技術領域

本發明涉及一種預測磁盤裝置、光磁盤裝置等盤存儲裝置、或冷卻風扇、壓電背光燈電源等利用了機械性機構的裝置的故障的故障預測裝置、故障預測方法及故障預測程序。

背景技術

因特網技術的發展對計算機裝置等精密電子設備的數字信息技術的普及作出了貢獻，提高了使用者的方便性。在計算機裝置等電子設備中搭載有上述的磁盤裝置、光磁盤裝置等盤存儲裝置、或冷卻風扇、壓電背光燈電源等利用了機械性機構的裝置。例如，計算機用的磁盤裝置由記錄介質、磁頭、滑塊、磁頭臂、音圈電機等構成。磁盤裝置在高密度化、大容量化的同時，為了處理重要的圖像、動畫數據、解析數據等信息量而要求較高的可靠性。但是，盤存儲裝置由于具有較多的機構配件、機構部位，因此和半導體存儲裝置相比，故障率較高。因與多次動作相伴的機構部、機構部位的老化造成的故障或突發性故障，導致丟失重要的信息數據，存在用戶受到經濟上及心理上損失的危險性。因此，近年來，存儲裝置的故障預測的開發正積極推進。

與磁盤裝置的故障預測相關的技術公開于專利文獻1中。圖6是表示專利文獻1中記載的磁盤裝置的概要構成的框圖。在圖6中，磁盤裝置201作為與故障預測相關的裝置而具有：自動放大調節器（AGC:Automatic?Gain?Control：自動增益控制）的讀取信道206、存儲器209、盤介質215、磁頭監視部217、故障預測部218。

該自動放大調節器（AGC）是指下述調節機構：從盤介質215讀出伺服數據時，自動放大從磁頭輸出的信號。例如，若磁頭浮起并離開盤介質215，則產生于磁頭前端的磁場對盤介質215的作用減弱，從而自動放大來自磁頭的輸出信號。故障預測部218根據AGC的信號輸出強度是否在規定范圍內即是否為能夠正常讀寫的狀態時的放大率，檢測磁頭的異常浮起。

接著，說明專利文獻1記載的磁盤裝置的故障預測動作。磁頭監視部217在測定磁頭的異常浮起次數的一定時序到來時，對設置在盤介質215內的部分測定區域，監視讀取信道216內所具有的AGC的值而測定。故障預測部218在磁頭監視部217中測定的AGC的值大于盤介質215中記錄的AGC基準值時，檢測出磁頭異常浮起。故障預測部218將磁頭的異常浮起累積次數、和定期進行的各測定時間區分（例如，按照測定時間從遠到近的順序為區分A、B、C及D）的異常浮起次數，保存到存儲器209中。故障預測部218根據存儲器209中保存的測定數據，制作由距出廠時的測定時間區分和異常浮起次數構成的圖表。故障預測部218計算出異常浮起次數是否有增加傾向，或者異常浮起次數距出廠時的累積次數是否超過閾值。

故障預測部218在異常浮起次數有增加傾向時，確認存儲器209中記錄的上一次測定時的磁頭的異常浮起次數是否有增加傾向。故障預測部218在上一次測定時磁頭的異常浮起次數也有增加傾向時，認為發生故障的可能性較高而發出警告。

故障預測部218在異常浮起次數沒有增加傾向時，確認存儲器209中記錄的異常浮起次數的累積次數是否超過閾值。故障預測部218在異常浮起次數的累積次數超過閾值時，認為發生故障的可能性較高而發出警告。

以上是與在專利文獻1中公開的磁盤裝置中的故障預測相關的技術。與其他故障預測相關的技術在專利文獻2中公開。專利文獻2中公開了一種檢測出來自軸承的AE（Acoustic?Emission：聲發射）而診斷異常的軸承異常檢測裝置。AE是指材料變形或發生龜裂時，材料將積蓄在內部的應變能量作為彈性波而放出的現象。

使用圖7說明專利文獻2記載的軸承異常檢測裝置的構成。在圖7中，軸承異常檢測裝置具有：峰值保持電路306、基準值發生器307、比較器308、A/D轉換器310、CPU（中央處理裝置）311。省略和異常檢測沒有直接關系的裝置的說明。

接著，說明專利文獻2記載的軸承異常檢測裝置中的異常檢測動作。峰值保持電路306檢測出AE信號時，檢測并保持該AE信號的峰值，并向A/D轉換器310及比較器308輸出峰值。比較器308比較基準值發生器307產生的基準值、和來自峰值保持電路306的峰值，當峰值超過基準值時，將觸發信號輸出到A/D轉換器310和CPU311。