[發明專利]配置參數的檢驗無效
| 申請號: | 201110448549.3 | 申請日: | 2011-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN102545324A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 奧德·約斯泰因·斯文斯利;阿爾內·阿斯 | 申請(專利權)人: | 愛特梅爾公司 |
| 主分類號: | H02J7/00 | 分類號: | H02J7/00;H02H7/18;G01R31/36 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287 | 代理人: | 劉國偉 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 配置 參數 檢驗 | ||
1.一種電池管理系統,其包含:
存儲器,其存儲配置參數群組的值;及
處理器,其耦合到所述存儲器且經配置以從所述電池管理系統中的寄存器讀取所述值,產生關于所述值的錯誤檢測數據,將所述所產生錯誤檢測數據與所述值的對應的先前產生的錯誤檢測數據進行比較;且基于所述比較的結果執行行動。
2.根據權利要求1所述的系統,其中所述錯誤檢測數據為校驗和。
3.根據權利要求1所述的系統,其中所述電池管理系統包括在電池組中。
4.根據權利要求1所述的系統,其中基于所述比較的結果執行行動進一步包含:
執行停用電池操作、存儲失敗的通知、將所述失敗通知給應用程序、起始所述系統的復位及再次校驗所述值中的至少一者。
5.根據權利要求1所述的系統,其中所述值包括電壓參考及振蕩器頻率中的至少一者的值。
6.根據權利要求1所述的系統,其中所述值包括最大及最小單元電壓、最大電流電平、最大及最小單元溫度以及時序中的至少一者的值。
7.根據權利要求1所述的系統,其中所述值包括模擬特性的值。
8.一種在電池管理系統中檢驗配置參數的方法,其包含:
產生參數群組的錯誤檢測數據;
將所述錯誤檢測數據與所述參數群組的對應的先前產生的錯誤檢測數據進行比較;及
基于所述比較的結果執行行動。
9.根據權利要求8所述的方法,其中所述錯誤檢測數據為校驗和。
10.根據權利要求8所述的方法,其中基于所述比較的結果執行行動進一步包含:
執行停用電池操作、存儲失敗的通知、將所述失敗通知給應用程序、起始所述系統的復位及再次校驗所述值中的至少一者。
11.根據權利要求8所述的方法,其中所述值包括電壓參考及振蕩器頻率中的至少一者的值。
12.根據權利要求8所述的方法,其中所述值包括最大及最小單元電壓、最大電流電平、最大及最小單元溫度以及時序中的至少一者的值。
13.根據權利要求8所述的方法,其中所述值包括模擬特性的值。
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