[發(fā)明專利]一種批量測(cè)試無(wú)線性能的方法及其裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210301662.3 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102821400A | 公開(公告)日: | 2012-12-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張德霞;于強(qiáng);馮建科;王欽利;于洪永;于洋;楊愛(ài)娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 青島積成電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04W24/00 | 分類號(hào): | H04W24/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 苗峻 |
| 地址: | 266071 山東省青島市市*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 批量 測(cè)試 無(wú)線 性能 方法 及其 裝置 | ||
1.一種批量測(cè)試無(wú)線性能的方法,其特征是:采用由非導(dǎo)電、非導(dǎo)磁材料制作的傳動(dòng)繩懸掛被測(cè)試件或?qū)⒈粶y(cè)試件放置于由至少兩根所述的傳動(dòng)繩形成的傳送帶上,然后通過(guò)所述傳動(dòng)繩或傳送帶將被測(cè)試件批量送入內(nèi)部設(shè)有無(wú)線性能測(cè)試設(shè)備的屏蔽暗室內(nèi)進(jìn)行無(wú)線性能測(cè)試,測(cè)試完成后被測(cè)試件由所述傳動(dòng)繩或傳送帶送出屏蔽暗室。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測(cè)試無(wú)線性能的方法,其特征是:所述傳動(dòng)繩或傳送帶的傳送由步進(jìn)電機(jī)控制。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的批量測(cè)試無(wú)線性能的方法,其特征是:所述傳動(dòng)繩為線狀或繩狀。
4.一種用于批量測(cè)試無(wú)線性能的裝置,其特征是:包括內(nèi)部設(shè)有無(wú)線性能測(cè)試設(shè)備的屏蔽暗室(8),傳送機(jī)構(gòu),所述屏蔽暗室(8)的一側(cè)設(shè)有暗室門(3),所述傳送機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在屏蔽暗室(8)外部的傳動(dòng)裝置,與所述傳動(dòng)裝置連接的非導(dǎo)電、非導(dǎo)磁的傳動(dòng)繩(4),所述傳動(dòng)繩(4)穿過(guò)所述暗室門(3)由屏蔽暗室(8)的一側(cè)至相對(duì)的另一側(cè)穿出并經(jīng)設(shè)置在屏蔽暗室(8)外部的導(dǎo)向輪導(dǎo)向后至所述傳動(dòng)裝置處形成封閉環(huán)路。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于批量測(cè)試無(wú)線性能的裝置,其特征是:在屏蔽暗室(8)的外部設(shè)有帶有水平導(dǎo)軌(9)的支架(10),所述暗室門(3)滑動(dòng)設(shè)置在所述水平導(dǎo)軌(9)上,所述傳動(dòng)繩(4)與所述暗室門(3)固定連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的用于批量測(cè)試無(wú)線性能的裝置,其特征是:所述傳動(dòng)裝置采用步進(jìn)電機(jī)作為動(dòng)力機(jī)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的用于批量測(cè)試無(wú)線性能的裝置,其特征是:所述傳動(dòng)繩為線狀或繩狀。
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