技術領域

本實用新型涉加速壽命試驗領域的實驗裝置，具體是指高溫環境下光電模塊性能測試裝置。

背景技術

加速壽命試驗的統一定義最早由美羅姆航展中心于1967年提出，加速壽命試驗是在進行合理工程及統計假設的基礎上，利用與物理失效規律相關的統計模型對在超出正常應力水平的加速環境下獲得的信息進行轉換，得到產品在額定應力水平下的特征可復現的數值估計的一種試驗方法。簡言之，加速壽命試驗是在保持失效機理不變的條件下，通過加大試驗應力來縮短試驗周期的一種壽命試驗方法。加速壽命試驗采用加速應力水平來進行產品的壽命試驗，從而縮短了試驗時間,提高了試驗效率,降低了試驗成本。進行加速壽命試驗必須確定一系列的參數，包括(但不限于)：?試驗持續時間、樣本數量、試驗目的、要求的置信度、需求的精度、費用、加速因子、外場環境、試驗環境、加速因子計算、威布爾分布斜率或β參數(β?<?1表示早期故障，β?>?1?表示耗損故障)?。用加速壽命試驗方法確定產品壽命，關鍵是確定加速因子，而有時這是最困難的，一般用以下兩種方法：1、現有模型，現有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用現有模型比用試驗方法來確定加速因子節省時間，并且所需樣本少，但不是很精確，且模型變量的賦值較復雜；2、通過試驗確定的模型(需要大量試驗樣本和時間)?，若沒有合適的加速模型，就需要通過試驗導出加速因子，先將樣本分成3個應力級別：高應力、中應力、低應力，定試驗計劃確保在每一個應力級別上產生相同的失效機理，這是確定加速因子較精確的方法,但需要較長的時間和較多樣本。

由于光電模塊是一個整體集合，其中包含許多電子元器件，其中以LED最為重要，是光電模塊工作的核心器件，LED的可靠性直接關系到整個光電模塊的可靠性。現有技術大多是以單獨剝離出LED，在高溫下進行測試并推導出其在正常情況下的壽命，以LED的壽命作為整個光模塊的壽命。這樣的方法雖然簡單，但是忽視了光電模塊作為一個整體，有可能會因為除了LED以外的內部其他器件的問題而達到壽命上限。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供高溫環境下光電模塊性能測試裝置，解決目前的以LED的可靠性來代替整個光電模塊的可靠性存在的失真問題，達到測試整個光電模塊的目的。

本實用新型的目的通過下述技術方案實現：

高溫環境下光電模塊性能測試裝置，包括高溫烤箱，在高溫烤箱內安裝有內部測試板，還包括外部測試板，內部測試板與外部測試板連接，外部測試板的通過電平轉換芯片輸出信號傳輸至計算機。

所述內部測試板包括n個SFP插座，n為大于1的自然數，這n個SFP插座的SDA、SCL、VCC三個管腳與金屬端子連接，連接SDA和SCL的金屬端子通過耐高溫導線同時分別與I²C總線多路復用器、模擬多路復用器連接，I²C總線多路復用器、模擬多路復用器均與數字信號處理器DSP連接，數字信號處理器的輸出端連接至電平轉換芯片，電平轉換芯片的輸出端連接至上位機。本實用新型在使用時內部測試板放置在高溫測試箱內，高溫狀態下光電模塊的I²C診斷信號通過SFP插座傳輸給I²C總線多路復用器和模擬多路復用器，I²C總線多路復用器是一種綜合系統，通常包含一定數目的數據輸入，n個地址輸入，以二進制形式選擇一種數據輸入，I²C總線多路復用器有一個單獨的輸出，與選擇的數據輸入值相同，用于中等密度的自動化測試系統，在自動測試系統中配合臺式數字萬用表、信號發生器等各種測試儀器，實現在計算機控制系統中的自動化測試，擴展儀器測試通道；模擬多路復用器的用途與總線多路復用器的作用類似，采集不同矢量的方向的輸入信號并傳遞給數字信號處理器，數字信號處理器將采集到的模擬信號進行采樣變成數字信號，并經過電平轉換芯片轉換后通過串口發送給上位機。

所述的SFP插座的SDA、SCL、VCC三個管腳與金屬端子連接。具體地講，SFP插座作為測試件的連接端口，在SFP插座上連接金屬端子，具體的管腳為SDA、SCL、VCC，就可以測試光電模塊的多個參數了。