技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及鼠標(biāo)技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法。

背景技術(shù)

無(wú)線鼠標(biāo)二合一芯片是集RF與MCU于一體的集成芯片，可靈活的搭配一顆光學(xué)Sensor就可以完成無(wú)線鼠標(biāo)的發(fā)射端。然而，由于封裝工藝或者內(nèi)部RF的原因，會(huì)導(dǎo)致其RF數(shù)據(jù)傳輸功能不良。所以在產(chǎn)品批量出貨前，對(duì)RF數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y(cè)試非常關(guān)鍵。

但是，由于射頻產(chǎn)品在批量測(cè)試時(shí)，容易出現(xiàn)相互之間的干擾，大大影響批量測(cè)試的效率與準(zhǔn)確性。

在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在抗干擾能力弱、測(cè)試效率低和準(zhǔn)確性差等缺陷。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，針對(duì)上述問(wèn)題，提出一種無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法，以實(shí)現(xiàn)抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試效率高和準(zhǔn)確性好的優(yōu)點(diǎn)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法，主要包括：

a、給發(fā)射端的待測(cè)二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測(cè)二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號(hào)；

b、讀取與待測(cè)二合一芯片搭配的傳感器ID，根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試。

進(jìn)一步地，在步驟b中，所述根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試的操作，具體包括：

芯片上電后，讀取傳器ID，當(dāng)該傳感器ID不是預(yù)設(shè)的自定義測(cè)試模式ID時(shí)，二合一芯片進(jìn)入正常普通工作模式，反之進(jìn)入測(cè)試模式。

進(jìn)一步地，在步驟b中，所述根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試的操作，具體包括：

當(dāng)該傳感器ID是預(yù)設(shè)的自定義測(cè)試模式ID時(shí)，進(jìn)入測(cè)試模式；進(jìn)入測(cè)試模式后，自動(dòng)啟動(dòng)在二合一芯片里內(nèi)置的無(wú)線通信測(cè)試代碼，內(nèi)置的測(cè)試代碼會(huì)根據(jù)讀取的ID設(shè)置無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸所需要數(shù)據(jù)包格式的同步字段與載波頻率；

同時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)也設(shè)置與二合一芯片同樣的數(shù)據(jù)包格式；

根據(jù)上述獲得的同步字段與載波頻率，在待測(cè)二合一芯片與測(cè)試系統(tǒng)之間，進(jìn)行收發(fā)數(shù)據(jù)測(cè)試；測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)與二合一芯片之間完成無(wú)線收發(fā)數(shù)據(jù)的裝置，測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部主要由控制器與RF收發(fā)器構(gòu)成。

本發(fā)明各實(shí)施例的無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法，由于主要包括：給發(fā)射端的待測(cè)二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測(cè)二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號(hào)；讀取與待測(cè)二合一芯片搭配的傳感器ID，根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試；可以解決無(wú)線鼠標(biāo)二合一集成芯片測(cè)試的問(wèn)題，大大提高了產(chǎn)品在市場(chǎng)的良品率有效率；從而可以克服現(xiàn)有技術(shù)中抗干擾能力弱、測(cè)試效率低和準(zhǔn)確性差的缺陷，以實(shí)現(xiàn)抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試效率高和準(zhǔn)確性好的優(yōu)點(diǎn)。

本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書中闡述，并且，部分地從說(shuō)明書中變得顯而易見(jiàn)，或者通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而了解。

下面通過(guò)附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

附圖說(shuō)明

附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書的一部分，與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1為本發(fā)明無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法中被測(cè)芯片的測(cè)試流程圖；

圖2為本發(fā)明無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法中測(cè)試系統(tǒng)的配置流程圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，如圖1和圖2所示，提供了一種無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法。該無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法，解決無(wú)線鼠標(biāo)二合一集成芯片測(cè)試的問(wèn)題，大大提高了產(chǎn)品在市場(chǎng)的良品率有效率。

本實(shí)施例的無(wú)線二合一鼠標(biāo)端芯片的批量測(cè)試方法，主要包括：

a、給發(fā)射端的待測(cè)二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測(cè)二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號(hào)；

b、讀取與待測(cè)二合一芯片搭配的傳感器ID，根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試；

在步驟b中，所述根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試的操作，具體包括：

芯片上電后，讀取傳器ID，當(dāng)該傳感器ID不是預(yù)設(shè)的自定義測(cè)試模式ID時(shí)，二合一芯片進(jìn)入正常普通工作模式，反之進(jìn)入測(cè)試模式；

和/或，在步驟b中，所述根據(jù)該傳感器ID，對(duì)待測(cè)二合一芯片進(jìn)行測(cè)試的操作，具體包括：