[發明專利]一種基于改進的FERRET的礦巖塊度測量方法有效
| 申請號: | 201210243166.7 | 申請日: | 2012-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN102798583A | 公開(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發明(設計)人: | 王衛星 | 申請(專利權)人: | 長安大學 |
| 主分類號: | G01N15/02 | 分類號: | G01N15/02;G01B11/24 |
| 代理公司: | 西安恒泰知識產權代理事務所 61216 | 代理人: | 史玫 |
| 地址: | 710064*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 改進 ferret 礦巖塊度 測量方法 | ||
1.一種基于改進的FERRET的礦巖塊度測量方法,其特征在于,具體按下述步驟進行:
步驟一,對二值區域對象進行礦巖塊度的邊緣去噪,即進行數學形態學的開運算,得到平滑圖像;
步驟二,掃描平滑圖像,對圖像中的所有的礦巖塊度物體進行標號,得到標號圖像;
步驟三,掃描標號圖像,計算每一標號物體的0階轉動慣量、1階轉動慣量和2階轉動慣量;
步驟四,依據步驟三中計算的0階轉動慣量、1階轉動慣量和2階轉動慣量確定每一標號物體的面積、質心、主軸方向及次軸方向:
步驟五,以確定的主軸方向和次軸方向為基準,采用平行直線逼近法作每一標號物體的FERRET矩形:在主軸方向上,兩條平行于主軸方向的直線L1和直線L2分別沿垂直于主軸方向的方向相向平移,當平移的直線與標號物體的輪廓線相交一點時,停止平移;同理,兩條與標號物體的次軸方向平行的直線L3和直線L4分別沿垂直于次軸方向的方向相向平移,當平移的直線與標號物體的輪廓線相交一點時,停止平移,最終四條直線相交構成一初始矩形,該初始矩形與標號物體共有N個相交點,N≥4:
當N=4時,該初始矩形為FERRET矩形;
當N>4時,即標號物體的輪廓線上存在有(N-4)條單像素延伸直線,分別計算每條單像素延伸直線與初始矩形相交點的邊界條件τ,m為單像素延伸直線與初始矩形相交點的長度像素數,M為初始矩形長度像素數;分別比較每條單像素延伸直線與初始矩形相交點的邊界條件與閾值T的大小,當所有單像素延伸直線與初始矩形相交點的邊界條件均大于閾值T時,該初始矩形為FERRET矩形,否則,將初始矩形中的直線L1和直線L2分別沿垂直于主軸方向的方向相對平移,并將直線L3和直線L4分別沿垂直于次軸方向的方向相對平移,直至所有單像素延伸直線與初始矩形相交點的邊界條件均大于閾值T時得到FERRET矩形,其中:5%≤T≤6%;
步驟六,計算每一標號物體的FERRET矩形參數,得出FERRET矩形的長L和寬W,其中FERRET矩形的長L作為標號物體的長,FERRET矩形的寬W作為標號物體的寬,計算FERRET矩形的寬長比W/L,將W/L作為標號物體的第一形狀參數,計算標號物體面積A與FERRET矩形面積B的比值A/B,將A/B作為標號物體的第二形狀參數。
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