技術領域

本發明涉及PCB測試用具，具體的說是一種同軸探針。

背景技術

隨著電子產品中信號傳輸的高速數字化和高頻化的急速發展，高密度電子組裝離散無源元件已受到嚴峻的挑戰。因此，在FPC中埋入無源元件是目前和今后必然發展趨勢與要求，并會迅速成為常規FPC產品而量化生產。由于FPC板的生產過程較為復雜，它涉及的工藝范圍廣，為保證FPC板的質量，需要對FPC板進行各種檢測試驗，通常需要對FPC板進行人工目測、在線測試、功能測試、自動光學檢測、自動X光檢查測試及激光檢測系統。其中，對FPC板的功能測試通過對FPC板的電測試進行。

目前我們熟悉的對FPC板測試的方法，都是在產品上植針，來對產品進行測試，小型距離過通過微針來植針，從而對FPC板上單片各電極電阻，電流、電壓以及開路、短路、等原件功能的測試。有些需要采用4W測試時，植針位置不夠，或者容易扎偏，導致扎不準。同時，由于現在的FPC板隨著科技的發展，產品要求越來越小，越來精致，小巧實用，Connector連接器越來越高的測試需求，需要在FPC或者PCB等密集距離小的地方扎針，所以現在連接器越來越小，需要扎針的越來越小，植針的越來越多，因此現在的針越來越小，對針的要求越來越高，又因為現在的針不能滿足要求，經常出現扎不準，扎不到的情況，導致通過率極低，穩定性極差，從而極大的影響測試治具的發展。

發明內容

為了克服上述缺陷，本發明提供了一種同軸探針，以使對FPC板上植針，能夠在很小的距離情況下植雙針，以達到測試的需求，滿足各大產品的測試需求，更為小間距采用四線測試提供了充足的空間條件，以達到植針間距的需求。

本發明為了解決其技術問題所采用的技術方案是：一種同軸探針，包括小探針和大探針，該小探針包括小探針接觸器和設置于該小探針接觸器一端并可相對該小探針接觸器上下運動的小探針測試針頭；該大探針包括大探針接觸器和設置于該大探針接觸器一端并可相對該大探針接觸器上下運動的大探針測試針頭；該小探針同軸套設于該大探針內，且該小探針接觸器和該大探針接觸器之間絕緣固定連接，該小探針測試針頭活動容置于該大探針測試針頭內并在未受外力時伸出該大探針測試針頭外。

作為本發明的進一步改進，所述小探針的整體長度大于所述大探針的整體長度。

本發明的有益效果是：該同軸探針，可滿足待測產品需要植針位置很小，扎點間距很小，又需要植雙針采用四線法測試的要求，該同軸探針通過探針內部小探針先行接觸產品，由彈性回調，再由外面的大探針接觸產品，該大、小探針內絕緣，所以兩探針不會接觸，不會出現短路問題。由于探針露出高度高于內部小探針高度，所以雙針可以很好的接觸產品，所以兩探針通過絕緣材料固定在一起，兩針尖的間距很小，對于待測產品小的地方可以植下外探針就可以植雙針采用四線法測試，而且植針位置是以扎點中心為針心，對于產品定位放的距離，不影響針的扎針位置，從而保證了測試結果的準確性，并大大提高測試效率。

附圖說明

圖1為本發明結構示意圖；

圖2為圖1中的A部放大結構示意圖。

結合附圖，作以下說明：

1——小探針2——大探針

11——小探針接觸器12——大探針接觸器

21——大探針接觸器22——大探針測試針頭

具體實施方式

以下結合附圖，對本發明的一個較佳實施例作詳細說明。但本發明的保護范圍不限于下述實施例，即但凡以本發明申請專利范圍及說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋范圍之內。

如圖1-2所示，一種同軸探針，包括小探針1和大探針2，該小探針包括小探針接觸器11和設置于該小探針接觸器一端并可相對該小探針接觸器上下運動的小探針測試針頭12；該大探針包括大探針接觸器21和設置于該大探針接觸器一端并可相對該大探針接觸器上下運動的大探針測試針頭22；該小探針同軸套設于該大探針內，且該小探針接觸器和該大探針接觸器之間絕緣固定連接，該小探針測試針頭活動容置于該大探針測試針頭內并在未受外力時伸出該大探針測試針頭外。所述小探針的整體長度大于所述大探針的整體長度。

該同軸探針采用兩探針同軸設置，在兩探針接觸器之間采用絕緣材料使其絕緣接觸，可以保護內部探針，并同時維護內部小探針測試針頭的彈性。對于待測試產品需要植針位置很小，扎點間距很小，又需要植雙針采用四線法測試時，采用本發明所述同軸探針可以很好的解決這個技術問題。該同軸探針采用里外兩個探針來植針，可以縮短兩探針之間的距離，尤其適用于于小距離的四線法測試。測試時，該同軸探針的內部小探針的小測試針頭先和產品接觸，由彈性回調，再由外部的探針接觸產品，該兩探針的探針接觸器之間絕緣不接觸，不會出現短路問題。內部小探針露出高度大于內部探針高度，所以雙針可以很好的接觸產品，兩探針間距又恨小，植針位置以扎點中心為針心，對于產品定位放的距離，不影響針的扎針位置，不會發生偏置，這就保證了測試結果的準確性，又大大提高了測試效率。