[發明專利]元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建方法及系統有效
| 申請號: | 201310464433.8 | 申請日: | 2013-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN103514330A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發明(設計)人: | 林曉玲;肖慶中 | 申請(專利權)人: | 工業和信息化部電子第五研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;曾旻輝 |
| 地址: | 510610 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 元器件 失效 分析 專家系統 流程 構建 方法 系統 | ||
技術領域
本發明涉及故障診斷技術領域,特別是涉及一種元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建方法以及一種元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建系統。
背景技術
電子元器件(包括集成電路)在實際應用過程中,涉及存儲、運輸、可靠性試驗、使用等多個過程,在高溫、電、水汽等多種綜合環境應力條件的作用下,不可避免的會出現失效,導致失效的原因復雜且多。對電子元器件進行失效分析(又稱fa:failure?analysis),多參照MIL-STD883、GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序、GJB128A-97半導體分立器件試驗方法等標準的失效分析程序,運用電特性分析、結構物理分析、化學分析等失效分析技術來驗證失效,確認失效品的失效模式、失效機理和原因。
失效分析對象種類和失效現象的不同,導致所遵循的分析程序、所采用的失效分析方法不同,在分析步驟的實施過程中得到的失效現象(證據)也各不相同。每進行一項失效分析項目之前都應該有一個明確的目的,即為確認其失效原因本分析項目應獲取哪些信息,根據所獲取的信息,確定下一步該采取哪一項的失效分析項目。對失效器件進行任一項操作與檢查時,稍不注意就會破壞器件原來的失效特征,丟失與失效原因有關的寶貴信息。可見,在實際失效分析過程中,分析流程的安排非常重要。
電子元器件門類繁多,涉及的知識面廣且信息量大,對失效分析技術人員要求很高。失效分析專家系統的研發,有利于及時積累專家的失效分析經驗、失效分析案例,給失效分析技術人員(特別是新人)以及時的咨詢和指導。失效分析過程的復雜性及不可逆性(需遵從非破壞性、半破壞性、破壞性的分析原則)、失效原因的排它性,決定了充當電子手段來輔助進行失效分析的電子元器件失效分析專家系統不能只是資料的簡單堆砌及查閱借鑒。具備失效分析功能的專家系統應該可以提供失效分析流程的決策支持,以指導失效分析的進行,并且最終能綜合多個失效分析步驟的結果而給出明確的失效分析結論。
因此,開發電子元器件失效分析專家系統,最關鍵的一點就是系統中失效分析流程的構建,以使系統具備指導失效分析進行并得出失效分析結論的功能,形成的流程需滿足如下三點要求:
一、可以針對不同門類的電子元器件對象構建不同的失效分析流程;
二、能夠根據上一步失效分析步驟獲得的信息而跳轉到下一步的失效分析步驟,并最終完成失效分析,綜合多步驟的分析結果之后推理判斷出失效原因;
三、構建的失效分析流程可編輯(新增、刪除流程或者修改流程中的內容),以便根據實際情況作出及時的調整,使分析流程最優化。
目前尚未有文獻報道和專利公開具有失效分析功能的電子元器件失效分析專家系統,也未見有關專家系統中失效分析流程構建的方法介紹。為滿足電子元器件失效分析專家系統的開發需求,應建立一種能夠滿足實際失效分析情況需求的失效分析流程的構建方法,使失效分析專家系統具有輔助指導電子元器件失效分析過程的功能。
發明內容
基于此,本發明提供一種元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建方法及系統,能夠滿足實際失效分析情況需求,使失效分析專家系統具有輔助指導電子元器件失效分析過程的功能。
為實現上述目的,本發明采用如下的技術方案:
一種元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建方法,包括以下步驟:
采集各門類電子元器件的失效信息;所述失效信息包括:失效分析方法、失效現象、失效模式、失效機理、失效環境;
構建各失效信息之間的關聯關系;
以所述失效模式為觸發點,根據各失效信息之間的關聯關系構建元器件失效分析專家系統中的失效分析流程。
一種元器件失效分析專家系統中失效分析流程構建系統,包括:
失效信息采集模塊,用于采集各門類電子元器件的失效信息;所述失效信息包括:失效分析方法、失效現象、失效模式、失效機理、失效環境;
關聯關系構建模塊,用于構建各失效信息之間的關聯關系;
失效分析流程構建模塊,用于以所述失效模式為觸發點,根據各失效信息之間的關聯關系構建元器件失效分析專家系統中的失效分析流程。
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