[發明專利]GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池及其制備方法有效
| 申請號: | 201210249553.1 | 申請日: | 2012-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN102790119A | 公開(公告)日: | 2012-11-21 |
| 發明(設計)人: | 趙勇明;董建榮;李奎龍;孫玉潤;于淑珍;楊輝 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0687 | 分類號: | H01L31/0687;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 孫佳胤;翟羽 |
| 地址: | 215125 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | gainp gaas ge 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能電池領域,尤其涉及GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池及其制備方法。
背景技術
在太陽能電池領域,如何實現對太陽全光譜的充分吸收、提高光生載流子的產生效率和促進電子-空穴分離,一直是提高太陽能電池效率的核心關鍵問題。目前的太陽能電池結構設計基本上基于以下兩種考慮:一是優先考慮晶格匹配而將光電流匹配放在次要的位置。但晶格匹配的電池結構由于其確定的帶隙能量,限制了太陽能電池的光電流匹配,使得它不能實現對太陽光的全光譜吸收利用。二是優先考慮多結結構的光電流匹配而采用晶格失配的生長方式,而晶格失配生長的材料由于晶體質量差,難以得到高轉化效率的電池。目前研究較多而且技術較為成熟的體系是GaInP/GaAs/Ge三結電池,該材料體系在一個太陽下目前達到的最高轉換效率為32-33%。該三結電池中Ge電池覆蓋較寬的光譜,其短路電流最大可達到另外兩結電池的2倍多,由于受三結電池串聯的制約,Ge電池對應的太陽光譜的能量沒有被充分轉換利用,所以該三結電池的效率還有改進的空間。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是,提供GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池及其制備方法。
為了解決上述問題,本發明提供了一種GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池,包括Ge襯底層,以及在所述Ge襯底層上依次設置的第一Ge子電池、第一隧穿結、第二Ge子電池、第二隧穿結、GaAs子電池、第三隧穿結、GaInP子電池和(In)GaAs或Ge的接觸層。
所述的GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池,進一步包括材料為InGaAs的第一緩沖層和InGaAs的第二緩沖層,所述第一緩沖層位于第一Ge子電池和第一隧穿結之間,第二緩沖層位于第一隧穿結和第二Ge子電池之間。
所述第一Ge子電池包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為Ge的第一發射區和Al(Ga)InP的第一窗口層。
所述第一隧穿結、第二隧穿結均包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為AlGaAs或Al(Ga)InP的勢壘層、InGaAs的摻雜層、InGaAs的摻雜層以及AlGaAs或Al(Ga)InP的勢壘層。
所述第二Ge子電池包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為GaInP的第二背場層、Ge的第二基區、Ge的第二發射區和Al(Ga)InP的第二窗口層。
所述GaAs子電池包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為Al(Ga)InP的第三背場層、GaAs的第三基區、GaAs的第三發射區以及Al(Ga)InP的第三窗口層。
所述第三隧穿結包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為AlGaAs或Al(Ga)InP的勢壘層、GaInP的摻雜層、AlGaAs的摻雜層以及材料為AlGaAs或Al(Ga)InP的勢壘層。
所述GaInP子電池包含依次按照逐漸遠離Ge襯底層方向設置的材料為Al(Ga)InP的第四背場層、GaInP的第四基區、GaInP的第四發射區以及Al(Ga)InP的第四窗口層。
為了解決上述問題,本發明還提供了一種所述的GaInP/GaAs/Ge/Ge四結太陽能電池的制備方法,包括步驟:1)提供一Ge襯底層;2)在Ge襯底層表面生長第一Ge子電池;3)在第一Ge子電池表面生長第一隧穿結;4)在第一隧穿結表面生長第二Ge子電池;5)在第二Ge子電池表面生長第二隧穿結;6)在第二隧穿結表面生長GaAs子電池;7)在GaAs子電池表面生長第三隧穿結;8)在第三隧穿結表面生長GaInP子電池;9)在GaInP子電池表面生長接觸層。
所述步驟2)和3)之間進一步包括步驟:在第一Ge子電池和第一隧穿結之間生長第一緩沖層,所述步驟3)與4)之間進一步包括步驟:在第一隧穿結和第二Ge子電池之間生長第二緩沖層。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所,未經中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.17sss.com.cn/pat/books/201210249553.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





