1.一種內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

一供電端，以接收供電電源；

一接地端，以接收地電壓；

一時(shí)鐘端，以接收時(shí)鐘信號(hào)；以及

一輸出端；

所述內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)所述供電端、接地端和時(shí)鐘端啟動(dòng)，并對(duì)一芯片進(jìn)行耐力測(cè)試，并通過(guò)所述輸出端輸出耐力測(cè)試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述耐力測(cè)試為：

芯片功能耐力測(cè)試，所述芯片功能耐力測(cè)試通過(guò)一芯片功能耐力測(cè)試模塊實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)所述芯片功能耐力測(cè)試的輸出端輸出的芯片功能耐力測(cè)試結(jié)果判斷所述芯片是否正常；

擦除耐力測(cè)試，所述擦除耐力測(cè)試通過(guò)一擦除模塊實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)所述芯片功能耐力測(cè)試的輸出端輸出的擦除耐力測(cè)試結(jié)果判斷所述芯片是否擦除功能失效；

讀1耐力測(cè)試，所述讀1耐力測(cè)試通過(guò)一讀1模塊實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)所述芯片功能耐力測(cè)試的輸出端輸出的讀1耐力測(cè)試結(jié)果判斷所述芯片是否讀1功能失效；

寫(xiě)0耐力測(cè)試，所述寫(xiě)0耐力測(cè)試通過(guò)一寫(xiě)0模塊實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)所述芯片功能耐力測(cè)試的輸出端輸出的寫(xiě)0耐力測(cè)試結(jié)果判斷所述芯片是否寫(xiě)0功能失效；

讀0耐力測(cè)試，所述讀0耐力測(cè)試通過(guò)一讀0模塊實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)所述芯片功能耐力測(cè)試的輸出端輸出的讀0耐力測(cè)試結(jié)果判斷所述芯片是否讀0功能失效。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述芯片功能耐力測(cè)試結(jié)果表示芯片正常時(shí)，所述擦除耐力測(cè)試、讀1耐力測(cè)試、寫(xiě)0耐力測(cè)試和讀0耐力測(cè)試依次循環(huán)進(jìn)行。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括一記錄耐力測(cè)試次數(shù)的計(jì)數(shù)器，所述時(shí)鐘信號(hào)作為所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)輸入信號(hào)。

5.一種老化測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

整機(jī)測(cè)試板；

至少一組芯片，每組芯片中的每一芯片分別安置在所述整機(jī)測(cè)試板上；

內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)，所述內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)分別集成到所述每一芯片中，每一所述內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)包括一供電端、一接地端、一時(shí)鐘端以及一輸出端，各所述內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)中的供電端、接地端和時(shí)鐘端分別相連接在一起，每一所述內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)所述供電端、接地端和時(shí)鐘端啟動(dòng)后對(duì)與其對(duì)應(yīng)的芯片進(jìn)行耐力測(cè)試，并通過(guò)所述輸出端輸出耐力測(cè)試結(jié)果；

解碼器，每一所述解碼器分別對(duì)應(yīng)接收一組所述芯片中的各內(nèi)建耐力測(cè)試系統(tǒng)輸出端輸出的耐力測(cè)試結(jié)果，并根據(jù)接收到的耐力測(cè)試結(jié)果輸出一組解碼結(jié)果；

終端測(cè)試設(shè)備，所述終端測(cè)試設(shè)備根據(jù)各所述解碼器輸出的每組解碼結(jié)果，以確定不能實(shí)現(xiàn)耐力測(cè)試的芯片。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試裝置，其特征在于，

當(dāng)在所述整機(jī)測(cè)試板上安置一組芯片時(shí)，所述一組芯片的數(shù)目為32個(gè)，所述解碼器為32線-5線解碼器。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試裝置，其特征在于，

當(dāng)在所述整機(jī)測(cè)試板上安置九組芯片時(shí)，所述每組芯片的數(shù)目為32個(gè)，所述解碼器為32線-5線解碼器。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試裝置，其特征在于，

當(dāng)在所述整機(jī)測(cè)試板上安置一組芯片時(shí)，所述一組芯片的數(shù)目為64個(gè)，所述解碼器為64線-6線解碼器。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試裝置，其特征在于，

當(dāng)在所述整機(jī)測(cè)試板上安置八組芯片時(shí)，所述每組芯片的數(shù)目為64個(gè)，所述解碼器為64線-6線解碼器。