[發(fā)明專利]電源開關閘測試電路、芯片及電源開關閘測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210308213.1 | 申請日: | 2012-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN103630830A | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳朝偉;呂彥儒 | 申請(專利權)人: | 揚智科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/327 | 分類號: | G01R31/327 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電源開關 測試 電路 芯片 方法 | ||
1.一種電源開關閘測試電路,其特征在于,用于測試多條閘鏈,每一條閘鏈包括多個串接的電源開關閘,所述電源開關閘測試電路包括:
一信號產(chǎn)生電路,耦接于所述閘鏈的輸入端,用以產(chǎn)生并輸出一測試信號至所述閘鏈;以及
一檢測電路,耦接于所述閘鏈的輸出端,用以依據(jù)所述閘鏈的輸出,產(chǎn)生一測試結果。
2.如權利要求1所述的電源開關閘測試電路,其特征在于,更包括:
一反相器,其輸入端耦接于所述信號產(chǎn)生電路,其輸出端耦接于所述檢測電路;
其中所述檢測電路包括:多個或非門,每一所述或非門的第一輸入端耦接于所述反相器的輸出端,每一所述或非門的第二輸入端耦接于所述閘鏈中一對應的閘鏈的輸出端;以及
一與處理電路,包括多個耦接于所述或非門的輸出端的輸入端,用以對所述或非門的輸出進行與運算,以輸出所述測試結果。
3.如權利要求1所述的電源開關閘測試電路,其特征在于,所述檢測電路包括:
一加法器,用以對所述閘鏈的輸出進行加法運算,以輸出一累計值;以及
一比較器,比較所述累計值與一預設值,以依據(jù)比較的結果輸出所述測試結果。
4.一種芯片,其特征在于,所述芯片包括:
多條閘鏈,每一條閘鏈包括多個串接的電源開關閘;以及
一電源開關閘測試電路,包括:
一信號產(chǎn)生電路,耦接于所述閘鏈的輸入端,用以產(chǎn)生并輸出一測試信號至所述閘鏈;以及
一檢測電路,耦接于所述閘鏈的輸出端,用以依據(jù)所述閘鏈的輸出,產(chǎn)生一測試結果。
5.如權利要求4所述的芯片,其特征在于,更包括:
一反相器,其輸入端耦接于所述信號產(chǎn)生電路,其輸出端耦接于所述檢測電路;
其中所述檢測電路包括:多個或非門,每一所述或非門的第一輸入端耦接于所述反相器的輸出端,每一所述或非門的第二輸入端耦接于所述閘鏈中一對應的閘鏈的輸出端;以及
一與處理電路,包括多個耦接于所述或非門的輸出端的輸入端,用以對所述或非門的輸出進行與運算,以輸出所述測試結果。
6.如權利要求4所述的芯片,其特征在于,所述檢測電路包括:
一加法器,用以對所述閘鏈的輸出進行加法運算,以輸出一累計值;以及
一比較器,比較所述累計值與一預設值,以依據(jù)比較的結果輸出所述測試結果。
7.一種電源開關閘測試方法,用于測試多條閘鏈,其特征在于,每一條閘鏈包括多個串接的電源開關閘,所述測試方法包括:
產(chǎn)生并輸出一測試信號至所述閘鏈的輸入端;以及
依據(jù)所述閘鏈的輸出端的輸出,產(chǎn)生一測試結果。
8.如權利要求7所述的電源開關閘測試方法,其特征在于,依據(jù)所述閘鏈的輸出端的輸出,產(chǎn)生所述測試結果的步驟包括:
對所述測試信號產(chǎn)生一反相信號;
對所述閘鏈中的多個閘鏈產(chǎn)生多個或非信號,其中所述多個或非信號中的任一個或非信號是根據(jù)所述反相信號與所述閘鏈其中相應的一閘鏈的輸出端所產(chǎn)生;以及
對所述多個或非信號進行與運算,以產(chǎn)生并輸出所述測試結果。
9.如權利要求7所述的電源開關閘測試方法,其特征在于,依據(jù)所述閘鏈的輸出端的輸出,產(chǎn)生所述測試結果的步驟包括:
對所述閘鏈的輸出進行加法運算,以輸出一累計值;以及
比較所述累計值與一預設值,以依據(jù)比較的結果產(chǎn)生并輸出所述測試結果。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于揚智科技股份有限公司,未經(jīng)揚智科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.17sss.com.cn/pat/books/201210308213.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





