技術領域

本發明涉及顯示面板的檢測技術領域；更具體地講，涉及一種顯示面板的缺陷檢測方法及缺陷檢測裝置。

背景技術

隨著顯示技術領域的飛速發展，高品質圖像顯示的顯示面板（例如，液晶顯示面板）已變得越來越流行。然而根據現有的顯示面板的制造技術，完全避免顯示缺陷的發生是非常困難也是不現實的，因此在顯示面板的制造工序中，對顯示面板進行顯示缺陷檢查的工序是十分必要的。

現有技術中，一般采用光源照射顯示面板，并獲取對應的灰階圖，繼而根據灰階圖是否出現灰階差異來判定顯示面板是否具有缺陷。然而，由于某些類型的缺陷（例如在顯示面板端子側的凸起或貝殼裂）在光源照射顯示面板時對應灰階圖的灰階差異較小，不易被分辨，極易被漏檢，從而降低對顯示面板的缺陷檢測能力。

發明內容

為了解決上述現有技術存在的問題，本發明的目的在于提供一種能夠極易分辨顯示面板上的各種缺陷，從而提高檢測準確率的顯示面板的缺陷檢測方法及缺陷檢測裝置。

根據本發明的一方面，提供了一種顯示面板的缺陷檢測方法，包括步驟：A）獲取顯示面板的邊緣圖像及所述邊緣圖像中每個像素的灰階值；B）在所述邊緣圖像中選擇一特定區域，并獲得所述特定區域中的每個像素的灰階值；C）對所述特定區域中的所有像素的灰階值取平均值，以得到所述特定區域中的所有像素的平均灰階值；D）基于得到的所述平均灰階值對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理，以獲得若干分界線，其中，所述分界線上的像素的灰階值與除所述分界線上的像素之外的其它像素的灰階值不同；E）過濾所述若干分界線中的水平線和垂直線，以得到若干剩余的分界線；F）對所述若干剩余的分界線壓缺陷規格線，當所述剩余的分界線的寬度不小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線為缺陷線。

進一步地，所述的缺陷檢測方法還包括步驟：G）當所述剩余的分界線的寬度小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線不為缺陷線。

進一步地，在所述步驟D）中，所述“基于得到的所述平均灰階值來對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理”的具體實現方式為：將所述特定區域中的每個像素的灰階值與所述平均灰階值進行比較；其中，當所述特定區域中的某個像素的灰階值不小于所述平均灰階值時，將該某個像素的灰階值設置為“1”，當所述特定區域中的某個像素的灰階值小于所述平均灰階值時，將該某個像素的灰階值設置為“0”。

進一步地，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。

根據本發明的另一方面，還提供了一種顯示面板的缺陷檢測裝置，包括：圖像獲取單元，被配置為獲取顯示面板的邊緣圖像及所述邊緣圖像中每個像素的灰階值；選擇單元，被配置為在所述邊緣圖像中選擇一特定區域，并獲得所述特定區域中的每個像素的灰階值；計算單元，被配置為對所述特定區域中的所有像素的灰階值取平均值，以得到所述特定區域中的所有像素的平均灰階值；二值化處理單元，被配置為基于得到的所述平均灰階值對所述特定區域中的每個像素的灰階值進行二值化處理，以獲得若干分界線，其中，所述分界線上的像素的灰階值與除所述分界線上的像素之外的其它像素的灰階值不同；過濾單元，被配置為過濾所述若干分界線中的水平線和垂直線，以得到若干剩余的分界線；缺陷判斷單元，被配置為判斷所述剩余的分界線的寬度是否小于所述缺陷規格線的寬度；缺陷確定單元，被配置為當所述缺陷判斷單元判斷為所述剩余的分界線的寬度不小于所述缺陷規格線的寬度時，確定所述剩余的分界線為缺陷線。

進一步地，當所述缺陷判斷單元判斷所述剩余的分界線的寬度小于所述缺陷規格線的寬度時，所述缺陷確定單元確定所述剩余的分界線不為缺陷線。

進一步地，所述二值化處理單元對所述特定區域中的每個像素的灰階值與所述平均灰階值進行比較；其中，當所述特定區域中的某個像素的灰階值不小于所述平均灰階值時，所述二值化處理單元將該某個像素的灰階值設置為“1”，當所述特定區域中的某個像素的灰階值小于所述平均灰階值時，所述二值化處理單元將該某個像素的灰階值設置為“0”。

進一步地，所述分界線的寬度與每個所述像素的寬度相同。

本發明的顯示面板的缺陷檢測方法及缺陷檢測裝置，能夠容易地分辨出顯示面板的某些難以被檢測出的缺陷（例如在顯示面板端子側的凸起或貝殼裂），提高檢測準確率，從而提升對顯示面板的缺陷檢測能力。

附圖說明

通過下面結合附圖進行的詳細描述，本發明的上述和其它目的、特點和優點將會變得更加清楚，附圖中：