技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及分光光度計(jì)，特別涉及搭載了試樣室蓋開閉檢測(cè)單元的分光光度計(jì)。

背景技術(shù)

目前，關(guān)于在分光光度計(jì)的試樣室或試樣室蓋上搭載并利用試樣室蓋開閉檢測(cè)單元的技術(shù)，已知專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2、專利文獻(xiàn)3。

在專利文獻(xiàn)1中公開的分光光度計(jì)中，是在試樣室的蓋上設(shè)置蓋開閉檢測(cè)單元，配合蓋的開閉，將光束向試樣室入射、遮斷的方法。在該方法中，以使用氘燈、鎢燈作為光源的分光光度計(jì)為對(duì)象。氘燈和鎢燈發(fā)熱量高，在將光源一度熄滅的情況下，直到光源穩(wěn)定之前需要時(shí)間。因此，在該專利中，光源本身不熄滅，而利用狹縫板或者光源反射鏡來遮斷光源的光束。因此，在專利文獻(xiàn)1公開的方法中，不會(huì)有助于延長(zhǎng)光源的使用期間，降低裝置的消耗功率。

在專利文獻(xiàn)2公開的核酸檢測(cè)裝置中，具備：在結(jié)束了試劑和試樣的分注之后關(guān)閉檢測(cè)容器的蓋的關(guān)蓋單元、以及對(duì)關(guān)閉的檢測(cè)容器內(nèi)的目標(biāo)核酸進(jìn)行擴(kuò)增檢測(cè)的單元。在該專利文獻(xiàn)2公開的技術(shù)中，在關(guān)閉蓋后，通過基因擴(kuò)增反應(yīng)來進(jìn)行擴(kuò)增目標(biāo)基因的預(yù)處理，并非通過關(guān)閉蓋來開始測(cè)定。這是由于，關(guān)閉蓋的行為是以防止試樣污染為目的。因此，在該專利文獻(xiàn)2公開的方法中，未考慮延長(zhǎng)光源的使用期間、降低裝置的消耗功率。

在專利文獻(xiàn)3公開的分光測(cè)定裝置中，特征在于設(shè)置有能夠檢測(cè)有無在試樣室的試樣設(shè)置處設(shè)置試樣的檢測(cè)單元以及能夠針對(duì)試樣室的開閉進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)單元，在未設(shè)置試樣的狀態(tài)下，在關(guān)閉試樣室的狀態(tài)時(shí)自動(dòng)取得背景數(shù)據(jù)。然而，在專利文獻(xiàn)3公開的技術(shù)中不包含本發(fā)明這樣對(duì)試樣室蓋的開閉和光源的點(diǎn)亮熄滅進(jìn)行控制的技術(shù)，因此，不會(huì)有助于延長(zhǎng)光源的使用期間、降低裝置的消耗功率。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開2005-201680號(hào)公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本特開2005-95134號(hào)公報(bào)

專利文獻(xiàn)3：日本特開2006-162259號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的課題

在上述現(xiàn)有技術(shù)中，前提是以氘燈和鎢燈作為光源的分光光度計(jì)，在這樣的分光光度計(jì)中，光源的發(fā)熱量高，在一度熄滅的情況下，直到光源穩(wěn)定之前需要時(shí)間，因此，在試樣的設(shè)置時(shí)等測(cè)定過程中以外的使用時(shí)間中，光源始終為點(diǎn)亮狀態(tài)。因此，存在難以有效使用光源的光，并且消耗功率變高的課題。

本發(fā)明的目的在于，通過有效地使用分光光度計(jì)的光源的光，延長(zhǎng)光源的使用期間、降低裝置的消耗功率。

用于解決課題的手段

一種分光光度計(jì)，具有：能夠開閉用于設(shè)置試樣和參照用試樣的試樣室的開口部的試樣室蓋以及檢測(cè)所述試樣室蓋的開閉狀態(tài)的試樣室蓋開閉檢測(cè)單元，對(duì)作為光源的氙閃光燈以及分光器、檢測(cè)器、放大器、AD轉(zhuǎn)換器、處理器、存儲(chǔ)裝置、數(shù)據(jù)顯示部進(jìn)行測(cè)定控制，所述分光光度計(jì)的特征在于，在試樣設(shè)置指示狀態(tài)下通過所述試樣室開閉檢測(cè)單元檢測(cè)到所述蓋從敞開狀態(tài)關(guān)閉的狀態(tài)后，將光源點(diǎn)亮，測(cè)定吸光度、透過率、反射率、試樣側(cè)能量值或參照側(cè)能量值，并將測(cè)定結(jié)果顯示在數(shù)據(jù)顯示部中。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，通過與試樣室蓋連動(dòng)地控制光源的點(diǎn)亮熄滅，獲得了延長(zhǎng)光源的使用期間、降低裝置的消耗功率的效果。

附圖說明

圖1是表示分光光度計(jì)的結(jié)構(gòu)和信號(hào)處理的流程的圖。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例1的處理器/存儲(chǔ)裝置所執(zhí)行的控制處理的流程圖。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例2的處理器/存儲(chǔ)裝置所執(zhí)行的控制處理的流程圖。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例3的處理器/存儲(chǔ)裝置所執(zhí)行的控制處理的流程圖。

圖5是在關(guān)閉試樣室蓋之后進(jìn)行了吸光度的時(shí)間變化測(cè)定的結(jié)果的圖。

圖6是使用根據(jù)關(guān)閉試樣室蓋之后得到的過去5點(diǎn)的吸光度所計(jì)算出的標(biāo)準(zhǔn)偏差，進(jìn)行了穩(wěn)定度判定的圖。

圖7是在關(guān)閉試樣室蓋之后進(jìn)行參照側(cè)能量值的時(shí)間變化測(cè)定所得的結(jié)果的圖。

圖8是使用關(guān)閉試樣室蓋之后得到的參照側(cè)能量值的過去5點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，進(jìn)行了穩(wěn)定度判定的圖。

圖9是在關(guān)閉試樣室蓋之后進(jìn)行參照側(cè)能量值的時(shí)間變化測(cè)定所得的結(jié)果的圖。

圖10是使用關(guān)閉試樣室蓋之后得到的參照側(cè)能量值的過去5點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，進(jìn)行了穩(wěn)定度判定的圖。

圖11是本發(fā)明實(shí)施例4的處理器/存儲(chǔ)裝置所執(zhí)行的控制處理的流程圖。

具體實(shí)施方式

以下，參照附圖說明本發(fā)明的實(shí)施例。