1.一種探測器，其特征在于，應(yīng)用于漫透射比測量系統(tǒng)中，所述系統(tǒng)包括所述探測器、光源系統(tǒng)、分光系統(tǒng)和電控裝置，所述電控系統(tǒng)與所述探測器、光源系統(tǒng)、分光系統(tǒng)相連并提供電源，所述探測器為圓形，且所述探測器的內(nèi)表面被光電探測器完全覆蓋。

2.如權(quán)利要求1所述的探測器，其特征在于，所述探測器上開設(shè)有一個缺口，在進行測量時，該缺口被被檢測樣品覆蓋。

3.如權(quán)利要求1所述的探測器，其特征在于，所述電控系統(tǒng)還用于監(jiān)控所述漫透射比測量系統(tǒng)中電流電壓的穩(wěn)定程度。

4.如權(quán)利要求1所述的探測器，其特征在于，所述電控系統(tǒng)還用于控制分光系統(tǒng)的運行。

5.如權(quán)利要求1所述的探測器，其特征在于，所述電控系統(tǒng)還用于將探測器輸出的電流進行放大并實現(xiàn)AD轉(zhuǎn)換。

6.一種漫透射比測量系統(tǒng)，其特征在于，包括如權(quán)利要求1-6任一項所述的探測器。

7.如權(quán)利要求6所述的漫透射比測量系統(tǒng)，其特征在于，還包括：計算裝置，與所述探測器相連，并根據(jù)如下公式計算被檢測樣品的漫透射比τ：τ=Ix-I0I100-I0]]>

其中，I₁₀₀為被檢測樣品未放入光路時，所述探測器測量得到的電流值，I₀為將被檢測樣品更換為一不透光擋板時，所述探測器測量測量得到電流值，I_x為被檢測樣品放入時，系統(tǒng)測量得到的電流值。