[發明專利]一種MCU的校準方法和系統有效
| 申請號： | 201410818617.4 | 申請日： | 2014-12-24 |
| 公開（公告）號： | CN105785967B | 公開（公告）日： | 2018-10-16 |
| 發明（設計）人： | 王南飛;李寶魁 | 申請（專利權）人： | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人： | 趙娟 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 mcu 校準 方法 系統 | ||
1.一種MCU的校準方法，其特征在于，所述MCU與非易失性存儲器連接，所述MCU包括校準控制單元和待校準模塊；
所述方法包括：
在所述MCU的出廠前測試時，所述MCU運行過程中，接收測試校準信息，將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元；
利用所述測試校準信息對所述待校準模塊進行測試校準操作；
判斷在測試校準操作后，所述待校準模塊是否滿足預設的測試條件；
若滿足預設的測試條件，則將所述測試校準信息寫入所述非易失性存儲器；
所述校準控制單元包括可配校準寄存器、校準選擇寄存器和選擇器；
所述將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元的步驟，包括：
將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元中的可配校準寄存器；
在所述利用所述測試校準信息對所述待校準模塊進行測試校準操作的步驟之前，還包括：
接收可配配置信息，將所述可配配置信息寫入所述校準選擇寄存器；其中，所述可配配置信息用于指示選擇可配校準寄存器通路；
所述利用所述測試校準信息對所述待校準模塊進行測試校準操作的步驟包括：
根據所述可配配置信息控制所述選擇器選擇從所述可配校準寄存器中讀取所述測試校準信息；
將所述測試校準信息寫入所述待校準模塊，利用所述測試校準信息對所述待校準模塊進行測試校準操作。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校準控制單元包括密鑰寄存器，
在所述將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元的步驟之前，還包括：
接收至少一個密鑰，將所述至少一個密鑰寫入所述密鑰寄存器；
將所述至少一個密鑰與所述密鑰寄存器自身預先存儲的至少一個密鑰進行對比驗證；
當驗證成功時，執行所述將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元的步驟。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校準控制單元包括操作寄存器，
所述將所述測試校準信息寫入所述非易失性存儲器的步驟包括：
將所述操作寄存器配置為擦除操作，擦除所述非易失性存儲器中原有的校準信息；
從所述校準控制單元中讀取所述測試校準信息，將所述操作寄存器配置為編程操作，通過對所述非易失性存儲器進行編程將所述測試校準信息寫入所述非易失性存儲器。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：
將所述操作寄存器配置為讀取操作，讀取所述非易失性存儲器中的測試校準信息，并將所述測試校準信息寫入所述可配校準寄存器；
將從所述非易失性存儲器中讀取的測試校準信息與所述可配校準寄存器中原有的測試校準信息進行比較；
若相同，則確定所述非易失性存儲器中的測試校準信息正確。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：
若不滿足預設的測試條件，則判斷是否需要繼續進行測試校準；
若需要，則返回所述接收測試校準信息，將所述測試校準信息寫入所述校準控制單元的步驟。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校準控制單元包括：閃存校準寄存器，
所述方法還包括：
接收閃存配置信息，將所述閃存配置信息寫入所述校準選擇寄存器；其中，所述閃存配置信息用于指示選擇閃存校準寄存器通路。
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