技術領域

本發明涉及一種電波暗室。

背景技術

電磁兼容（ElectromagneticCompatibility，EMC）測試需要使用電波暗室作為測試場地。現有電波暗室的周壁及頂壁的內表面上通常鋪設若干方形的電波吸收板，如鐵氧體板，以便于吸收電磁波，但這些電波吸收板之間具有縫隙。在進行電磁兼容測試時，部分電磁波射入這些縫隙，會反射至暗室內，降低了該電波暗室的吸收率，影響測試精度。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種具有較高吸波率的電波暗室。

一種電波暗室，包括一室體及鋪設于該室體內表面的若干第一電波吸收板、若干第二電波吸收板及若干第三電波吸收板，每一第一電波吸收板的四周搭接第二電波吸收板，每一第二電波吸收板的四周搭接有第一電波吸收板及第三電波吸收板，每一第三電波吸收板的四周搭接第二電波吸收板，使這些第一電波吸收板、第二電波吸收板及第三電波吸收板組合成一個整體。

相較現有技術，所述電波暗室的第一電波吸收板、第二電波吸收板及第三電波吸收板搭接成一整體，從而使第一電波吸收板、第二電波吸收板及第三電波吸收板之間沒有間隔，能有效地吸收電磁波，提高了電波暗室的吸波率，確保測試結果的準確性。

附圖說明

圖1為本發明電波暗室的較佳實施方式的立體組裝圖。

圖2為圖1中的II部分的放大圖，該電波暗室包括若干第一電波吸收板、若干第二電波吸收板及若干第三電波吸收板。

圖3為圖2的其中一第一電波吸收板、一第二電波吸收板及一第三電波吸收板的組裝圖。

圖4為圖3的立體分解圖。

圖5為圖4的另一視角立體圖。

主要元件符號說明

電波暗室100

屏蔽室10

測試臺30

天線50

底壁12

周壁14

頂壁16

第一電波吸收板17

第一板體171

前表面172、182、192

定位柱173

第一搭接條175

突起176、196

第二電波吸收板18

第二板體181

第二搭接條183

收容口185、195

定位孔186

第三電波吸收板19

第三板體191

第三搭接條193

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式

請一并參閱圖1及圖2，本發明電波暗室100的較佳實施方式包括一屏蔽室10、一測試臺30及一天線50。該屏蔽室10包括一底壁12、自該底壁12的四周向上延伸的一周壁14及一設置在周壁14的頂部的頂壁16。

該周壁14及頂壁16的內表面緊密排列若干方形的第一電波吸收板17、若干方形的第二電波吸收板18及若干方形的第三電波吸收板19。每一第一電波吸收板17的四周連接有四塊第二電波吸收板18。每一第二電波吸收板18其中兩相對的側邊連接有兩第一電波吸收板17，該第二電波吸收板18的另外兩相對的側邊連接有兩第三電波吸收板19。每一第三電波吸收板19的四周連接有四塊第二電波吸收板18。在本實施方式中，第一電波吸收板17、第二電波吸收板18及第三電波吸收板19為鐵氧體板。

請一并參閱圖3至圖5，每一第一電波吸收板17包括一方形的第一板體171及自該第一板體171的四側面于遠離前表面172處分別向外延伸的四第一搭接條175。每相鄰的兩第一搭接條175之間連接一方形的定位柱173。這些定位柱173的前表面與第一板體171的前表面172齊平。每一第一搭接條175的前表面凸設若干半球狀的突起176，這些突起176沿該第一搭接條175的長度方向排列。每一定位柱173的邊長小于四分之一待吸收的電磁波的波長。

每一第二電波吸收板18包括一方形的第二板體181及自該第二板體181的四側面于鄰近前表面182處分別向外延伸的四第二搭接條183。每相鄰的兩第二搭接條183之間圍成一收容口185。這些第二搭接條183的前表面與第二板體181的前表面182齊平。每一第二搭接條183的后表面的中部開設若干半球狀的定位孔186，這些定位孔186沿該第二搭接條183的長度方向排列。每一第二搭接條183的長度等于第一搭接條175的長度，每一第二搭接條183的寬度等于定位柱173的邊長。