1.一種硬度計，其利用壓頭對放置于試樣臺上的試樣的表面施加預定的測試力以形成壓痕，并且測量所述壓痕的尺寸以測量所述試樣的硬度，所述硬度計包括：

攝像控制部，用于控制攝像部拍攝所述試樣的表面的圖像，以獲得所述試樣的表面的拍攝圖像數據；

壓痕區域提取部，用于對所述拍攝圖像數據進行二值化、對二值化后的圖像數據進行縮減和擴展、并且對縮減和擴展后的圖像數據進行距離轉換，以使用距離轉換后的圖像數據來提取與所述壓頭的形狀相對應的封閉區域；

壓痕頂點提取部，用于基于所提取的封閉區域來提取壓痕測量用頂點，所述壓痕測量用頂點用于測量所述壓痕的尺寸；以及

硬度計算部，用于基于所提取的壓痕測量用頂點來計算所述試樣的硬度，

其中，所述壓痕區域提取部基于二值化后的圖像數據來判斷是否提取到了候選壓痕區域，并且在判斷為沒有提取到所述候選壓痕區域的情況下，基于所述拍攝圖像數據的亮度值來獲得曲率圖像數據、對所獲得的曲率圖像數據進行二值化、并且對二值化后的曲率圖像數據進行縮減和擴展、對縮減和擴展后的曲率圖像數據進行距離轉換、并且使用距離轉換后的曲率圖像數據來提取所述封閉區域。

2.根據權利要求1所述的硬度計，其特征在于，所述壓痕區域提取部對所述拍攝圖像數據的亮度值進行高斯濾波，計算高斯濾波后的圖像數據的微分值，使用所計算出的微分值以像素為單位計算海森矩陣，并且獲得以所計算出的海森矩陣的絕對值作為像素值的所述曲率圖像數據。

3.根據權利要求1所述的硬度計，其特征在于，所述壓痕區域提取部參考所述拍攝圖像數據判斷是否需要明暗校正，并且在判斷為需要所述明暗校正時，對所述拍攝圖像數據進行所述明暗校正。

4.根據權利要求2所述的硬度計，其特征在于，所述壓痕區域提取部參考所述拍攝圖像數據判斷是否需要明暗校正，并且在判斷為需要所述明暗校正時，對所述拍攝圖像數據進行所述明暗校正。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的硬度計，其特征在于，還包括顯示控制部，所述顯示控制部用于控制顯示部顯示所計算出的所述試樣的硬度。

6.一種硬度計，其利用壓頭對放置于試樣臺上的試樣的表面施加預定的測試力以形成壓痕，并且測量所述壓痕的尺寸以測量所述試樣的硬度，所述硬度計包括：

攝像控制部，用于控制攝像部拍攝所述試樣的表面的圖像，以獲得所述試樣的表面的拍攝圖像數據；

壓痕區域提取部，用于基于所述拍攝圖像數據的亮度值來獲得曲率圖像數據，并且參考所獲得的曲率圖像數據來提取曲率小于預定值的平坦部作為壓痕區域；以及

硬度計算部，用于基于所述壓痕區域來計算所述試樣的硬度。

7.一種硬度測試方法，其利用壓頭對放置于試樣臺上的試樣的表面施加預定的測試力以形成壓痕，并且測量所述壓痕的尺寸以測量所述試樣的硬度，所述硬度測試方法包括：

攝像控制步驟，用于控制攝像部拍攝所述試樣的表面的圖像，以獲得所述試樣的表面的拍攝圖像數據；

壓痕區域提取步驟，用于對所述拍攝圖像數據進行二值化、對二值化后的圖像數據進行縮減和擴展、并且對縮減和擴展后的圖像數據進行距離轉換，以使用距離轉換后的圖像數據來提取與所述壓頭的形狀相對應的封閉區域；

壓痕頂點提取步驟，用于基于所提取的封閉區域來提取壓痕測量用頂點，所述壓痕測量用頂點用于測量所述壓痕的尺寸；

以及

硬度計算步驟，用于基于所提取的壓痕測量用頂點來計算所述試樣的硬度，

其中，在所述壓痕區域提取步驟中，基于二值化后的圖像數據來判斷是否提取到了候選壓痕區域，并且在判斷為沒有提取到所述候選壓痕區域的情況下，基于所述拍攝圖像數據的亮度值來獲得曲率圖像數據、對所獲得的曲率圖像數據進行二值化、并且對二值化后的曲率圖像數據進行縮減和擴展、對縮減和擴展后的曲率圖像數據進行距離轉換、并且使用距離轉換后的曲率圖像數據來提取所述封閉區域。

8.一種硬度測試方法，其利用壓頭對放置于試樣臺上的試樣的表面施加預定的測試力以形成壓痕，并且測量所述壓痕的尺寸以測量所述試樣的硬度，所述硬度測試方法包括：

攝像控制步驟，用于控制攝像部拍攝所述試樣的表面的圖像，以獲得所述試樣的表面的拍攝圖像數據；

壓痕區域提取步驟，用于基于所述拍攝圖像數據的亮度值獲得曲率圖像數據，并且參考所獲得的曲率圖像數據來提取曲率小于預定值的平坦部作為壓痕區域；以及

硬度計算步驟，用于基于所述壓痕區域來計算所述試樣的硬度。