢測與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素是否被點亮；

在與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素被點亮?xí)r，識別偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素中亮度最高的像素，并確定所述亮度最高的像素所連接的數(shù)據(jù)線，該數(shù)據(jù)線與相鄰的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線短接。

其中，所述檢測方法還包括在確定存在發(fā)生短接的數(shù)據(jù)線后進行的：

僅向偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號，將與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素點亮；