技術領域

本實用新型涉及集成電路測試系統，特別是指一種基于測試系統V93000的測試適配器。

背景技術

V93000為大規模SOC(System?on?Chip)集成電路測試系統，測試系統提供大規模的多點測試，可測試用于各種終端產品（從數字電視到無線通信設備）的片上系統(SOC)器件和系統級封裝（SiP）器件。V93000測試速度快、測試精度高、通道數多，對于集成電路芯片XC95144XL的測試具有重要意義，但集成電路芯片XC95144XL無法直接在測試系統V93000上完成配置和測試，需要設計V93000專用適配器完成集成電路芯片XC95144XL的配置和測試，目前還沒有基于V93000測試系統的XC95144XL測試適配器。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種基于測試系統V93000的測試適配器，提高被測器件XC95144XL的測試精度和測試效率。

基于上述目的本實用新型提供的一種基于測試系統V93000的測試適配器，包括：

配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器；

代碼下載狀態下，所述配置電源向被測器件XC95144XL和所述JTAG接口供電，所述JTAG接口的數據輸入線與被測器件XC95144XL的數據輸入端連接，所述JTAG接口的數據輸出線與被測器件XC95144XL的數據輸出端連接，所述JTAG接口的時鐘線與被測器件XC95144XL的時鐘端連接，所述JTAG接口的模式選擇線與被測器件XC95144XL的模式選擇端連接；EDA代碼通過所述JTAG接口下載至被測器件XC95144XL中，完成邏輯功能配置；

測試狀態下，測試系統V93000通過所述其中一個V93000連接器向被測器件XC95144XL提供電壓；測試系統通過所述另一個V93000連接器的各數字通道與被測器件XC95144XL的信號管腳一一對應連接。

進一步地，所述JTAG接口的數據輸出線與被測器件XC95144XL的數據輸出端連接，與所述JTAG接口的數據輸入線與被測器件XC95144XL的數據輸入端連接構成JTAG鏈。

進一步地，所述EDA代碼通過所述JTAG鏈下載至被測器件XC95144XL中。

從上面所述可以看出，本實用新型提供的測試適配器，通過將代碼下載至被測器件XC95144XL中，實現被測器件XC95144XL的測試前配置；在測試系統上對被測器件XC95144XL進行測試，實現被測器件XC95144XL的功能測試覆蓋率更大、效率更高，提高測試精度和測試效率。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的一種測試適配器的電路示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。

圖1為本實用新型實施例的一種測試適配器的電路示意圖。如圖1所示，測試適配器包括：配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器，其中，配置電源向被測器件和JTAG接口供電。配置電源外接5V/3A的直流電源，通過電壓轉換模塊生成3路電源電壓，分別是：為被測器件XC95144XL提供核電壓VCCINT和IO端口電壓VCCIO、為JTAG接口提供接口電壓VCCJ。

代碼下載狀態下，JTAG接口的數據輸入線TDI與被測器件XC95144XL的數據輸入端TDI連接，JTAG接口的數據輸出線TDO與被測器件XC95144XL的數據輸出端TDO連接，JTAG接口的時鐘線TCK與被測器件XC95144XL的時鐘端TCK連接，JTAG接口的模式選擇線TMS與被測器件XC95144XL的模式選擇端TMS連接；EDA代碼通過JTAG接口下載至被測器件XC95144XL，完成邏輯功能配置。JTAG接口的數據輸出線TDO與被測器件XC95144XL的數據輸出端TDO連接，與JTAG接口的數據輸入線TDI與被測器件XC95144XL的數據輸入端TDI連接構成JTAG鏈，EDA代碼通過JTAG鏈下載至被測器件XC95144XLXC95144XL中。