1.一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，設(shè)計了一種全新的矢量CRC執(zhí)行單元，在此基礎(chǔ)上實現(xiàn)了矢量CRC5校驗指令、矢量CRC8校驗指令、矢量CRC16校驗指令、矢量CRC24校驗指令、矢量CRC32校驗指令的設(shè)計以及使用這些指令設(shè)計的CRC校驗裝置。

2.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述矢量CRC執(zhí)行單元包括硬件復(fù)用管理單元和狀態(tài)寄存器并行轉(zhuǎn)移單元，硬件復(fù)用管理單元控制各條矢量CRC指令充分復(fù)用硬件資源，可以保證使用較少的硬件資源即可完成多條矢量CRC指令的設(shè)計，減少了硬件開銷；狀態(tài)寄存器并行轉(zhuǎn)移單元在輸入8bit數(shù)據(jù)后只需要一個周期即可完成狀態(tài)寄存器值的轉(zhuǎn)移，執(zhí)行時間短，運行效率高。

3.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述的矢量CRC5校驗指令：是一條8路并行CRC校驗指令，每次將初始CRC余數(shù)和8bit數(shù)據(jù)送入CRC執(zhí)行單元，一個周期后即可得出新的CRC余數(shù)，將所有數(shù)據(jù)計算完成后，狀態(tài)寄存器中剩余的5bit數(shù)據(jù)即是CRC校驗結(jié)果。

4.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述的矢量CRC8校驗指令：是一條8路并行CRC校驗指令，每次將初始CRC余數(shù)和8bit數(shù)據(jù)送入CRC執(zhí)行單元，一個周期后即可得出新的CRC余數(shù)，將所有數(shù)據(jù)計算完成后，狀態(tài)寄存器中剩余的8bit數(shù)據(jù)即是CRC校驗結(jié)果。

5.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述矢量CRC16校驗指令：是一條8路并行CRC校驗指令，每次將初始CRC余數(shù)和8bit數(shù)據(jù)送入CRC執(zhí)行單元，一個周期后即可得出新的CRC余數(shù)，將所有數(shù)據(jù)計算完成后，狀態(tài)寄存器中剩余的16bit數(shù)據(jù)即是CRC校驗結(jié)果。

6.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述的矢量CRC24校驗指令：是一條8路并行CRC校驗指令，每次將初始CRC余數(shù)和8bit數(shù)據(jù)送入CRC執(zhí)行單元，一個周期后即可得出新的CRC余數(shù)，將所有數(shù)據(jù)計算完成后，狀態(tài)寄存器中剩余的24bit數(shù)據(jù)即是CRC校驗結(jié)果。

7.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述的矢量CRC32校驗指令：是一條8路并行CRC校驗指令，每次將初始CRC余數(shù)和8bit數(shù)據(jù)送入CRC執(zhí)行單元，一個周期后即可得出新的CRC余數(shù)，將所有數(shù)據(jù)計算完成后，狀態(tài)寄存器中剩余的32bit數(shù)據(jù)即是CRC校驗結(jié)果。

8.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，本設(shè)計方法不僅適用于設(shè)計如權(quán)利要求1所述的各條CRC指令，也適用于設(shè)計任意多項式的CRC指令，按本文提供的設(shè)計方法可以設(shè)計出任意多項式的CRC校驗指令。

9.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，本設(shè)計方法可以設(shè)計如權(quán)利要求2至權(quán)利要求6所述的8路并行的CRC指令，還可以設(shè)計任意路并行的CRC指令。

10.如權(quán)利要求1所述的一種矢量CRC檢驗指令的設(shè)計方法，其特征在于，所述的CRC校驗裝置：利用本方法設(shè)計的CRC指令和處理器的讀取、存儲數(shù)據(jù)指令完成CRC校驗，在此CRC校驗裝置中充分利用了流水線技術(shù)和多指令并發(fā)技術(shù)，可以極大的提高CRC校驗的效率。