[實(shí)用新型]圖像檢測設(shè)備及吸風(fēng)展平裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420570244.9 | 申請日: | 2014-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN204228592U | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 華旭東;姚毅;趙嚴(yán);鄒美芳 | 申請(專利權(quán))人: | 北京凌云光技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯長明;許偉群 |
| 地址: | 100195 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 檢測 設(shè)備 吸風(fēng)展 平裝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及機(jī)器視覺設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,更為具體地說,涉及一種圖像檢測設(shè)備及吸風(fēng)展平裝置。
背景技術(shù)
在機(jī)器視覺領(lǐng)域中,圖像檢測設(shè)備是一種比較普遍的設(shè)備。圖像檢測設(shè)備的原理是通過獲取被測產(chǎn)品的圖像,然后對圖像進(jìn)行分析來檢測被測產(chǎn)品的缺陷。圖像檢測設(shè)備通常包括光源、工作臺和相機(jī),被測產(chǎn)品放置在工作臺上,在特定光源照明條件下,相機(jī)采集被測產(chǎn)品的圖像。
然而,在被測產(chǎn)品為柔性材料制成的薄膜類產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)時,薄膜類產(chǎn)品的柔性使得其各個部位很難處于同一平面內(nèi),進(jìn)而使得薄膜類產(chǎn)品各個部位不在同一對焦平面上,最終影響圖像檢測設(shè)備所獲取的被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量。為了解決此問題,傳統(tǒng)的方法為:采用透明玻璃對被測產(chǎn)品實(shí)施壓平,進(jìn)而將被測產(chǎn)品的各個部位展平在同一個平面內(nèi),最終使得各個部分位于同一對焦平面上以達(dá)到提高圖像質(zhì)量的目的。但是,壓平的方式存在以下缺陷:第一,透明玻璃壓在被測產(chǎn)品上之后透明玻璃會在被測產(chǎn)品圖像中成像,即產(chǎn)生鬼影,進(jìn)而嚴(yán)重影響被測產(chǎn)品的圖像質(zhì)量。第二,對于一些被測產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)而言,透明玻璃的壓平會對其質(zhì)量產(chǎn)生影響。第三,由于被透明玻璃壓著,對于一些被測產(chǎn)品(例如印刷薄膜電路)而言,無法對缺陷位置進(jìn)行標(biāo)記,不利于后續(xù)缺陷的修補(bǔ)和確認(rèn)。
為了克服傳統(tǒng)方法的弊端,目前通常采用負(fù)壓吸平的方式實(shí)施柔性被測產(chǎn)品實(shí)施展平。即在工作臺上打孔,然后通過負(fù)壓吸附的方式實(shí)施負(fù)壓展平。由于有些被測產(chǎn)品采用背光補(bǔ)光的方式,所以為了實(shí)現(xiàn)背光源補(bǔ)光,通常工作臺為透明的玻璃工作臺。然而,由于玻璃硬度較大,比較脆,所以在透明的玻璃工作臺上打孔實(shí)現(xiàn)負(fù)壓展平變得較為困難。而且,在透明的玻璃工作臺上打孔會影響被測產(chǎn)品的成像質(zhì)量。同時,在透明的玻璃工作臺上打孔時孔端易產(chǎn)生缺角、崩邊等缺陷。這些缺角、崩邊等缺陷易對背光源發(fā)出的光產(chǎn)生折射、反射等,最終會導(dǎo)致被測產(chǎn)品的成像質(zhì)量更差。
實(shí)用新型內(nèi)容
一方面,本實(shí)用新型提供一種圖像檢測設(shè)備,以解決背景技術(shù)所述的圖像檢測設(shè)備存在的玻璃臺打孔較難,且在背光情況下打孔會影響被測產(chǎn)品圖像質(zhì)量的問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
圖像檢測設(shè)備,包括工作臺、負(fù)壓泵,設(shè)置在所述工作臺上方的圖像獲取裝置以及為所述圖像獲取裝置補(bǔ)光的光源;所述工作臺包括用于放置被測產(chǎn)品的圖像獲取區(qū)以及圍繞所述圖像獲取區(qū)的空置區(qū),所述圖像獲取區(qū)由玻璃制成,所述圖像獲取區(qū)與所述圖像獲取裝置以及光源相對應(yīng)設(shè)置,且所述圖像獲取區(qū)設(shè)置有向著所述空置區(qū)延伸的凹陷,所述空置區(qū)設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔,所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵相連通。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述光源設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)的上方。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述光源為背光源,且設(shè)置在所述圖像獲取區(qū)的正下方。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述凹陷為多條,且呈井字形均勻分布在所述圖像獲取區(qū)。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述負(fù)壓泵為多個,且分別一一對應(yīng)地與多條所述凹陷的接口通過連通管道一一對接;所述圖像檢測設(shè)備還包括:
用于分別檢測相對應(yīng)所述凹陷內(nèi)負(fù)壓值的多個壓力傳感器;
與多個所述壓力傳感器以及多個所述負(fù)壓泵相連,用于控制所述負(fù)壓泵以維持任意兩個所述凹陷內(nèi)的負(fù)壓值之差在設(shè)定范圍內(nèi)的控制器。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述凹陷為橫截面輪廓是弧形的條形槽。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述凹陷的橫截面弧形輪廓對應(yīng)的圓心角小于180°,且大于45°。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述凹陷的深度為0.3-0.5mm。
優(yōu)選的,上述圖像檢測設(shè)備中,所述空置區(qū)設(shè)置有與所述凹陷連通的滑槽,所述滑槽的頂部開口,所述圖像檢測設(shè)備還包括與所述滑槽的頂部開口滑動配合的封堵條,所述封堵條與所述滑槽的頂部開口配合,且與所述滑槽的底部之間形成與所述凹陷連通的負(fù)壓通道。
另一方面,吸風(fēng)展平裝置,包括負(fù)壓泵和工作臺;所述工作臺包括用于被測產(chǎn)品鋪展的第一區(qū)域和圍繞所述第一區(qū)域的第二區(qū)域,所述第一區(qū)域由玻璃制成,所述第一區(qū)域設(shè)置有向著所述第二區(qū)域延伸的凹陷,所述第二區(qū)域設(shè)置有與所述凹陷連通的負(fù)壓孔,所述負(fù)壓孔與所述負(fù)壓泵連通。
本實(shí)用新型提供的圖像檢測設(shè)備工作過程如下:將被測產(chǎn)品放置在圖像獲取區(qū),打開圖像獲取裝置和光源以及負(fù)壓泵,在負(fù)壓泵的作用下使得圖像獲取區(qū)內(nèi)的凹陷呈負(fù)壓吸附狀態(tài),進(jìn)而能夠?qū)⑽挥诎枷萆系谋粶y產(chǎn)品吸附展平在工作臺臺面所在的平面上。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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